本发明专利技术提供一种FPC连接器检测用光学影像测量设备，涉及测量仪器领域，包括设备底座，所述设备底座顶部滑动连接有X轴移动平台，X轴移动平台顶部滑动连接有Y轴移动平台，Y轴移动平台顶部中间处铰接有，设备底座后侧安装有U型支架，U型支架底部前端安装有辅助光源，U型支架顶部后侧安装有中央控制器，U型支架顶部前端滑动连接有Z轴升降台，Z轴升降台底部连接有封存盖，通过在Z轴升降台底部滑动连接封存盖，使封存盖能够对光学镜头起到保护作用，防止光学镜头出现磕碰，且能够在光学镜头不使用时，防止灰尘的附着，避免光学镜头污损，解决FPC连接器检测时的固定问题以及光学影像测量设备的光学镜头附着灰尘和磕碰的问题。的光学镜头附着灰尘和磕碰的问题。的光学镜头附着灰尘和磕碰的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种FPC连接器检测用光学影像测量设备
[0001]本专利技术涉及测量仪器
，特别涉及一种FPC连接器检测用光学影像测量设备。
技术介绍
[0002]光学影像测量仪器是集光学、机械、电子和计算机图像处理技术于一体的高精度、高效率、高可靠性的测量仪器，用于FPC连接器以及PCB板材等的检测测量，而光学影像测量仪器在对FPC连接器进行测量的过程中出现了一些不足之处。
[0003]基于上述，现有光学影像测量设备存在以下不足之处：1、光学影像测量仪器在检测时通常将FPC放置在玻璃面板上，由于玻璃面板较为光滑，在FPC连接器的检测过程中，FPC连接器常会出现滑动，造成光学镜头对同一位置反复取样检测，导致检测准确性降低，并且滑动的FPC连接器容易将玻璃面板刮花。
[0004]2、在光学影像测量仪器检测过程中，由于光学镜头有没有保护措施，光学镜头容易附着灰尘以及受到磕碰，从而使光学镜头表面出现花纹变得模糊，以至于影响到检测的采样工作。
技术实现思路
[0005]有鉴于此，本专利技术提供一种FPC连接器检测用光学影像测量设备，其通过在Z轴升降台底部滑动连接封存盖，使封存盖能够对光学镜头起到保护作用，防止光学镜头出现磕碰，且能够在光学镜头不使用时，防止灰尘的附着，避免光学镜头污损，通过磁性玻璃板上侧吸连接的磁性固定片，能够对不同尺寸的FPC连接器进行固定操作，从而防止FPC连接器在磁性玻璃板上滑动，从而能够防止光学镜头对同一位置反复取样检测，提高光学镜头对FPC连接的尺寸检测准确性。
[0006]本专利技术提供了一种FPC连接器检测用光学影像测量设备的目的与功效，具体包括：设备底座，所述设备底座顶部滑动连接有X轴移动平台，X轴移动平台顶部滑动连接有Y轴移动平台，Y轴移动平台顶部中间处铰接有摆动架，设备底座后侧安装有U型支架，U型支架底部前端安装有辅助光源，U型支架顶部后侧安装有中央控制器，U型支架顶部前侧端面中安装有驱动电机，驱动电机与传动蜗轮传动连接，U型支架顶部前端滑动连接有Z轴升降台，Z轴升降台底部连接有封存盖。
[0007]进一步的，所述设备底座的顶部前后侧端面中开设有平移导轨，平移导轨的左右侧壁中转动连接有驱动螺杆，两个驱动螺杆左端通过传动皮带相连接，设备底座顶部前侧转动连接的驱动螺杆左端与X轴电机的驱动轴相连接，设备底座的中间处设置有“T”型的平台支架，U型支架底部安装在平台支架顶部后侧。
[0008]进一步的，所述X轴移动平台的底部端面前后两侧设置有平移滑块，平移滑块滑动连接在设备底座的平移导轨中，平移滑块螺纹连接在平移导轨的驱动螺杆上，X轴移动平台的顶部端面左右两侧开设有滑移导轨，滑移导轨的前后侧壁中转动连接有驱动螺杆，两个
驱动螺杆前端通过传动皮带相连接，X轴移动平台顶部右侧转动连接的驱动螺杆前端与Y轴电机的驱动轴相连接，X轴移动平台的左右侧壁上对称设置有齿凸块。
[0009]进一步的，所述Y轴移动平台的底部左右两侧设置有滑移滑块，滑移滑块滑动连接在X轴移动平台的滑移导轨中，滑移滑块螺纹连接在滑移导轨的驱动螺杆上，Y轴移动平台的中间处设置有磁性玻璃板，磁性玻璃板顶部磁吸连接有磁性固定片，Y轴移动平台的顶部端面左右两侧设置有阻尼轴孔，摆动架底部左右两端转轴转动连接在阻尼轴孔中，Y轴移动平台的后侧壁上设置有存放盒，存放盒底部中间处设置有按压开关。
[0010]进一步的，所述摆动架的底部转轴外侧壁上均设置有偏转齿轮，偏转齿轮与X轴移动平台上齿凸块间歇啮合，摆动架顶部端面中间处设置有磁吸插片。
[0011]进一步的，所述U型支架的顶部前侧壁中开设有导向滑槽，导向滑槽呈“十”字状，导向滑槽后侧的U型支架的架体中安装有驱动电机，驱动电机的驱动轴前端设置有驱动蜗杆，驱动蜗杆顶部与传动蜗轮底部啮合连接，传动蜗轮左侧与主控齿轮同轴连接。
[0012]进一步的，所述Z轴升降台后侧壁上设置有导向滑块，导向滑块后侧壁中间处设置有主控齿条，导向滑块与主控齿条滑动连接在U型支架的导向滑槽中，主控齿条后侧与传动蜗轮右侧的主控齿轮啮合连接，Z轴升降台的底部设置有光学镜头，光学镜头的左右两侧Z轴升降台端面中开设有梯形滑槽，光学镜头前侧的Z轴升降台端面上设置有挡块。
[0013]进一步的，所述封存盖顶部左右两侧设置有梯形滑块，梯形滑块滑动连接在Z轴升降台底部的梯形滑槽中，封存盖的底部端面前侧开设有连接插槽。
[0014]与现有技术相比，本专利技术的有益效果如下：1. 通过在Z轴升降台底部滑动连接封存盖，使封存盖能够对光学镜头起到保护作用，防止光学镜头出现磕碰，且能够在光学镜头不使用时，防止灰尘的附着，避免光学镜头污损。
[0015]2. 通过磁性玻璃板上侧吸连接的磁性固定片，能够对不同尺寸的FPC连接器进行固定操作，从而防止FPC连接器在磁性玻璃板上滑动，从而能够防止光学镜头对同一位置反复取样检测，提高光学镜头对FPC连接的尺寸检测准确性，同时防止FPC连接器将磁性玻璃板刮花。
[0016]3. 通过摆动架跟随Y轴移动平台的滑动，使摆动架的偏转齿轮与X轴移动平台上齿凸块啮合，从而控制摆动架从贴合在Y轴移动平台前侧顶部变成垂直于Y轴移动平台以及从垂直于Y轴移动平台变成贴合在Y轴移动平台后侧顶部两种状态之间进行切换，以便通过摆动架将封存盖从Z轴升降台底部取下并进行存放，提高封存盖的拿取方便性。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术的实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍。
[0018]下面描述中的附图仅仅涉及本专利技术的一些实施例，而非对本专利技术的限制。
[0019]在附图中：图1是本专利技术的实施例的光学影像测量设备的右前侧轴视结构示意图；图2是本专利技术的实施例的光学影像测量设备的整体拆分右前侧轴视结构示意图；图3是本专利技术的实施例的光学影像测量设备的图2的A处放大结构示意图；
图4是本专利技术的实施例的光学影像测量设备的整体拆分左后侧轴视结构示意图；图5是本专利技术的实施例的光学影像测量设备的图4的B处放大结构示意图；图6是本专利技术的实施例的光学影像测量设备的Z轴升降台左后侧轴视结构示意图；图7是本专利技术的实施例的光学影像测量设备的Y轴移动平台结构示意图；图8是本专利技术的实施例的光学影像测量设备的Z轴升降台与封存盖拆分结构示意图。
[0020]附图标记列表1、设备底座；101、平移导轨；102、平台支架；2、X轴电机；3、驱动螺杆；4、传动皮带；5、X轴移动平台；501、平移滑块；502、滑移导轨；503、齿凸块；6、Y轴电机；7、Y轴移动平台；701、滑移滑块；702、磁性玻璃板；703、阻尼轴孔；704、存放盒；705、按压开关；8、磁性固定片；9、摆动架；901、偏转齿轮；902、磁吸插片；10、U型支架；1001、导向滑槽；11、中央控制器；12、驱动电机；1201、驱动蜗杆；13、传动蜗轮；1301、主控齿轮；14、Z轴升降台；1401、导向滑块；1402、主控齿条；1403、光学镜头；1404、梯形滑槽；1405、挡本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种FPC连接器检测用光学影像测量设备，包括设备底座（1），其特征在于：所述设备底座（1）顶部滑动连接有X轴移动平台（5），X轴移动平台（5）顶部滑动连接有Y轴移动平台（7），Y轴移动平台（7）顶部中间处铰接有摆动架（9），设备底座（1）后侧安装有U型支架（10），U型支架（10）底部前端安装有辅助光源（15），U型支架（10）顶部后侧安装有中央控制器（11），U型支架（10）顶部前侧端面中安装有驱动电机（12），驱动电机（12）与传动蜗轮（13）传动连接，U型支架（10）顶部前端滑动连接有Z轴升降台（14），Z轴升降台（14）底部连接有封存盖（16）。2.如权利要求1所述一种FPC连接器检测用光学影像测量设备，其特征在于：所述设备底座（1）的顶部前后侧端面中开设有平移导轨（101），平移导轨（101）的左右侧壁中转动连接有驱动螺杆（3），两个驱动螺杆（3）左端通过传动皮带（4）相连接，设备底座（1）顶部前侧转动连接的驱动螺杆（3）左端与X轴电机（2）的驱动轴相连接，设备底座（1）的中间处设置有“T”型的平台支架（102），U型支架（10）底部安装在平台支架（102）顶部后侧。3.如权利要求1所述一种FPC连接器检测用光学影像测量设备，其特征在于：所述X轴移动平台（5）的底部端面前后两侧设置有平移滑块（501），平移滑块（501）滑动连接在设备底座（1）的平移导轨（101）中，平移滑块（501）螺纹连接在平移导轨（101）的驱动螺杆（3）上，X轴移动平台（5）的顶部端面左右两侧开设有滑移导轨（502），滑移导轨（502）的前后侧壁中转动连接有驱动螺杆（3），两个驱动螺杆（3）前端通过传动皮带（4）相连接，X轴移动平台（5）顶部右侧转动连接的驱动螺杆（3）前端与Y轴电机（6）的驱动轴相连接，X轴移动平台（5）的左右侧壁上对称设置有齿凸块（503）。4.如权利要求1所述一种FPC连接器检测用光学影像测量设备，其特征在于：所述Y轴移动平台（7）的底部左右两侧设置有滑移滑块（701），滑移滑块（701）滑动连接在X轴移动平台（5）的滑移导轨（502）中，滑移滑块（701）螺纹连接在滑移导轨（502）的驱动螺杆（3）上，Y...
【专利技术属性】
技术研发人员：缪峰，
申请(专利权)人：缪峰，
类型：发明
国别省市：
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