本发明专利技术涉及二极管加工技术领域，具体是涉及一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，包括机架和设置于机架上的视觉检测组件、检测架、检测盘、升降架、卸料槽和导料组件；检测架上设置有安装板，安装板上设置有安装槽；检测盘位于安装槽内，检测盘上设置有多个检测槽，每个检测槽内均设置有夹持组件；升降架上设置有多个贯通槽和贯通槽内的驱动组件；卸料槽上设置有两个卸料口；通过检测组件对于多个被检测件进同步的检测，提高检测的效率，同时通过多个驱动组件能针对检测不合格的被检测件进行独立的驱动，通过升降架对于合格的被检测件进行同步驱动，使得被检测件能更好的分开收集，提高设备对于被检测件的检测效率和分拣效率。分拣效率。分拣效率。
【技术实现步骤摘要】
一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置
[0001]本专利技术涉及二极管加工
，具体是涉及一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置。
技术介绍
[0002]发光二极管，简称为LED，是一种常用的发光器件，通过电子与空穴复合释放能量发光，它在照明领域应用广泛，发光二极管可高效地将电能转化为光能，现有的发光二极管在加工组装时，需要对内部的晶片进行检测，来检测晶片成品是否存在质量问题，由于晶片的尺寸较小，现有的检测方式都是人工在显微镜下检测，效率较低，不利于快速检测，中国专利CN217595212U公开了一种发光二极管加工用晶片检测装置，包括检测箱，所述检测箱内贯穿设置有传输带，所述传输带外接驱动机构，所述传输带顶部设置有芯片槽，所述检测箱外顶部设置有电路机箱，所述电路机箱内顶部设置有图像分析系统，所述图像分析系统外部一侧设置有第一检测模块，所述图像分析系统下方一侧设置有第二检测模块；此专利通过设计一个由检测箱、传输带、第一检测模块、第二检测模块、图像分析系统、翻转电机、吸盘以及旋转电机等组件构成的新型芯片检测装置，可实现对发光二极管晶体芯片的连续检测分拣，将不符合工艺要求成品芯片筛选出来，替代了人工手动镜检，提高了检测的效率，有利于发光二极管的高效生产，但是其在检测时只能针对一个发光二极管进行检测，检测效率较低，同时在分拣时也是逐一将发光二极管从传输设备上取出，后续还需将二极管从芯片槽中取出，增加了工作的流程，使得设备整体效率较低。
技术实现思路
[0003]针对上述问题，提供一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，通过检测组件对于多个被检测件进同步的检测，提高检测的效率，同时通过多个驱动组件能针对检测不合格的被检测件进行独立的驱动，通过升降架对于合格的被检测件进行同步驱动，使得被检测件能更好的分开收集，提高设备对于被检测件的检测效率和分拣效率。
[0004]为解决现有技术问题，一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，包括机架，机架上设置有视觉检测组件、检测架、检测盘、升降架、卸料槽和导料组件；检测架位于机架的上方；检测架的底部设置有安装板，安装板上设置有贯穿与其的安装槽；检测盘位于安装槽内，检测盘上设置有多个呈矩形整列排布的检测槽，且多个检测槽均贯穿通过检测盘，检测槽用于放置被检测件；每个检测槽内均设置有用于对被检测件进行限位的夹持组件；视觉检测组件位于视觉检测组件的顶部，视觉检测组件用于同步对所有检测槽内的被检测件进行检测；升降架能沿机架的高度方向滑动的位于机架上，且升降架位于机架和检测盘之间，升降架用于同步带动所有夹持组件驱动；
升降架上设置有与检测槽的数量相同且一一对应的贯通槽，每个贯通槽的旁侧还设置有用于带动夹持组件的驱动组件；卸料槽固定连接于机架上且位于升降架的下方，卸料槽上设置有两个卸料口；导料组件位于卸料槽内，且导料组件位于两个卸料口之间，导料组件与升降架传动连接，导料组件用于对落入卸料槽内的被检测件进行导向，使得被检测件落入不同的卸料口内。
[0005]优选的，检测槽内的设置有两个以其中心点呈中心对称的滑槽，夹持组件包括两个夹持臂，两个夹持臂能相对滑动的位于两个滑槽上，且两个夹持臂的滑动方向相互平行。
[0006]优选的，夹持组件还包括用于同时驱动两个夹持臂的驱动架，驱动架能沿机架的高度方向滑动的位于检测槽的下方，驱动架上设置有两个倾斜设置有导向轴，两个夹持臂上设置有与导向轴相互匹配的通孔，导向轴与通孔滑动配合，通孔的轴线与导向轴的轴线相互平行，驱动架的中央设置有与检测槽相互匹配的方槽。
[0007]优选的，检测槽的下方设置有两个呈竖直状态的导向杆，两个导向杆的轴线相互平行，两个导向杆的底部均设置有限位板，驱动架能滑动的套设于两个导向杆上。
[0008]优选的，两个导向轴上均套设有弹性件，弹性件位于检测盘与驱动架之间。
[0009]优选的，贯通槽上设置有多个向其中心延伸的凸块，凸块与驱动架的方槽相互匹配，机架上设置有四个均呈竖直状态的导杆，四个导杆分别位于卸料槽的四个端角上，升降架能滑动的位于四个导杆上，机架的下方设置有用于带动升降架的直线驱动器。
[0010]优选的，驱动组件包括两个电磁铁和两个磁吸块，两个磁吸块固定连接于驱动架的底部，当电磁铁通电时，电磁铁与磁吸块相互排斥，相互两个电磁铁呈镜像对称状态位于贯通槽上其中两个凸块上，升降架上还设置有用于控制所有驱动组件的控制盒，控制盒与视觉检测组件连通。
[0011]优选的，卸料槽的底板呈倾斜设置，两个卸料口位于卸料槽上水平位置较低的一侧，导料组件包括旋转轴和导料板，旋转轴能转动的位于卸料槽上两个卸料口之间，导料板的其中一端套设于旋转轴上，旋转轴的顶部设置有与升降架传动连接的传动组件。
[0012]优选的，传动组件包括传动轴、第一锥齿轮、驱动轴、第一齿轮和第二锥齿轮，传动轴位于旋转轴的上方且与其传动连接，第一锥齿轮套设于传动轴上，驱动轴呈水平状态位于传动轴的上方，且驱动轴的轴线与传动轴的轴线相互垂直，第二锥齿轮和第一齿轮分别套设于驱动轴的两端上，第二锥齿轮与第一锥齿轮啮合连接，升降架上设置有与第一齿轮相互匹配的齿条，齿条呈竖直状态设置，齿条与第一齿轮啮合连接。
[0013]优选的，两个卸料口之间还设置向外延伸的隔板，卸料槽的两个内壁上还设置有用于阻挡导料板移动的抵接块，两个卸料口的下方均设置有收集盒。
[0014]本专利技术相比较于现有技术的有益效果是：本专利技术通过检测组件对于多个被检测件进同步的检测，提高检测的效率，同时通过多个驱动组件能针对检测不合格的被检测件进行独立的驱动，通过升降架对于合格的被检测件进行同步驱动，使得被检测件能更好的分开收集，提高设备对于被检测件的检测效率和分拣效率。
附图说明
[0015]图1是一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置的立体结构示意图。
[0016]图2是一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置的剖面结构示意图。
[0017]图3是一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置中检测架和检测盘的立体结构示意图。
[0018]图4是一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置中检测架的立体结构示意图。
[0019]图5是一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置中机架的立体结构示意图。
[0020]图6是一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置中机架和导料组件的正视图。
[0021]图7是一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置中机架和导料组件的剖面结构示意图。
[0022]图8是一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置中机架的立体结构示意图。
[0023]图9是一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置中检测盘的立体结构示意图一。
[0024]图10是一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置中检测盘的立体结构示意图二。
[0025]图11是一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置中夹持组件的立本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，包括机架（1），其特征在于，机架（1）上设置有视觉检测组件（31）、检测架（3）、检测盘（33）、升降架（2）、卸料槽（11）和导料组件（13）；检测架（3）位于机架（1）的上方；检测架（3）的底部设置有安装板（32），安装板（32）上设置有贯穿与其的安装槽（321）；检测盘（33）位于安装槽（321）内，检测盘（33）上设置有多个呈矩形整列排布的检测槽（331），且多个检测槽（331）均贯穿通过检测盘（33），检测槽（331）用于放置被检测件；每个检测槽（331）内均设置有用于对被检测件进行限位的夹持组件（332）；视觉检测组件（31）位于视觉检测组件（31）的顶部，视觉检测组件（31）用于同步对所有检测槽（331）内的被检测件进行检测；升降架（2）能沿机架（1）的高度方向滑动的位于机架（1）上，且升降架（2）位于机架（1）和检测盘（33）之间，升降架（2）用于同步带动所有夹持组件（332）驱动；升降架（2）上设置有与检测槽（331）的数量相同且一一对应的贯通槽（21），每个贯通槽（21）的旁侧还设置有用于带动夹持组件（332）的驱动组件（22）；卸料槽（11）固定连接于机架（1）上且位于升降架（2）的下方，卸料槽（11）上设置有两个卸料口（111）；导料组件（13）位于卸料槽（11）内，且导料组件（13）位于两个卸料口（111）之间，导料组件（13）与升降架（2）传动连接，导料组件（13）用于对落入卸料槽（11）内的被检测件进行导向，使得被检测件落入不同的卸料口（111）内。2.根据权利要求1所述的一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，其特征在于，检测槽（331）内的设置有两个以其中心点呈中心对称的滑槽（3311），夹持组件（332）包括两个夹持臂（3321），两个夹持臂（3321）能相对滑动的位于两个滑槽（3311）上，且两个夹持臂（3321）的滑动方向相互平行。3.根据权利要求2所述的一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，其特征在于，夹持组件（332）还包括用于同时驱动两个夹持臂（3321）的驱动架（3323），驱动架（3323）能沿机架（1）的高度方向滑动的位于检测槽（331）的下方，驱动架（3323）上设置有两个倾斜设置有导向轴（3324），两个夹持臂（3321）上设置有与导向轴（3324）相互匹配的通孔（3322），导向轴（3324）与通孔（3322）滑动配合，通孔（3322）的轴线与导向轴（3324）的轴线相互平行，驱动架（3323）的中央设置有与检测槽（331）相互匹配的方槽（3325）。4.根据权利要求3所述的一种可连续分拣的发光二极管加工用晶片检测装置，其特征在于，检测槽（331）的下方设置有两个呈竖直状态的导向杆（3312），两个导向杆（3312）的轴线相互平行，两个导向杆（3312）的底部均设置有限位板（3313），驱动架（3323）能滑动的套设于两个导向杆（3312）上。5.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：危翔，
申请(专利权)人：深圳市众志祥科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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