一种薄膜褶皱展平方法和系统技术方案

本发明专利技术提供了一种薄膜褶皱展平方法和系统，其中，所述方法包括：在薄膜的侧边设置展平附加辊；获取展平附加辊与薄膜表面的接触长度H；获取薄膜宽度测量值L

【技术实现步骤摘要】
一种薄膜褶皱展平方法和系统


[0001]本专利技术涉及电镀
，具体涉及一种薄膜褶皱展平方法和系统。

技术介绍

[0002]在薄膜卷绕过程中，由于薄膜表面受力不平衡，常常引起薄膜起皱，收卷时若没有消除表面皱褶，褶皱被卷入成品中，将引起薄膜品质问题；另外在电镀过程中，薄膜表面的褶皱会使薄膜无法有效贴附冷辊冷却，从而导致烧膜、断膜的生产事故。
[0003]目前，现有常见展平机构通过由薄膜行进速度带动展平附加辊系转动的方式实现，因此，展平附加辊的辊面线速度需小于薄膜行进速度，且速度差会随着展平附加辊与薄膜行进方向的夹角减小而增大，导致展平附加辊与膜面接触区域存在一定拉扯作用，严重情况下将导致膜面边缘区域拉扯变形起皱甚至撕裂断膜。
[0004]综上所述，现有技术中存在以下问题：在薄膜展平过程中，薄膜的边缘区域容易拉扯变形，严重时导致薄膜撕裂断膜。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供一种薄膜褶皱展平方法和系统，用于解决现有薄膜展平技术中，薄膜的边缘区域容易拉扯变形，严重时导致薄膜撕裂断膜的问题。
[0006]一方面，本专利技术提供一种薄膜褶皱展平方法，包括：
[0007]在薄膜的两个侧边分别设置一个展平附加辊组，展平附加辊组包括两个对称设置在薄膜上下表面的展平附加辊，两个展平附加辊分别与薄膜上下表面接触，且展平附加辊与薄膜成夹角；
[0008]获取展平附加辊与薄膜表面的接触长度H
[0009]获取薄膜宽度测量值L
测
；
[0010]根据已知薄膜实际宽度L
膜
和薄膜宽度测量值L
测
，得到薄膜褶皱宽度ΔL；
[0011]根据薄膜褶皱宽度ΔL及展平附加辊与薄膜表面的接触长度H，得到褶皱展平时展平附加辊的展平附加辊面速度V及展平附加辊与薄膜的展平夹角
[0012]通过调节展平附加辊的当前辊面速度至展平附加辊面速度V，调节展平附加辊与薄膜的当前夹角至展平夹角使薄膜褶皱展平。
[0013]进一步地，根据薄膜褶皱宽度ΔL及展平附加辊与薄膜表面的接触长度H，得到褶皱展平时展平附加辊的展平附加辊面速度V及展平附加辊与薄膜的展平夹角之前还包括设置薄膜的行进速度为C。
[0014]进一步地，根据薄膜褶皱宽度ΔL及展平附加辊与薄膜表面的接触长度H，得到褶皱展平时展平附加辊的展平附加辊面速度V及展平附加辊与薄膜的展平夹角的具体包括：
[0015]根据公式得到展平附加辊面速度V；
[0016]根据公得到展平夹角
[0017]进一步地，通过调节展平附加辊的当前辊面速度至展平附加辊面速度V，调节展平
附加辊与薄膜的当前夹角至展平夹角使薄膜褶皱展平的具体包括：
[0018]设置展平附加辊驱动机构，展平附加辊驱动机构驱动展平附加辊转动；
[0019]通过调节展平附加辊驱动机构的转速，将展平附加辊的当前辊面速度调至展平附加辊面速度V；
[0020]沿着薄膜平面转动展平附加辊，将展平附加辊与薄膜的当前夹角至展平夹角
[0021]进一步地，根据已知薄膜实际宽度L
膜
和薄膜宽度测量值L
测
，得到薄膜褶皱宽度ΔL，具体包括：
[0022]通过已知薄膜实际宽度L
膜
减去薄膜宽度测量值L
测
，得到薄膜褶皱总宽度；
[0023]薄膜褶皱总宽度除以2得到薄膜褶皱宽度ΔL。
[0024]另一方面，本专利技术提供一种薄膜褶皱展平系统，包括：
[0025]两个展平附加辊组，两个展平附加辊组分别设置在薄膜的两个侧边，展平附加辊组包括两个对称设置在薄膜上下表面的展平附加辊，两个展平附加辊分别与薄膜上下表面接触，且展平附加辊与薄膜成夹角；
[0026]长度测量仪，用于获取展平附加辊与薄膜表面的接触长度H；
[0027]膜宽测量仪，用于获取薄膜宽度测量值L
测
；
[0028]薄膜褶皱宽度计算器，用于根据已知薄膜实际宽度L
膜
和薄膜宽度测量值L
测
，得到薄膜褶皱宽度ΔL；
[0029]薄膜展平处理器，用于根据薄膜褶皱宽度ΔL及展平附加辊与薄膜表面的接触长度H，得到褶皱展平时展平附加辊的展平附加辊面速度V及展平附加辊与薄膜的展平夹角
[0030]薄膜展平调节器，用于通过调节展平附加辊的当前辊面速度至展平附加辊面速度V，调节展平附加辊与薄膜的当前夹角至展平夹角使薄膜褶皱展平。
[0031]进一步地，薄膜展平系统还包括薄膜行进驱动器，用于驱动薄膜行进，提供薄膜的行进速度C。
[0032]进一步地，薄膜展平处理器具体用于：
[0033]根据公式得到展平附加辊面速度V；
[0034]根据公得到展平夹角
[0035]进一步地，薄膜展平调节器具体用于：
[0036]通过调节展平附加辊驱动机构的转速，将展平附加辊的当前辊面速度调至展平附加辊面速度V；
[0037]沿着薄膜平面转动展平附加辊，将展平附加辊与薄膜的当前夹角至展平夹角
[0038]进一步地，薄膜褶皱宽度计算器具体用于：
[0039]通过已知薄膜实际宽度L
膜
减去薄膜宽度测量值L
测
，得到薄膜褶皱宽度ΔL。
[0040]上述技术方案具有如下有益效果：根据薄膜褶皱宽度，调节展平附加辊的辊面速度及调节展平附加辊与薄膜的夹角，使薄膜被展平，满足不同薄膜行进速度的条件下，消除了展平附加辊在行进方向上由于速度不一致对膜面的拉扯作用，从而防止薄膜边沿拉扯变形或断膜的发生。
附图说明
[0041]图1为本专利技术实施例一种薄膜褶皱展平方法的流程示意图；
[0042]图2为本专利技术实施例一种薄膜褶皱展平系统的结构示意图
[0043]图3为本专利技术实施例一种薄膜褶皱展平方法与系统的展平附加辊设置的示意图。
[0044]附图标号说明：
[0045]10、展平附加辊；11、薄膜展平处理器；12、长度测量仪；13、薄膜褶皱宽度计算器；14、膜宽测量仪；20、薄膜；101、展平附加辊体；102、展平附加辊轴。
具体实施方式
[0046]为了对本专利技术的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现说明本专利技术。
[0047]在薄膜20卷绕过程中，由于薄膜20表面受力不平衡，常常引起薄膜20起皱，收卷时若没有消除表面皱褶，褶皱被卷入成品中，将引起薄膜20品质问题；另外在镀膜过程中，由于褶皱导致薄膜20无法有效贴附冷辊冷却，容易导致烧膜、断膜的生产事故。因此，需要对薄膜20进行展平，现有常见展平技术通过薄膜20行进速度带动展平辊转动实现，所以展平辊辊面速度须小于薄膜20行进速度，且速度差会随着展平附加辊10与薄膜20行进方向的夹角减小而增大，导致展平辊与薄膜20的膜面接触区域存在一定拉扯作用，严重情况下将导致膜面边缘区域拉扯变形起皱甚至撕裂本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种薄膜褶皱展平方法，其特征在于，包括：在薄膜的两个侧边分别设置一个展平附加辊组，所述展平附加辊组包括两个对称设置在薄膜上下表面的展平附加辊，两个所述展平附加辊分别与薄膜上下表面接触，且所述展平附加辊与所述薄膜成夹角；获取展平附加辊与所述薄膜表面的接触长度H；获取薄膜宽度测量值L
测
；根据已知薄膜实际宽度L
膜
和所述薄膜宽度测量值L
测
，得到薄膜褶皱宽度ΔL；根据所述薄膜褶皱宽度ΔL及所述展平附加辊与所述薄膜表面的接触长度H，得到褶皱展平时所述展平附加辊的展平附加辊面速度V及所述展平附加辊与所述薄膜的展平夹角通过调节所述展平附加辊的当前辊面速度至所述展平附加辊面速度V，调节所述展平附加辊与所述薄膜的当前夹角至展平夹角使薄膜褶皱展平。2.如权利要求1所述的薄膜褶皱展平方法，其特征在于，所述根据所述薄膜褶皱宽度ΔL及所述展平附加辊与所述薄膜表面的接触长度H，得到褶皱展平时所述展平附加辊的展平附加辊面速度V及所述展平附加辊与所述薄膜的展平夹角之前还包括设置所述薄膜的行进速度为C。3.如权利要求2所述的薄膜褶皱展平方法，其特征在于，所述根据所述薄膜褶皱宽度ΔL及所述展平附加辊与所述薄膜表面的接触长度H，得到褶皱展平时所述展平附加辊的展平附加辊面速度V及所述展平附加辊与所述薄膜的展平夹角的具体包括：根据公式得到所述展平附加辊面速度V；根据公式＝arcsin(C/V)，得到所述展平夹角4.如权利要求1所述的薄膜褶皱展平方法，其特征在于，所述通过调节所述展平附加辊的当前辊面速度至所述展平附加辊面速度V，调节所述展平附加辊与所述薄膜的当前夹角至展平夹角使薄膜褶皱展平的具体包括：设置展平附加辊驱动机构，所述展平附加辊驱动机构驱动所述展平附加辊转动；通过调节所述展平附加辊驱动机构的转速，将所述展平附加辊的当前辊面速度调至所述展平附加辊面速度V；沿着所述薄膜平面转动展平附加辊，将所述展平附加辊与所述薄膜的当前夹角调至展平夹角5.如权利要求1所述的薄膜褶皱展平方法，其特征在于，所述根据已知薄膜实际宽度L
膜
和所述薄膜宽度测量值...

【专利技术属性】
技术研发人员：臧世伟，
申请(专利权)人：重庆金美新材料科技有限公司，
类型：发明
国别省市：