一种RFID芯片的性能评估方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种RFID芯片的性能评估方法，包括获取进行RFID芯片性能检测的多个指标；采集目标RFID芯片的型号信息，获得目标型号数据；获得多个指标参数标准；采用多个指标，对目标RFID芯片进行性能检测，获得多个指标检测参数；构建RFID芯片性能评估模型；将多个指标检测参数输入RFID芯片性能评估模型，获得性能评估结果。还提供一种RFID芯片的性能评估系统，包括指标获取模块，型号信息获取模块，指标参数标准获取模块，指标检测参数获取模块，模型构建模块，评估结果获取模块。本发明专利技术解决了电力设备安全工器具应用的RFID芯片性能评估问题，解决了性能评估不准确、可视化差的问题，从而实现了对工器具的精细化管控，防范电力工器具的意外丢失导致的安全风险。具的意外丢失导致的安全风险。具的意外丢失导致的安全风险。

【技术实现步骤摘要】
一种RFID芯片的性能评估方法及系统


[0001]本专利技术涉及传感记录载体
，更具体地，涉及一种RFID标签的


技术介绍

[0002]RFID芯片俗称电子标签，是一种微芯片转发器，随时准备接收RFID阅读器发射的无线信号。RFID芯片接收到特定的无线信号后会作出应答，即将自己的独特ID代码发回给收发主机。大多数RFID芯片自身不带电池，总是在无线信号将它们唤醒并请求应答之后开始工作。
[0003]随着电力领域中的国家电力设备的应用不断广泛，防止触电、灼伤、坠落、摔跌等事故发生的安全工器具，包括验电器、绝缘杆、绝缘罩、绝缘手套、绝缘靴等防止接触电压、跨步电压、泄漏电流电弧对操作人员造成伤害的一类绝缘安全工器具的应用也越来越广泛。安全工器具通过RFID技术的智能化手段管理，是一种有效方式。RFID技术是一种非接触式自动识别技术，具有非接触、远距离、快速读取多个标签等特点，RFID芯片的性能对于使用的便利性和准确性较为重要，目前对于RFID芯片的质量检测限于参数阶段，无法准确评估RFID芯片的性能，存在着RFID芯片性能评估不准确、可视化差的技术问题。
[0004]为解决RFID芯片的应用问题，如中国专利文献CN110532823A的一种RFID阅读器防撞协议的性能评估方法，通过根据图论原理和RFID系统特点，能够针对众多的RFID阅读器防碰撞协议进行性能评估，并能选择出性能最优的协议。但是，该技术方案仅从配对角度来考虑RFID应用性能的问题，而非针对RFID芯片进行性能评估，也未从RFID芯片技术本身的特性进行研究，所以，该技术方案未能解决评估RFID性能的问题，无法解决RFID芯片性能评估不准确、可视化差的问题。

技术实现思路

[0005]为了解决RFID芯片在电力设备安全工器具上的应用问题，鉴于现有技术未能解决评估RFID芯片性能的问题，无法解决RFID芯片性能评估不准确、可视化差的问题，亟待需要一种RFID芯片的性能评估技术方案，以提高RFID性能评估的准确性和直观性。
[0006]本专利技术旨在提供一种RFID芯片的全方位的质量检测技术方案，不仅仅局限于参数阶段，能准确评估RFID芯片的性能，确保评估的准确性和可视化。从而解决电力设备安全工器具应用的RFID芯片性能评估问题，从而实现了对工器具的精细化管控，防范电力工器具的意外丢失导致的安全风险。
[0007]第一方面，本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种RFID芯片的性能评估方法，所述方法包括：获取进行RFID芯片性能检测的多个指标，其中，所述多个指标包括多个一类指标和二类指标；采集目标RFID芯片的型号信息，获得目标型号数据；将所述目标型号数据输入预构建的检测标准数据库内，获得所述多个指标的多个指标参数标准；采用所述多个指标，对所述目标RFID芯片进行性能检测，获得多个指标检测参数；构建RFID芯片性能评估模型；将所述多个指标检测参数输入所述RFID芯片性能评估模型，获得性能评估
结果。
[0008]通过采用多个一类指标、二类指标，获得目标型数据，获得指标参数标准、指标检测参数，构建性能评估模型，获得性能评估结果，从而解决电力设备安全工器具应用的RFID芯片性能评估问题，解决了性能评估不准确、可视化差的问题。
[0009]进一步地，所述获取进行RFID芯片性能检测的多个指标，包括：获取对RFID芯片进行射频识别检测的识别距离指标、识别准确性指标和识别灵敏度指标，作为所述一类指标；获取对RFID芯片进行外观检测的外观完整性指标，作为所述二类指标；将所述一类指标和所述二类指标作为所述多个指标。
[0010]进一步地，将所述目标型号数据输入预构建的检测标准数据库内，获得所述多个指标的多个指标参数标准，包括：多个型号的RFID芯片进行性能检测，采集所述多个指标的指标参数标准，获得多个指标参数标准集合；将所述多个型号信息作为多个数据索引，将所述多个指标参数标准集合作为多个数据元素，构建所述检测标准数据库；将所述目标型号数据输入所述检测标准数据库，获得所述多个指标的多个指标参数标准。
[0011]进一步地，所述构建RFID芯片性能评估模型，包括：构建射频识别评估模块；构建外观性能评估模块；合并所述射频识别评估模块和所述外观性能评估模块，获得构建完成的所述RFID芯片性能评估模型。
[0012]进一步地，所述构建射频识别评估模块，包括以下步骤：根据多个所述一类指标，检测获取多个RFID芯片的指标参数，获得多个样本一类指标参数集合，其中，多个RFID芯片的型号信息为所述目标型号数据；根据所述多个样本一类指标参数集合，进行性能评估，获得多个样本一类性能评估结果；对所述多个样本一类指标参数集合和所述多个样本一类性能评估结果进行数据标识和划分，获得第一训练集、第一验证集和第一测试集；基于前馈神经网络，建立所述射频识别评估模块，所述射频识别评估模块的输入数据为指标参数集合，输出数据为一类性能评估结果；采用所述第一训练集、第一验证集和第一测试集对所述射频识别评估模块进行迭代监督训练、验证和测试，直到所述射频识别评估模块的准确率符合预设要求，获得构建完成的所述射频识别评估模块。
[0013]进一步地，所述构建外观性能评估模块，包括以下步骤：采集获取多个RFID芯片的图像信息，获得多个样本图像参数；对所述多个样本图像参数进行外观完整性评估，获得多个二类性能评估结果；对所述多个样本图像参数和所述多个二类性能评估结果进行数据标识和划分，获得第二训练集、第二验证集和第二测试集；基于卷积神经网络，建立所述外观性能评估模块，所述外观性能评估模块的输入数据为图像参数，输出数据为二类性能评估结果；采用所述第二训练集、第二验证集和第二测试集对所述外观性能评估模块进行迭代监督训练、验证和测试，直到所述外观性能评估模块的准确率符合预设要求，获得构建完成的所述外观性能评估模块。
[0014]进一步地，将所述多个指标检测参数输入所述RFID芯片性能评估模型，获得性能评估结果，包括以下步骤：根据所述多个指标检测参数，获得所述目标RFID芯片的一类指标参数集合和图像参数；将所述一类指标参数集合输入所述射频识别评估模块，获得一类性能评估结果；将所述图像参数输入所述外观性能评估模块，获得二类性能评估模块；对所述一类性能评估结果和所述二类性能评估模块进行加权计算求和，获得所述性能评估结果。
[0015]第二方面，本专利技术解决其技术问题所采用的另一技术方案是：一种RFID芯片的性
能评估系统，所述系统包括：指标获取模块，指标获取模块用于获取进行RFID芯片性能检测的多个指标，其中，所述多个指标包括多个一类指标和二类指标；型号信息获取模块，型号信息获取模块用于采集目标RFID芯片的型号信息，获得目标型号数据；指标参数标准获取模块，指标参数标准获取模块用于将所述目标型号数据输入预构建的检测标准数据库内，获得所述多个指标的多个指标参数标准；指标检测参数获取模块，指标检测参数获取模块用于采用所述多个指标，对所述目标RFID本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种RFID芯片的性能评估方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：获取进行RFID芯片性能检测的多个指标，其中，所述多个指标包括多个一类指标和二类指标；采集目标RFID芯片的型号信息，获得目标型号数据；将所述目标型号数据输入预构建的检测标准数据库内，获得所述多个指标的多个指标参数标准；采用所述多个指标，对所述目标RFID芯片进行性能检测，获得多个指标检测参数；构建RFID芯片性能评估模型；将所述多个指标检测参数输入所述RFID芯片性能评估模型，获得性能评估结果。2.根据权利要求1所述的RFID芯片的性能评估方法，其特征在于，所述获取进行RFID芯片性能检测的多个指标，包括以下步骤：获取对RFID芯片进行射频识别检测的识别距离指标、识别准确性指标和识别灵敏度指标，作为所述一类指标；获取对RFID芯片进行外观检测的外观完整性指标，作为所述二类指标；将所述一类指标和所述二类指标作为所述多个指标。3.根据权利要求1所述的RFID芯片的性能评估方法，其特征在于，将所述目标型号数据输入预构建的检测标准数据库内，获得所述多个指标的多个指标参数标准，包括以下步骤：多个型号的RFID芯片进行性能检测，采集所述多个指标的指标参数标准，获得多个指标参数标准集合；将所述多个型号信息作为多个数据索引，将所述多个指标参数标准集合作为多个数据元素，构建所述检测标准数据库；将所述目标型号数据输入所述检测标准数据库，获得所述多个指标的多个指标参数标准。4.根据权利要求1所述的RFID芯片的性能评估方法，其特征在于，所述构建RFID芯片性能评估模型，包括以下步骤：构建射频识别评估模块；构建外观性能评估模块；合并所述射频识别评估模块和所述外观性能评估模块，获得构建完成的所述RFID芯片性能评估模型。5.根据权利要求4所述的RFID芯片的性能评估方法，其特征在于，所述构建射频识别评估模块，包括以下步骤：根据多个所述一类指标，检测获取多个RFID芯片的指标参数，获得多个样本一类指标参数集合，其中，多个RFID芯片的型号信息为所述目标型号数据；根据所述多个样本一类指标参数集合，进行性能评估，获得多个样本一类性能评估结果；对所述多个样本一类指标参数集合和所述多个样本一类性能评估结果进行数据标识和划分，获得第一训练集、第一验证集和第一测试集；基于前馈神经网络，建立所述射频识别评估模块，所述射频识别评估模块的输入数据为指...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴宏坚，朱振坤，赵建文，莫莎莎，张林裕，曹志刚，
申请(专利权)人：国网浙江省电力有限公司丽水供电公司，
类型：发明
国别省市：