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本发明提供一种RFID芯片的性能评估方法，包括获取进行RFID芯片性能检测的多个指标；采集目标RFID芯片的型号信息，获得目标型号数据；获得多个指标参数标准；采用多个指标，对目标RFID芯片进行性能检测，获得多个指标检测参数；构建RFID芯...
该专利属于国网浙江省电力有限公司丽水供电公司所有，仅供学习研究参考，未经过国网浙江省电力有限公司丽水供电公司授权不得商用。

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