本发明专利技术公开了一种光模块性能调试装置、方法及介质，该方法包括以下步骤：获取待测模块寄存器的值；获取待测电信号，所述待测电信号为与所述待测模块对应的标准模块接收端信号且该信号为所述待测模块发送端信号经衰减后的信号；根据所述待测电信号生成对应的二维电眼图；判断所述二维电眼图是否符合设定要求；响应于所述二维电眼图不符合要求，生成寄存器调整指令，以使所述待测模块根据所述寄存器调整指令调整发送端寄存器的值或者接收端寄存器的值，直至所述标准模块二维电眼图符合设定要求。其装置价格低廉、测试效率高且降低对光器件一致性的要求。器件一致性的要求。器件一致性的要求。
【技术实现步骤摘要】
一种光模块性能调试装置、方法及介质
[0001]本专利技术属于光模块性能调试
，具体地涉及一种光模块性能调试装置、方法及介质。
技术介绍
[0002]随着现代计算机网络越来越发达，原有的数据传输处理已无法满足需求，因此人们开始使用光通信技术，光通信技术提高了数据传输速度，便于信息的处理。随着光模块需求量不断增加，对光模块研发生产效率提出巨大考验。
[0003]现有光模块收发性能调试有多种方式。其一，采用高精度设备量化光模块指标性能，通过功率计测试模块光功率，不在要求范围内通过调节寄存器达到预定范围，再通过高速眼图示波器，测试模块的发端眼图性能，判断模块性能是否符合要求。其二，通过偏置电流间接计算光功率值以及消光比，通过示波器测量收端光眼图，量化收端性能。
[0004]采用上述方法，其存在以下缺陷:1、使用设备对，价格贵，测试项目按顺序执行，测试时间较长，效率低；2、通过电流间接计算光模块光功率输出，对光器件一致性要求较高，一般的光器件无法达到要求。
技术实现思路
[0005]为了解决现有技术中存在设备昂贵、测试效率低且对光器件一致性要求高的缺陷，本专利技术提供一种光模块性能调试装置、方法及介质，其价格低廉、测试效率高且降低对光器件一致性的要求。
[0006]本专利技术的目的通过以下技术方案来实现：本专利技术第一方面公开了一种光模块性能调试方法，包括以下步骤：获取待测模块寄存器的值，所述寄存器为发送端寄存器或者接收端寄存器；获取待测电信号，所述待测电信号为与所述待测模块对应的标准模块接收端信号且该信号为所述待测模块发送端信号经衰减后的信号，或者，所述待测电信号为待测模块接收端信号且该信号为与该待测模块对应的标准模块发送端信号经衰减后的信号；根据所述待测电信号生成对应的二维电眼图；判断所述二维电眼图是否符合设定要求；响应于所述二维电眼图不符合要求，生成寄存器调整指令，以使所述待测模块根据所述寄存器调整指令调整发送端寄存器的值或者接收端寄存器的值，直至所述标准模块二维电眼图符合设定要求。
[0007]在一种可能的设计中，所述根据所述待测电信号生成对应的二维电眼图，包括：计算待测电信号的幅度并确定上升沿时间和下降沿时间；获取误码数据分布情况；根据所述待测电信号的幅度、上升沿时间、下降沿时间和误码数据分布情况模拟
绘制出二维电眼图。
[0008]本专利技术第二方面公开了一种光模块性能调试装置，包括：一待测模块板，所述待测模块板用于安装调试待测模块；一标准模块板，所述标准模块板用于安装与所述待测模块对应的标准模块；一衰减模块，所述衰减模块连接在所述待测模块板和所述标准模块板，用于对一端的发射光进行衰减后发送至另一端；一测试模块，所述测试模块用于调节多模衰减模块的衰减量并根据所述待测模块板或者标准模块板接收端信号对所述待测模块寄存器的值进行调节。
[0009]在一种可能的设计中，所述衰减模块为多模衰减器。
[0010]在一种可能的设计中，所述测试模块与所述待测模块板之间设置有调试接口，所述调试接口用于与光模块连接。
[0011]本专利技术与现有技术相比，至少具有以下优点和有益效果：1、本专利技术通过使用测试模块自动实现数据处理并根据二维电眼图实现光模块调试，测试效率高。
[0012]2、本专利技术使用测试模块、待测模块板、标准模块板、衰减模块实现性能调试，成本大大降低。
[0013]3、本专利技术降低了对光器件一致性的要求。
附图说明
[0014]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0015]图1 为本专利技术装置的结构示意图。
具体实施方式
[0016]为使本专利技术实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施方式中的附图，对本专利技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本专利技术一部分实施方式，而不是全部的实施方式。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施方式的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0017]因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施方式。基于本专利技术中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本专利技术保护的范围。
[0018]需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施方式及实施方式中的特征可以相互组合。
[0019]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0020]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、
“
水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0021]在本专利技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0022]现有的光模块性能调试装置其价格高且测试效率低下，对此，本专利技术人研发了一种光模块性能调试装置及方法，方法依赖装置实现。具体的，如图1所示，本专利技术公开的一种光模块性能调试装置包括待测模块板、标准模块板、衰减模块和测试模块。
[0023]待测模块板用于安装调试待测模块；标准模块板用于安装与所述待测模块对应的标准模块；衰减模块连接在所述待测模块板和所述标准模块板，用于对一端的发射光进行衰减后发送至另一端，即将待测模块发送端信号衰减后发送至标准模块的接收端或者将标准模块发送端信号衰减后发送至待测模块的接收端；测试模块用于调节多模衰减模块的衰减量并根据所述待测模块板或者标准模块板接收端信号对所述待测模块寄存器的值进行调节。
[0024]测试模块为调试装置的核心控制中心，主要实现待测模块收端发端性能调试，待测模块和标准模块高速通信PRBS码型生产，误码检测判断等，可以为FPGA调测模块、单片机调测模块或其他智能控制模块。
[0025]衰减模块对待测模块或者标准模块发送的信号进行衰减处本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光模块性能调试方法，其特征在于，包括以下步骤：获取待测模块寄存器的值，所述寄存器为发送端寄存器或者接收端寄存器；获取待测电信号，所述待测电信号为与所述待测模块对应的标准模块接收端信号且该信号为所述待测模块发送端信号经衰减后的信号，或者，所述待测电信号为待测模块接收端信号且该信号为与该待测模块对应的标准模块发送端信号经衰减后的信号；根据所述待测电信号生成对应的二维电眼图；判断所述二维电眼图是否符合设定要求；响应于所述二维电眼图不符合要求，生成寄存器调整指令，以使所述待测模块根据所述寄存器调整指令调整发送端寄存器的值或者接收端寄存器的值，直至所述标准模块二维电眼图符合设定要求。2.根据权利要求1所述的一种光模块性能调试方法，其特征在于：所述根据所述待测电信号生成对应的二维电眼图，包括：计算待测电信号的幅度并确定上升沿时间和下降沿时间；获取误码数据分布情况；根据所述待测电信号的幅度、上升沿时间、下降沿时间和误码数据分布情况模拟绘制出二维电眼图。3.根据权利要求2所述的一种光模块性能调试方法，其特征在于：所述判断所述二维电眼图是否符合设定要求，包括：遍历所述二维电眼图并记...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗洋，
申请(专利权)人：四川互连创新科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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