颗粒物检测设备制造技术

本实用新型专利技术颗粒物检测设备，采用发光模块的驱动信号驱动发光二极管时，驱动信号经延时电路延时，具体先采用二极管D1、D触发器D2对驱动信号的脉冲沿上升沿检测，经保持之后，加到脉冲延时电路进行可控延时作触发开关K1的触发信号，作光传感模块差动放大后信号的开关触发信号，能实现与发光二极管同步的、有效的工作，之后进入并两级带通滤波电路滤波放大，实现驱动信号频率分量的选频放大，滤除其它频率分量，最后经整形电路将电压脉冲信号进行整形，消除电压脉冲信号边沿的抖动、毛刺，再进入单片机，以此采取开关触发的工作滤波以及两级带通的选频滤波，再去抖动、毛刺，能提高检测结果的准确性。果的准确性。果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
颗粒物检测设备


[0001]本技术涉及检测
，特别是颗粒物检测设备。

技术介绍

[0002]现有技术：申请号202120220053 .X的空气颗粒物检测电路、空气颗粒物检测仪及空气净化器，通过发光模块的发光二极管产成光信号，光传感模块的光电二极管接收散射光信号并产生电流信号，经差分放大、一阶滤波和二阶滤波过滤掉电压脉冲信号中的干扰，最后由单片机信号处理，检测出空气颗粒物大小和浓度，检测结果比较准确。
[0003]虽然通过二阶滤波能过滤掉一部分电压脉冲信号中的干扰，但是不能过滤掉光电二极管针对发光二极管接受的散射光信号以外的干扰信号，不能有效的工作且影响检测结果的准确性。

技术实现思路

[0004]针对现有技术存在的不足，本专利技术目的是提供颗粒物检测设备，有效的解决了现有技术不能过滤掉光电二极管针对发光二极管接受的散射光信号以外的干扰信号，不能有效的工作且影响检测结果的准确性的问题。
[0005]其解决的技术方案是，包括发光模块、光传感模块，所述发光模块的驱动信号经延时电路延时，作光传感模块差动放大后信号的开关触发信号，经两级带通滤波电路滤波、整形电路整形后再进入单片机；
[0006]所述两级带通滤波电路包括触发开关K1，触发开关K1的左端连接差动放大后信号，触发开关K1的右端连接电阻R1的一端，电阻R1的另一端分别连接电容C1的一端、电容C2的一端，电容C2的另一端分别连接电阻R2的一端、运算放大器AR1的反相输入端，运算放大器AR1的同相输入端分别连接接地电阻R3的一端、接地电容C3的一端、运算放大器AR2的同相输入端，运算放大器AR1的输出端分别连接电阻R2的另一端、电容C1的另一端、电容C4的一端，电容C4的另一端连接电阻R5的一端，电阻R5的另一端分别连接电容C6的一端、电容C5的一端、接地电阻R4的一端，运算放大器AR2的VCC端连接电源+5V，运算放大器AR2的GND端连接地，运算放大器AR2的输出端分别连接电容C5的另一端、电阻R6的另一端、电容C7的一端；
[0007]所述整形电路包括电容C7，电容C7的一端连接运算放大器AR1的输出端，电容C7的另一端分别连接电阻R7的一端、接地电阻R8的一端、与非门施密特触发器F3的引脚B，电阻R7的另一端、与非门施密特触发器F3的引脚A连接电源+5V，与非门施密特触发器F3的引脚Y连接单片机的IO口。
[0008]本技术的有益效果：采用发光模块的驱动信号驱动发光二极管时，驱动信号经延时电路延时，作光传感模块差动放大后信号的开关触发信号，使得在发光二极管发射光信号时，差分放大后光电二极管接收散射光信号才向后传输，能实现与发光二极管同步的、有效的工作，有效的工作，并采用两级带通滤波电路滤波放大，实现驱动信号频率分量
的选频放大，滤除其它频率分量，最后经整形电路将电压脉冲信号进行整形，消除电压脉冲信号边沿的抖动、毛刺，再进入单片机，以此采取开关触发的工作滤波以及两级带通的选频滤波，再去抖动、毛刺，能提高检测结果的准确性。
附图说明
[0009]图1为现有技术的电路结构框图。
[0010]图2为本技术的电路结构框图。
[0011]图3为本技术的电路示意图。
具体实施方式
[0012]为有关本专利技术的前述及其他
技术实现思路
、特点与功效，在以下配合参考附图1至图3对实施例的详细说明中，将可清楚的呈现。以下实施例中所提到的结构内容，均是以说明书附图为参考。
[0013]下面将参照附图描述本专利技术的各示例性的实施例。
[0014]实施例一，颗粒物检测设备，包括发光模块、光传感模块，所述发光模块的驱动信号经延时电路延时，作光传感模块差动放大后信号的开关触发信号，经两级带通滤波电路滤波、整形电路整形后再进入单片机；
[0015]所述两级带通滤波电路接收差动放大后信号，在开关K1触发导通时，才向后传输，能实现与发光二极管同步的、有效的工作，之后进入运算放大器AR1和AR2、电阻R1
‑
电阻R6、电容C1
‑
电容C6组成的两级带通滤波电路进行滤波放大，实现驱动信号频率分量的选频放大，滤除其它频率分量，包括触发开关K1，触发开关K1的左端连接差动放大后信号，触发开关K1的右端连接电阻R1的一端，电阻R1的另一端分别连接电容C1的一端、电容C2的一端，电容C2的另一端分别连接电阻R2的一端、运算放大器AR1的反相输入端，运算放大器AR1的同相输入端分别连接接地电阻R3的一端、接地电容C3的一端、运算放大器AR2的同相输入端，运算放大器AR1的输出端分别连接电阻R2的另一端、电容C1的另一端、电容C4的一端，电容C4的另一端连接电阻R5的一端，电阻R5的另一端分别连接电容C6的一端、电容C5的一端、接地电阻R4的一端，运算放大器AR2的VCC端连接电源+5V，运算放大器AR2的GND端连接地，运算放大器AR2的输出端分别连接电容C5的另一端、电阻R6的另一端、电容C7的一端；
[0016]所述整形电路接收两级带通滤波电路输出信号，采用型号为CD4093B的与非门施密特触发器F3、电容C7、电阻R7的一端、接地电阻R8组成的方波整形电路将电压脉冲信号进行整形，消除电压脉冲信号边沿的抖动、毛刺，也即进一步滤除干扰后再进入单片机，以此采取开关触发的工作滤波以及两级带通的选频滤波，再去抖动、毛刺，能提高检测结果的准确性，包括电容C7，电容C7的一端连接运算放大器AR1的输出端，电容C7的另一端分别连接电阻R7的一端、接地电阻R8的一端、与非门施密特触发器F3的引脚B，电阻R7的另一端、与非门施密特触发器F3的引脚A连接电源+5V，与非门施密特触发器F3的引脚Y连接单片机的IO口。
[0017]实施例二，在实施例一的基础上，所述延时电路接收发光模块驱动信号，采用二极管D1、D触发器D2对驱动信号的脉冲沿上升沿检测，具体驱动信号加到D触发器D2的CP端，脉冲上升沿时，D触发器D2输出+5V，经电容C8保持之后，加到与非门F1、与非门F2、电阻R9、串
联的电容C9、变容二极管DC3组成的脉冲延时电路，进行可控延时作触发开关K1的触发信号，使得在发光二极管发射光信号时，差分放大后光电二极管接收散射光信号才向后传输，能实现同步的、有效的工作，具体的可控延时由加到变容二极管DC3上的控制电压控制，控制电压根据发光二极管发射光信号、光电二极管接收散射光信号的计时时滞产生，包括D触发器D2，D触发器D2的D端连接二极管D1的负极，二极管D1的正极连接电源+5V，D触发器D2的CP端连接发光模块驱动信号，D触发器D2的Q端分别连接接地电容C8的一端、与非门F1的引脚2，与非门F1的引脚1分别连接接地电阻R9的一端、电容C9的一端，电容C9的另一端分别连接控制电压、变容二极管DC3的负极，与非门F1的引脚3分别连接与非门F2的引脚1和引脚2，与非门F2的引脚3和变容二极管DC3的正极输出开关触发信号。
[0018]本技术实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.颗粒物检测设备，包括发光模块、光传感模块，其特征在于，所述发光模块的驱动信号经延时电路延时，作光传感模块差动放大后信号的开关触发信号，经两级带通滤波电路滤波、整形电路整形后再进入单片机；所述两级带通滤波电路包括触发开关K1，触发开关K1的左端连接差动放大后信号，触发开关K1的右端连接电阻R1的一端，电阻R1的另一端分别连接电容C1的一端、电容C2的一端，电容C2的另一端分别连接电阻R2的一端、运算放大器AR1的反相输入端，运算放大器AR1的同相输入端分别连接接地电阻R3的一端、接地电容C3的一端、运算放大器AR2的同相输入端，运算放大器AR1的输出端分别连接电阻R2的另一端、电容C1的另一端、电容C4的一端，电容C4的另一端连接电阻R5的一端，电阻R5的另一端分别连接电容C6的一端、电容C5的一端、接地电阻R4的一端，运算放大器AR2的VCC端连接电源+5V，运算放大器AR2的GND端连接地，运算放大器AR2的输出端分别连...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘清记，王华，师晋豫，张京迪，张超，
申请(专利权)人：郑州驰创科技有限公司，
类型：新型
国别省市：