芯片测试吸盘制造技术

技术编号:38450045 阅读:9 留言:0更新日期:2023-08-11 14:29
本实用新型专利技术公开了芯片测试吸盘,包括吸盘盒,顶部设有开口,一侧开设有出风口,所述出风口内固定连接有出风管,所述出风管内设有过滤组件;盒盖,铰接在吸盘盒顶部,底部设有和吸盘盒开口相匹配的密封圈,一侧开设有拉起盒盖的凹槽;吸盘本体,设置在吸盘盒内部,内部设置为空心状,顶部开设有若干个通孔,底部设有负压管,所述负压管设置为波纹状,且贯穿吸盘盒。本实用新型专利技术通过设置清灰组件可以将芯片上的灰尘清扫下来,避免测试过程中芯片上的灰尘对测试造成影响,设置过滤组件可以将清扫下来的灰尘进行吸出并过滤在过滤网上,提高清灰效果,并且不会造成周围环境污染,设置固定块和螺丝可以对过滤网进行定期拆卸清理。可以对过滤网进行定期拆卸清理。可以对过滤网进行定期拆卸清理。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试吸盘


[0001]本技术涉及芯片测试
,具体涉及芯片测试吸盘。

技术介绍

[0002]芯片在封装厂封装完成后,要进行成品的最终测试。目前,常用的测试方法是在自动测试设备上进行测试。在测试过程中,通常是通过转移装置自动获取送料机构上的芯片,然后再将芯片放至测试模块中进行测试。芯片在进行测试前需要通过吸盘将芯片吸附固定后再进行测试工作。
[0003]对芯片进行测试时,诸多的测试脚接触芯片的管脚,由于测试极为精细,所以测试精度受环境影响较大,芯片上不能有灰尘。
[0004]因此,专利技术芯片测试吸盘来解决上述问题很有必要。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是提供芯片测试吸盘,通过设置清灰组件可以将芯片上的灰尘清扫下来,避免测试过程中芯片上的灰尘对测试造成影响,设置过滤组件可以将清扫下来的灰尘进行吸出并过滤在过滤网上,提高清灰效果,并且不会造成周围环境污染,设置固定块和螺丝可以对过滤网进行定期拆卸清理,以解决技术中的上述不足之处。
[0006]为了实现上述目的,本技术提供如下技术方案:芯片测试吸盘,包括吸盘盒,顶部设有开口,一侧开设有出风口,所述出风口内固定连接有出风管,所述出风管内设有过滤组件;
[0007]盒盖,铰接在吸盘盒顶部,底部设有和吸盘盒开口相匹配的密封圈,一侧开设有拉起盒盖的凹槽;
[0008]吸盘本体,设置在吸盘盒内部,内部设置为空心状,顶部开设有若干个通孔,底部设有负压管,所述负压管设置为波纹状,且贯穿吸盘盒,所述负压管底部固定连接有连接管,所述连接管远离负压管一端连接有负压机;
[0009]清灰组件,位于吸盘盒内部,用于清洁芯片表面灰尘。
[0010]作为本技术的优选方案,所述过滤组件包括:
[0011]丝杆,位于吸盘盒内,且两端与吸盘盒转动连接;
[0012]限位杆,位于吸盘盒内且与丝杆对称分布,两端分别与吸盘盒固定连接;
[0013]清洁杆,一端螺纹套接在丝杆上,另一端滑动套接在限位杆上,底部设有毛刷;
[0014]电机,固定连接在吸盘盒一侧,且输出轴贯穿吸盘盒与丝杆固定连接。
[0015]作为本技术的优选方案,所述过滤组件包括:
[0016]风机,固定连接在出风管内,用于吸取清理下来的灰尘;
[0017]过滤网,设置在风机一侧,用于过滤灰尘;
[0018]四个固定块,环形分布在出风管内且与出风管固定连接,四个所述固定块上均设有螺丝,所述过滤网和四个固定块通过螺丝可拆卸连接。
[0019]作为本技术的优选方案,所述吸盘本体底部一端固定连接有电动推杆,另一端固定连接有伸缩杆,所述电动推杆和伸缩杆均与吸盘盒固定连接。
[0020]作为本技术的优选方案,所述吸盘盒一侧固定连接有把手,所述把手高度与盒盖厚度相匹配。
[0021]作为本技术的优选方案,所述吸盘盒顶部开设有卡槽,所述盒盖底部固定连接有卡扣,所述卡扣和卡槽卡接。
[0022]在上述技术方案中,本技术提供的技术效果和优点:
[0023]1、通过设置清灰组件可以将芯片上的灰尘清扫下来,避免测试过程中芯片上的灰尘对测试造成影响,设置过滤组件可以将清扫下来的灰尘进行吸出并过滤在过滤网上,提高清灰效果,并且不会造成周围环境污染,设置固定块和螺丝可以对过滤网进行定期拆卸清理;
[0024]2、通过设置把手可以方便移动装置,把手高度和盒盖厚度相匹配可以在打开盒盖时利用把手进行定位,使得盒盖保持水平状态,可以放置一些测试用到的配件,设置电动推杆可以带动吸盘本体向上移动,可以将除尘后的芯片移出吸盘盒,方便对芯片进行操作。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0026]图1为本技术的整体结构第一视角立体图;
[0027]图2为本技术的整体结构第二视角立体图;
[0028]图3为本技术的负压管、连接管、伸缩杆和电动推杆结构示意图;
[0029]图4为本技术的清灰组件结构示意图;
[0030]图5为本技术的过滤组件结构示意图。
[0031]附图标记说明:
[0032]1、吸盘盒;2、出风管;3、过滤组件;4、盒盖;5、凹槽;6、吸盘本体;7、通孔;8、负压管;9、连接管;10、清灰组件;11、丝杆;12、限位杆;13、清洁杆;14、毛刷;15、电机;16、风机;17、过滤网;18、固定块;19、螺丝;20、电动推杆;21、伸缩杆;22、把手;23、卡扣;24、卡槽。
具体实施方式
[0033]为了使本领域的技术人员更好地理解本技术的技术方案,下面将结合附图对本技术作进一步的详细介绍。
[0034]本技术提供了如图1

5所示的芯片测试吸盘,包括吸盘盒1,顶部设有开口,一侧开设有出风口,出风口内固定连接有出风管2,出风管2内设有过滤组件3;
[0035]盒盖4,铰接在吸盘盒1顶部,底部设有和吸盘盒1开口相匹配的密封圈,一侧开设有拉起盒盖4的凹槽5;
[0036]吸盘本体6,设置在吸盘盒1内部,内部设置为空心状,顶部开设有若干个通孔7,底部设有负压管8,负压管8设置为波纹状,且贯穿吸盘盒1,负压管8底部固定连接有连接管9,连接管9远离负压管8一端连接有负压机;
[0037]清灰组件10,位于吸盘盒1内部,用于清洁芯片表面灰尘。
[0038]进一步的,在上述技术方案中,过滤组件3包括:
[0039]丝杆11,位于吸盘盒1内,且两端与吸盘盒1转动连接;
[0040]限位杆12,位于吸盘盒1内且与丝杆11对称分布,两端分别与吸盘盒1固定连接;
[0041]清洁杆13,一端螺纹套接在丝杆11上,另一端滑动套接在限位杆12上,底部设有毛刷14;
[0042]电机15,固定连接在吸盘盒1一侧,且输出轴贯穿吸盘盒1与丝杆11固定连接;
[0043]具体的,丝杆11带动清洁杆13和毛刷14移动,对芯片表面的灰尘进行清理,避免芯片表面有灰尘导致测试结果不准确。
[0044]进一步的,在上述技术方案中,过滤组件3包括:
[0045]风机16,固定连接在出风管2内,用于吸取清理下来的灰尘;
[0046]过滤网17,设置在风机16一侧,用于过滤灰尘;
[0047]四个固定块18,环形分布在出风管2内且与出风管2固定连接,四个固定块18上均设有螺丝19,过滤网17和四个固定块18通过螺丝19可拆卸连接;
[0048]具体的,风机16将清理下的灰尘通过出风管2排出,经过过滤网17时灰尘吸附在过滤网17上,转动螺丝19将过滤网17和固定块本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.芯片测试吸盘,其特征在于,包括:吸盘盒(1),顶部设有开口,一侧开设有出风口,所述出风口内固定连接有出风管(2),所述出风管(2)内设有过滤组件(3);盒盖(4),铰接在吸盘盒(1)顶部,底部设有和吸盘盒(1)开口相匹配的密封圈,一侧开设有拉起盒盖(4)的凹槽(5);吸盘本体(6),设置在吸盘盒(1)内部,内部设置为空心状,顶部开设有若干个通孔(7),底部设有负压管(8),所述负压管(8)设置为波纹状,且贯穿吸盘盒(1),所述负压管(8)底部固定连接有连接管(9),所述连接管(9)远离负压管(8)一端连接有负压机;清灰组件(10),位于吸盘盒(1)内部,用于清洁芯片表面灰尘。2.根据权利要求1所述的芯片测试吸盘,其特征在于,所述清灰组件(10)包括:丝杆(11),位于吸盘盒(1)内,且两端与吸盘盒(1)转动连接;限位杆(12),位于吸盘盒(1)内且与丝杆(11)对称分布,两端分别与吸盘盒(1)固定连接;清洁杆(13),一端螺纹套接在丝杆(11)上,另一端滑动套接在限位杆(12)上,底部设有毛刷(14);电机(15),固定连接在吸盘盒...

【专利技术属性】
技术研发人员:张洪梅
申请(专利权)人:峰雨光电科技上海有限公司
类型:新型
国别省市:

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