一种二极管质量可靠性快速评价方法及系统技术方案

本发明专利技术提供了一种二极管质量可靠性快速评价方法及系统，所述方法包括：在设定温度下，绘制批次中所有二极管的I

【技术实现步骤摘要】
一种二极管质量可靠性快速评价方法及系统


[0001]本专利技术属于电子元器件空间宇航应用可靠性评价领域，具体涉及一种二极管质量可靠性快速评价方法及系统。

技术介绍

[0002]元器件的可靠性是指其在一定的条件下在规定时间内正常工作的能力，通常用失效率λ来表示。对元器件可靠性评价的全过程称之为元器件质量保证，比如设计、制造、鉴定、筛选、选用和应用等。
[0003]在航天任务中，传统的二极管可靠性评价即质量保证是基于质量等级要求，而质量等级则是在晶体管的军用标准的通用规范和行业标准的采购规范里被规定。例如美军标MIL
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PRF
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19500中规定的JANTX、JANTXV和JANS等级，国军标GJB中规定的普军、特军和超特军等等级，航天科技集团第五研究院的CAST采购规范中规定的C、B和A等级，航天科技集团宇航标准中规定的YC和YB等级。共同的特点是对二极管的鉴定、批次性筛选、破环性物理试验(DPA)和周期性检验等试验方案和抽样要求做出规定。如果在航天任务中使用工业级或商业级二极管，则需要在第三方认证机构本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种二极管质量可靠性快速评价方法，所述方法包括：步骤S1：在设定温度下，绘制批次中所有二极管的I
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V曲线；步骤S2：根据I
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V曲线计算缺欠因子d值；步骤S3：分析批次中所有二极管在设定温度下的缺欠因子d值，确定数据的有效性；步骤S4：与生产线大数据库中的在相同温度下的不同质量等级的二极管的缺欠因子d值进行对比，得出该批次二极管的质量可靠性信息，即该批次中不同缺欠因子d值的二极管所对应的不同质量等级。2.根据权利要求1所述的二极管质量可靠性快速评价方法，其特征在于，所述设定温度为二极管最高工作温度。3.根据权利要求1所述的二极管质量可靠性快速评价方法，其特征在于，绘制二极管的I
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V曲线的方法为：利用晶体管参数测试仪或通过对二极管施加正向电压，用电流表测量二极管的正向电流，得到二极管I
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V曲线。4.根据权利要求1所述的二极管质量可靠性快速评价方法，其特征在于，所述根据I
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V曲线计算缺欠因子d值，具体为：d＝qV/KT ln(I/I
s
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1)其中，I表示二极管正向电流；I
s
表示二极管反向饱和电流；V表示二极管正向电压；q表示单位电荷量；K表示玻尔兹...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘红民，范晓军，翁正，
申请(专利权)人：中国科学院国家空间科学中心，
类型：发明
国别省市：