【技术实现步骤摘要】
一种基于可靠性分析的主板功能测试策略方法及系统
[0001]本专利技术涉及主板测试
，尤其涉及一种基于可靠性分析的主板功能测试策略方法及系统。
技术介绍
[0002]随着生活水平的提升和工作内容的需要，人们对电子产品的需求量越来越大，同时，超大规模集成电路和片上系统的发展使得电子产品的功能大多集成在主板上，因此，为保证产品质量，需要设置主板功能测试环节对主板质量进行严格把控。然而，该环节产生的测试成本不容忽视，有必要通过设计合适的测试策略减少测试成本。
[0003]目前主要通过测项排序和测项选择两种方法设计测试策略，但是测项排序方法仅能减少不良主板的测试时间，不适用于主板生产这种大批量、高良率的产品测试。
技术实现思路
[0004]基于
技术介绍
存在的技术问题，本专利技术提出了一种基于可靠性分析的主板功能测试策略方法及系统，能够解决行业内现行的主板功能测试策略设计方法缺乏理论依据的问题，并且在保证行业良率要求的情况下提升整体经济效益。
[0005]本专利技术提出的一种基于可靠性分析的主板功...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于可靠性分析的主板功能测试策略方法，包括如下步骤：S1：分析主板电路图，建立针对主板功能测试环节的故障树；S2：对所述故障树进行可靠性分析，计算所述故障树中的中间事件的发生概率，基于所述发生概率设定主板功能测项的可靠性指标阈值；S3：统计实际产线上主板的测试数据，计算主板功能测项的实际不良率，将所述实际不良率和所述可靠性指标阈值进行比较，得到所述主板功能测项的测试策略。2.根据权利要求1所述的基于可靠性分析的主板功能测试策略方法，其特征在于，在步骤S4后，基于主板的平均测试时间、缺陷水平和平均测试总成本对所述主板的测试策略进行有效性验证，具体验证过程如下：基于所述平均测试时间评价所述测试策略的测试效率；基于所述缺陷水平评价所述测试策略的测试质量；基于所述平均测试总成本评价所述测试策略的综合水平。3.根据权利要求2所述的基于可靠性分析的主板功能测试策略方法，其特征在于，所述平均测试时间的计算公式如下：f1＝t
T
s其中，f1表示平均测试时间，t
T
表示对实际产线上主板的平均测试时间t的转置，s表示测试策略；所述缺陷水平的计算公式如下：所述缺陷水平的计算公式如下：所述缺陷水平的计算公式如下：其中，f2表示缺陷水平，p0表示使用测试策略s时真实的合格主板数目，p表示使用测试策略s时测试通过的主板数目，n表示主板的数目，m表示每块主板的功能测试项目数，s
i
表示第i个功能测项的测试策略，D
i,k
表示第k块主板的第i个功能测项的实际测试结果；所述平均测试总成本的计算公式如下：其中，f表示平均测试总成本，w表示一块假阳性主板所造成的维修成本。4.根据权利要求1所述的基于可靠性分析的主板功能测试策略方法，其特征在于，在步骤S1：分析主板电路图，建立针对主板功能测试环节的故障树中，具体包括：系统分析主板的原理图，将主板分为CPU模块、PCH芯片组模块、EC模块和各功能模块，其中各功能模块与主板功能测项直接对应；系统分析各功能模块的故障原因，所述故障原因包括测项功能模块本身不良以及与测
项功能模块直接相连的模块不良；通过分析主板的生产工艺流程和故障主板的维修记录数据，确定引发主板功能测项故障的根本原因；以主板故障为顶事件，以主板功能测项故障为中间事件，以引发主板功能测项故障的根本原因为基本事件，建立针对主板功能测试环节的故障树。5.根据权利要求4所述的基于可靠性分析的主板功能测试策略方法，其特征在于，在步骤S2：对所述故障树进行可靠性分析，计算所述中间事件的发生概率，基于所述发生概率设定主板功能测项的可靠性指标阈值中，具体包括：利用故障主板的维修记录数据，统计基本事件的发生概率；对所述中间事件的故障树分支化简后与所述基本事件相连；基于基本事件的发生概率计算...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵云波，李瑶瑶，王康成，康宇，柏鹏，
申请(专利权)人：合肥综合性国家科学中心人工智能研究院安徽省人工智能实验室，
类型：发明
国别省市：
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