【技术实现步骤摘要】
触摸屏均匀性的检测方法、装置和计算机可读存储介质
[0001]本专利技术涉及触摸屏检测
，特别是涉及一种触摸屏均匀性的检测方法、装置和计算机可读存储介质。
技术介绍
[0002]本部分提供了与本申请相关的背景信息，这些信息并不必然构成现有技术。
[0003]目前，触摸屏被广泛地应用于人机交互的输入/输出界面。在相关技术中，触摸屏包括面板和位于面板下方的传感器，传感器的功能检测包括产品均匀性检测，是一种直接收集记录触摸屏电性参数的方式。为了保证触控屏产品的品质，需要保证触摸屏体验效果的一致性。因此，有必要提供一种触摸屏均匀性的检测方法和装置。
[0004]在触摸屏均匀性检测中，触摸屏的多个目标像素的电容值可能与标准电容值存在差值，该差值为影响触摸屏均匀性的主要因素，因此现有的对于触摸屏均匀性检测的技术方案中，是通过对触摸屏面板的各个电容值来进行判断，例如以某一基准值，上下浮动一定的百分比进行判断，当实际的电容值超过该百分比时，判断为电容值的大小异常，会将对应的屏幕判定为不良品。但这样的判断方式容易出现问题...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种触摸屏均匀性的检测方法，所述触摸屏包括目标区域，所述目标区域内有多个目标像素，其特征在于，所述检测方法包括如下步骤：步骤S100、测量多个所述目标像素的电容值，利用多个所述目标像素的电容值得到对应的电容值矩阵；步骤S200、利用所述电容值矩阵计算得到每行和/或每列的百分比差值；步骤S300、将所述电容值矩阵中的某个电容值提升或降低预设百分比，根据该电容值所在行的百分比差值的变化值和/或该电容值所在列的百分比差值的变化值、以及与该电容值间接关联的行的百分比差值的变化值和/或与该电容值间接关联的列的百分比差值的变化值来判断多个所述目标像素的均匀性；步骤S400、根据多个所述目标像素的均匀性确定所述目标区域的均匀性。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述电容值矩阵包括n列和m行，所述n和所述m均为大于0的正整数。3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，在所述步骤S200中，计算所述电容值矩阵的每列的百分比差值包括如下步骤：步骤S210、将第y列的最大数值和最小数值相减得到第一数值，0＜y≤n并且y为整数；步骤S211、将第y列的平均值和位于其右侧一列的平均值相减并且取绝对值得到第二数值，若y＝n，则将第n列的平均值和第1列的平均值相减并且取绝对值；步骤S212、将第y列的数值和位于其右侧一列的数值相加取平均值得到第三数值，若y＝n，则将第n列的数值和第1列的数值相加取平均值；步骤S213、将所述第一数值和所述第二数值相加后除以所述第三数值，然后乘以100得到第四数值；步骤S214、将所述第四数值向下四舍五入到一个小数位得到第y列的百分比差值；步骤...
【专利技术属性】
技术研发人员：王勇，王士锋，胡君文，
申请(专利权)人：信利惠州智能显示有限公司，
类型：发明
国别省市：
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