一种PCIE加速卡老化测试方法、系统、终端及存储介质技术方案

本发明专利技术涉及老化测试领域，具体公开一种PCIE加速卡老化测试方法、系统、终端及存储介质，为每个PCIE加速卡申请各自的直接读写缓冲区；将老化测试数据拷贝到各个直接读写缓冲区；触发直接存储器访问控制器将直接读写缓冲区中到老化测试数据传输到对应的PCIE加速卡的内存，以同时对各个PCIE加速卡进行老化测试；响应于直接读写缓冲区中的老化测试数据到PCIE加速卡内存传输完成，触发PCIE加速卡进行老化测试校验；接收各个PCIE加速卡的老化测试结果，并展示在人机交互界面。本发明专利技术基于直接存储器访问技术，实现在不影响CPU性能的基础上同时对多个PCIE设备进行老化测试，有效提高测试效率，进而提高企业产能，降低产品成本。降低产品成本。降低产品成本。

【技术实现步骤摘要】
一种PCIE加速卡老化测试方法、系统、终端及存储介质


[0001]本专利技术涉及老化测试领域，具体涉及一种PCIE加速卡老化测试方法、系统、终端及存储介质。

技术介绍

[0002]当前，人工智能技术已经改变了人们与周围环境互动的方式，从智能家居设备到自动驾驶汽车，无不影响着人们的生活。而作为人工智能的基石——PCIE加速卡成为企业提高竞争力的重要技术。
[0003]公司在大量研发生产加速卡的同时，产品的质量也成为至关重要的一环，为了保证加速卡在出厂后功能正常，加速芯片稳定运转，每张加速卡在出厂前都要做24小时以上的老化测试。PCIE加速卡的老化测试是将大量数据传输到PCIE加速卡，让PCIE加速卡处理大量数据。当前，PCIE加速卡老化测试过程中，数据的传输过程是由CPU控制，来处理数据传输事务，将内存的大量数据传输到PCIE加速卡，对CPU和内存的需求非常大。而为了降低老化测试对CPU和内存的影响，一般一个服务器只挂载少量的PCIE加速卡进行老化测试。然而，随着人工智能、大数据的发展，市场对加速卡需求不断增加，PCIE加速卡产品种类和数本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种PCIE加速卡老化测试方法，其特征在于，包括以下步骤：为每个PCIE加速卡申请各自的直接读写缓冲区；将老化测试数据拷贝到各个直接读写缓冲区；触发直接存储器访问控制器将直接读写缓冲区中到老化测试数据传输到对应的PCIE加速卡的内存，以同时对各个PCIE加速卡进行老化测试；响应于直接读写缓冲区中的老化测试数据到PCIE加速卡内存传输完成，触发PCIE加速卡进行老化测试校验；接收各个PCIE加速卡的老化测试结果，并展示在人机交互界面。2.根据权利要求1所述的PCIE加速卡老化测试方法，其特征在于，为每个PCIE加速卡申请各自的直接读写缓冲区之前，还包括以下步骤：获取各个PCIE加速卡的描述标识符信息；将每个PCIE槽位与其对应的PCIE加速卡描述标识符信息进行关系绑定。3.根据权利要求2所述的PCIE加速卡老化测试方法，其特征在于，获取各个PCIE加速卡的老化测试结果，并展示在人机交互界面，具体包括：获取各个PCIE加速卡的老化测试结果；根据PCIE加速卡的描述标识符信息匹配到对应的PCIE槽位信息；在人机交互界面展示每个PCIE加速卡的老化测试结果及对应的PCIE槽位信息。4.根据权利要求1、2或3所述的PCIE加速卡老化测试方法，其特征在于，触发直接存储器访问控制器将直接读写缓冲区中到老化测试数据传输到对应的PCIE加速卡的内存之前，还包括以下步骤：根据老化测试数据的源地址和目标地址，配置直接存储器访问控制器的基地址寄存器、长度寄存器和控制寄存器。5.根据权利要求4所述的PCIE加速卡老化测试方法，其特征在于，接收各个PCIE加速卡的老化测试结果，具体包括：接收PCIE加速卡反馈数据校验结果，根据数据校验结果判定数据链路传输是否异常；响应于数据校验结...

【专利技术属性】
技术研发人员：王云胜，刘传彬，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：