距离测量装置、自动门系统、开闭系统以及距离测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术的目的是削减用于距离测量的处理量。本发明专利技术的检测装置(30)包括：发光元件(31)以及图像传感器(33)，所述图像传感器(33)二维地配置有具备受光元件(33Aa)的多个像素部(33A)。图像传感器(33)包括位置输出部，所述位置输出部在受光元件(33Aa)的受光量超过第一阈值时，输出具备所述受光元件(33Aa)的像素部(33A)在图像传感器(33)中的位置。检测装置(30)包括：位置判定部(34B)，将一边改变与对象物的距离，一边在图像传感器(33)上将照射光束被对象物反射的反射光束在图像传感器(33)上成像的点连结而成的线作为反射轨迹时，判定所述位置是否位于反射轨迹上；以及距离导出部(34C)，当所述位置位于反射轨迹上时，使用所述位置与直至对象物为止的距离的关系，导出直至对象物为止的距离。对象物为止的距离。对象物为止的距离。

【技术实现步骤摘要】
距离测量装置、自动门系统、开闭系统以及距离测量方法


[0001]本公开涉及一种测量与对象物的距离的距离测量装置等。

技术介绍

[0002]测量与对象物的距离的距离测量装置已得到广泛普及。此类距离测量装置中，有时要求尽可能缩短直至距离测量为止的时间。为了解决此类问题，专利文献1以及专利文献2中公开了削减用于距离测量的处理量(计算量)的技术。
[0003][现有技术文献][0004][专利文献][0005]专利文献1：日本专利特表2021
‑
518535号公报
[0006]专利文献2：日本专利特表2021
‑
522730号公报

技术实现思路

[0007][专利技术所要解决的问题][0008]但是，关于专利文献1以及专利文献2的技术，存在进一步改良的空间。
[0009]本公开的一形态的目的在于实现一种能够削减用于距离测量的处理量的距离测量装置以及距离测量方法。
[0010][解决问题的手段][0011]为了解决所述问题，本公开的一形态所涉及的距离测量装置包括：一个以上本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种距离测量装置，其特征在于，包括：一个以上的发光元件；以及二维地配置有具备受光元件的多个像素部的图像传感器，所述图像传感器具备位置输出部，所述位置输出部在所述受光元件中的受光量超过第一阈值时，输出具备所述受光元件的所述像素部在所述图像传感器中的位置，并且所述距离测量装置包括：位置判定部，将一边改变与所述对象物的距离，一边在所述图像传感器上将来自所述发光元件的照射光束被对象物反射的反射光束在所述图像传感器上成像的点连结而成的线作为反射轨迹时，判定所述位置是否位于所述反射轨迹上；以及距离导出部，当所述位置位于所述反射轨迹上时，使用所述位置与直至所述对象物为止的距离的关系，导出直至所述对象物为止的距离。2.根据权利要求1所述的距离测量装置，其特征在于，对于所述多个像素部分别配设有事件产生部，所述事件产生部在各受光元件中的受光量超过所述第一阈值时产生事件，所述位置输出部输出所述事件产生部产生了所述事件的所述像素部在所述图像传感器中的位置。3.根据权利要求2所述的距离测量装置，其特征在于，所述第一阈值以及第二阈值被设定为相对于基准受光量的比例，所述基准受光量在所述事件的产生后，被更新为该产生后的受光量，所述第一阈值所表示的受光量比所述基准受光量大所述基准受光量的第一比例量，所述第二阈值所表示的受光量比所述基准受光量小所述基准受光量的第二比例量，所述事件产生部除了在所述受光元件中的所述受光量超过所述第一阈值时，还在低于所述第二阈值时产生所述事件。4.根据权利要求3所述的距离测量装置，其特征在于，所述事件产生部产生能够识别所述受光量是超过所述第一阈值还是低于所述第二阈值的事件。5.根据权利要求4所述的距离测量装置，其特征在于，用于设定所述第一阈值的所述第一比例的绝对值大于用于设定所述第二阈值的所述第二比例的绝对值，所述距离测量装置包括同一像素事件判定部，所述同一像素事件判定部判定是否在规定时间内，同一受光元件中的所述受光量在超过了所述第一阈值后低于所述第二阈值，所述位置判定部判定具备由所述同一像素事件判定部判定为同一受光元件中的所述受光量在超过了所述第一阈值后低于所述第二阈值的受光元件的像素部的位置是否位于所述反射轨迹上。6.根据权利要求2所述的距离测量装置，其特征在于，所述图像传感器具备时刻输出部，所述时刻输出部输出所述事件产生部产生所述事件的时刻。7.根据权利要求2所述的距离测量装置，其特征在于，所述图像传感器具备受光量...

【专利技术属性】
技术研发人员：大庭浩之，平井和彦，
申请(专利权)人：欧宝士株式会社，
类型：发明
国别省市：