光学测试仪及光学测试设备制造技术

本发明专利技术公开了一种光学测试仪及光学测试设备。本发明专利技术的光学测试仪包括积分球、转接组件、第一收光组件和CCD组件，积分球限定出反射腔、第一入光孔和第一出光孔，第一入光孔和第一出光孔均与反射腔连通；转接组件限定有分光腔、第一分光孔和第二分光孔，分光腔和反射腔通过第一出光孔连通；第一收光组件通过第一分光孔与分光腔连通；CCD组件通过第二分光孔与分光腔连通；转接组件包括第一分光件，第一分光件设置于分光腔内，第一分光件能够将从第一出光孔射向第一分光件的入射光线分化为射向第一分光孔的第一光线和射向第二分光孔的第二光线。该光学测试仪的CCD组件和第一收光组件为一体化设计。件为一体化设计。件为一体化设计。

【技术实现步骤摘要】
光学测试仪及光学测试设备


[0001]本专利技术涉及发光元件测试领域，尤其涉及一种光学测试仪及光学测试设备。

技术介绍

[0002]发光二极管等发光元件在安装好后需要进行光学性能的测试，以保证坏品能够被及时发现。测试设备在进行测试中，通过探针给发光元件通电从而便于检测其光学性能。探针设置于针座上，探针能够移动至与发光二极管的PAD触点(电极或压焊点)接触，从而发光二极管被点亮。由于PAD触点的体积较小，需要借助CCD相机观察以便于探针准确的扎在PAD触点上。测试过程中，首先将CCD相机移动到测试样品上方，使用CCD相机观察测试样品和PAD触点，通过针座对探针的位置进行调整，以使探针和PAD触点接触并位于PAD触点的中心。
[0003]当探针位置调好后，移走CCD相机。再将积分球移动到测试样品上方进行收光测试。由于CCD相机和积分球都需要在测试样品的上方进行测试，因此无法同时进行CCD相机观察和积分球收光，进而在测试过程中需要不断的切换CCD相机和积分球的位置，当进行大批量的发光二极管的测试时，测试步骤较多，移动行程较长，不利于提高检测效率。

技术实现思路

[0004]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种光学测试仪，其CCD组件和第一收光组件为一体化设计，在使用CCD组件对探针的针位进行观察后，无需移动CCD组件即可进行第一收光组件的收光测试。
[0005]本专利技术还提出一种具有上述光学测试仪的光学测试设备。
[0006]根据本专利技术的第一方面实施例的光学测试仪，包括：
[0007]积分球，所述积分球限定出反射腔、第一入光孔和第一出光孔，所述第一入光孔和所述第一出光孔均与所述反射腔连通；
[0008]转接组件，所述转接组件限定有分光腔、第一分光孔和第二分光孔，所述分光腔和所述反射腔通过所述第一出光孔连通；
[0009]第一收光组件，所述第一收光组件通过所述第一分光孔与所述分光腔连通；
[0010]CCD组件，所述CCD组件通过所述第二分光孔与所述分光腔连通；
[0011]其中，所述转接组件包括第一分光件，所述第一分光件设置于所述分光腔内，所述第一分光件能够将从所述第一出光孔射向所述第一分光件的入射光线分化为射向所述第一分光孔的第一光线和射向所述第二分光孔的第二光线。
[0012]根据本专利技术实施例的光学测试仪，至少具有如下有益效果：由于CCD组件和第一收光组件为一体化设计，在使用CCD组件对探针的针位进行观察后，无需移动CCD组件即可进行第一收光组件的收光测试，无需切换发光元件上方的硬件设施，减少了测试过程中的操作程序。并且，CCD组件和第一收光组件共用同一入光孔的光线，在发光测试的过程中，操作者能够通过CCD组件的成像实时的观察发光元件的工作状态以及探针与PAD触点的接触状
态，当发光元件在工作过程中出现故障时能够及时发现故障。
[0013]根据本专利技术的一些实施例，所述第一分光孔的轴线与所述第一出光孔的轴线同轴设置，所述第二分光孔的轴线与所述第一出光孔的轴线垂直设置。
[0014]根据本专利技术的一些实施例，所述第一分光件为片状结构，所述第一分光件倾斜设置于所述分光腔内。
[0015]根据本专利技术的一些实施例，所述第一分光件由半反半透的材料制成，或者，所述第一分光件朝向所述第一出光孔的侧面上贴有半反半透膜。
[0016]根据本专利技术的一些实施例，所述第一分光件包括两个棱镜，所述棱镜的横截面形状为直角三角形结构，两个所述棱镜的斜面贴合设置。
[0017]根据本专利技术的一些实施例，所述转接组件还包括第一转接件和第二转接件，所述第一转接件和所述第二转接件可拆卸连接，沿所述第一光线的射出方向，所述第一分光孔依次包括第一通孔段和第二通孔段，所述第一通孔段由所述第一转接件限定出，所述第二通孔段由所述第二转接件限定出，所述第二转接件的顶面上还设置有与所述第二通孔段连通的第一凹槽，所述光学测试仪还包括衰减件，所述衰减件设置于所述第一凹槽中。
[0018]根据本专利技术的一些实施例，所述CCD组件包括第一导光管、第二导光管、光源、CCD相机和第二分光件，所述第一导光管沿所述第二分光孔的轴向延伸，并于所述第一导光管的末端与所述CCD相机连接，所述第二导光管的一端与所述光源连接，另一端垂直于所述第一导光管设置，并与所述第一导光管连通，所述第二分光件倾斜设置于所述第一导光管和所述第二导光管的相交处，以使所述光源发出的光线能够经过所述第二分光件的反射和所述第一分光件的反射后，从所述第一入光孔射出。
[0019]根据本专利技术的一些实施例，所述积分球还包括第二出光孔，所述光学测试仪还包括第二收光组件，所述第二收光组件通过所述第二出光孔与所述反射腔连通。
[0020]根据本专利技术的第二方面实施例的光学测试仪，包括：
[0021]积分球，所述积分球限定出反射腔、第一入光孔、第一出光孔和第二出光孔；
[0022]第一收光组件，所述第一收光组件通过所述第一出光孔与所述反射腔连通；
[0023]CCD组件，所述CCD组件通过所述第二出光孔与所述反射腔连通；
[0024]其中，所述第一出光孔的轴线与所述第一入光孔的轴线相交设置，所述第二出光孔的轴线与所述第一入光孔的轴线同轴设置。
[0025]根据本专利技术实施例的光学测试仪，至少具有如下有益效果：该种结构的光学测试仪结构更为简单，在探针对位完成后无需切换CCD组件的位置即能够实现光学性能的检测，并且能够在进行亮度检测等光学测试时同步对探针的针位进行观察。
[0026]根据本专利技术的第三方面实施例的光学测试设备，包括：
[0027]测试平台，所述测试平台用于放置发光元件；
[0028]两个探针，所述探针分别连接电源的正极和负极；
[0029]针座，所述针座与所述探针连接，所述针座能够调节所述探针的位置；
[0030]如上述任一项实施例所述的光学测试设备；
[0031]其中，所述探针能够分别与所述发光元件连接，以使所述发光元件通电，所述光学测试仪能够移动至所述发光元件的上方，以分别进行所述探针的定位和所述发光元件的光学性能测试。
[0032]根据本专利技术实施例的光学测试设备，至少具有如下有益效果：光学测试仪移动至发光元件的上方后，能够依次进行探针的定位操作和发光元件的光学性能测试，无需重复移动。针对大批量的光学元件检测的情况，能够极大地提高检测的效率。
[0033]本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0034]下面结合附图和实施例对本专利技术做进一步的说明，其中：
[0035]图1为相关技术中CCD相机辅助对位时与发光元件的相对位置示意图；
[0036]图2为图1中A区域的放大示意图；
[0037]图3为相关技术中第一收光组件进行光学测试时与发光元件的相对位置示意图；...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.光学测试仪，其特征在于，包括：积分球，所述积分球限定出反射腔、第一入光孔和第一出光孔，所述第一入光孔和所述第一出光孔均与所述反射腔连通；转接组件，所述转接组件限定有分光腔、第一分光孔和第二分光孔，所述分光腔和所述反射腔通过所述第一出光孔连通；第一收光组件，所述第一收光组件通过所述第一分光孔与所述分光腔连通；CCD组件，所述CCD组件通过所述第二分光孔与所述分光腔连通；其中，所述转接组件包括第一分光件，所述第一分光件设置于所述分光腔内，所述第一分光件能够将从所述第一出光孔射向所述第一分光件的入射光线分化为射向所述第一分光孔的第一光线和射向所述第二分光孔的第二光线。2.根据权利要求1所述的光学测试仪，其特征在于，所述第一分光孔的轴线与所述第一出光孔的轴线同轴设置，所述第二分光孔的轴线与所述第一出光孔的轴线垂直设置。3.根据权利要求1所述的光学测试仪，其特征在于，所述第一分光件为片状结构，所述第一分光件倾斜设置于所述分光腔内。4.根据权利要求3所述的光学测试仪，其特征在于，所述第一分光件由半反半透的材料制成，或者，所述第一分光件朝向所述第一出光孔的侧面上贴有半反半透膜。5.根据权利要求1所述的光学测试仪，其特征在于，所述第一分光件包括两个棱镜，所述棱镜的横截面形状为直角三角形结构，两个所述棱镜的斜面贴合设置。6.根据权利要求1所述的光学测试仪，其特征在于，所述转接组件还包括第一转接件和第二转接件，所述第一转接件和所述第二转接件可拆卸连接，沿所述第一光线的射出方向，所述第一分光孔依次包括第一通孔段和第二通孔段，所述第一通孔段由所述第一转接件限定出，所述第二通孔段由所述第二转接件限定出，所述第二转接件的顶面上还设置有与所述第二通孔段连...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴贵阳，
申请(专利权)人：矽电半导体设备深圳股份有限公司，
类型：发明
国别省市：