一种基于二分法的芯片测试档位确定系统和方法技术方案

本发明专利技术公开了一种基于二分法的芯片测试档位确定系统和方法，其中系统包括：数据获取模块，用于使用测试机获取多个测试芯片的档位数据与对应的电流数据；数据排序模块，用于将所述档位数据按照电流数据的大小排序；二分法查找模块，用于将所述档位数据规整至同一数组中；将数组中的数据通过二分法进行查找，直至找到所述多个测试芯片的最佳电流档位。通过本发明专利技术，针对非线性序列的芯片测试档位及电流数据，重新排序使所述电流数据其变成单调递增或递减的序列，再使用二分法进行档位数据查找，快速找到最佳的测试档位，进而减少测试时间，缩减产品测试成本。缩减产品测试成本。缩减产品测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种基于二分法的芯片测试档位确定系统和方法


[0001]本专利技术涉及半导体
，具体而言，涉及一种基于二分法的芯片测试档位确定系统和方法。

技术介绍

[0002]芯片测试是半导体后道封装测试的第一站，目的是确保每个芯片能基本满足器件的特征或设计规格书。由于工艺变化会对芯片电路性能产生影响，而导致芯片的实际电流值与目标电流值出现偏差，因此在芯片的测试过程中，需要对芯片的模拟参数进行修调，在芯片制造时，通常将每一个模拟参数均设计出多个修调档位，然后在后期芯片测试时，在模拟参数的多个修调档位及其对应的电流值中找到与目标电流值最接近的电流值，以及找到该电流值对应的修调档位，进行修调。
[0003]在现有技术中，最常用的对芯片的模拟参数进行修调的方法之一是：测试模拟参数的全部修调档位对应的电流值，并找到最接近目标修调量对应的目标修调档位，再利用目标修调档位对芯片的模拟参数进行修调；此种修调方式，虽然修调精度高，但是需要对所有修调档位进行测试导致测试时间长，修调效率低。并且，为了增加测试效率，通常会将多个样品芯片同时进行测试，这样一来，使用现有的测试方法耗费的测试时间更多。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术提供一种基于二分法的芯片测试档位确定系统和方法，针对非线性序列的芯片测试档位及电流数据，重新排序使所述电流数据其变成单调递增或递减的序列，再使用二分法进行档位数据查找，快速找到最佳的测试档位，进而减少测试时间，缩减产品测试成本。
[0005]具体的，本专利技术的技术方案如下：
[0006]第一方面，本专利技术公开一种基于二分法的芯片测试档位确定系统，包括：
[0007]数据获取模块，用于使用测试机获取多个测试芯片的档位数据与对应的电流数据；
[0008]数据排序模块，用于将所述档位数据按照电流数据的大小排序；
[0009]二分法查找模块，用于将所述档位数据规整至同一数组中；将数组中的数据通过二分法进行查找，直至找到所述多个测试芯片的最佳电流档位。
[0010]在一些实施方式中，所述二分法查找模块，包括：
[0011]目标电流获取子模块，用于获取目标电流值；
[0012]数据规整子模块，用于将排序后的档位数据，依次排列至同一数组中；
[0013]中间值查找子模块，用于查找所述数组的中间位置，并基于所述中间位置将所述数组分为前数组和后数组；获取所述中间位置对应的档位数据作为参考档位；
[0014]所述数据获取模块，还用于获取各个测试芯片所述参考档位对应的电流值大小；
[0015]电流值对比子模块，用于对比所述目标电流值与所述参考档位对应的电流值的大
小，获取各个测试芯片的标准档位；
[0016]档位确定子模块，用于基于各个测试芯片的标准档位，确定所述多个测试芯片的最佳电流档位。
[0017]在一些实施方式中，当所述电流数据的排列顺序是由小到大排列时，所述电流值对比子模块，具体用于：
[0018]若所述目标电流值处于所述参考档位对应的电流值区间范围内，则所述参考档位为所述测试芯片的标准档位；
[0019]若所述目标电流值大于所述参考档位对应的电流值区间范围，则通过所述中间值查找子模块在所述后数组中重新查找中间位置，以便获取新的参考档位进行比对；
[0020]若所述目标电流值小于所述参考档位对应的电流值区间范围，则通过所述中间值查找子模块在所述前数组中重新查找中间位置，以便获取新的参考档位进行比对。
[0021]在一些实施方式中，所述档位确定子模块，具体包括：
[0022]统计单元，用于基于各个测试芯片的标准档位，统计各标准档位对应的测试芯片的数量；
[0023]判定单元，用于选取对应的测试芯片数量最多的标准档位为所述多个测试芯片的最佳电流档位。
[0024]第二方面，本专利技术还公开一种基于二分法的芯片测试档位确定方法，包括如下步骤：
[0025]使用测试机获取多个测试芯片的档位数据与对应的电流数据；
[0026]将所述档位数据按照电流数据的大小排序；
[0027]将所述档位数据规整至同一数组中；将数组中的数据通过二分法进行查找，直至找到所述多个测试芯片的最佳电流档位。
[0028]在一些实施方式中，所述将数组中的数据通过二分法进行查找；包括如下步骤：
[0029]获取目标电流值；
[0030]将排序后的档位数据，依次排列至同一数组中；
[0031]查找所述数组的中间位置，并基于所述中间位置将所述数组分为前数组和后数组；获取所述中间位置对应的档位数据作为参考档位；
[0032]获取各个测试芯片所述参考档位对应的电流值大小；
[0033]对比所述目标电流值与所述参考档位对应的电流值的大小，获取各个测试芯片的标准档位；
[0034]基于各个测试芯片的标准档位，确定所述多个测试芯片的最佳电流档位。
[0035]在一些实施方式中，所述对比所述目标电流值与所述参考档位对应的电流值的大小，获取各个测试芯片的标准档位；具体包括：
[0036]当所述电流数据的排列顺序是由小到大排列时，对比所述目标电流值与所述参考档位对应的电流值的大小；
[0037]若所述目标电流值处于所述参考档位对应的电流值区间范围内，则所述参考档位为所述测试芯片的标准档位；
[0038]若所述目标电流值大于所述参考档位对应的电流值区间范围，则在所述后数组中重新查找中间位置，以便获取新的参考档位进行比对；
[0039]若所述目标电流值小于所述参考档位对应的电流值区间范围，则在所述前数组中重新查找中间位置，以便获取新的参考档位进行比对。
[0040]在一些实施方式中，所述基于各个测试芯片的标准档位，确定所述多个测试芯片的最佳电流档位，具体包括：
[0041]基于各个测试芯片的标准档位，统计各标准档位对应的测试芯片的数量；
[0042]选取对应的测试芯片数量最多的标准档位为所述多个测试芯片的最佳电流档位。
[0043]与现有技术相比，本专利技术至少具有以下一项有益效果：
[0044]1、通过针对非单调序列的数据，将原有的非线性每个档位逐次扫描的方式，通过重新排布档位的方式变成线性关系，进而可以采用二分法方式进行实现快速的参考档位查找，进而获取最佳档位，节约测试时间和测试成本。
[0045]2、本专利技术可提升测试效率，可以将多个芯片样品进行批量测试，基于各个测试芯片的标准档位，统计各标准档位对应的测试芯片的数量，选取对应的测试芯片数量最多的标准档位为所述多个测试芯片的最佳电流档位，以便在找到最佳电流档位之后，对所述最佳档位的参数进行修调，提高测试效率。
附图说明
[0046]下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对本专利技术的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。
[0047]图1为本专利技术一种基于二分法的芯片测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于二分法的芯片测试档位确定系统，其特征在于，包括：数据获取模块，用于使用测试机获取多个测试芯片的档位数据与对应的电流数据；数据排序模块，用于将所述档位数据按照电流数据的大小排序；二分法查找模块，用于将所述档位数据规整至同一数组中；将数组中的数据通过二分法进行查找，直至找到所述多个测试芯片的最佳电流档位。2.如权利要求1所述的一种基于二分法的芯片测试档位确定系统，其特征在于，所述二分法查找模块，包括：目标电流获取子模块，用于获取目标电流值；数据规整子模块，用于将排序后的档位数据，依次排列至同一数组中；中间值查找子模块，用于查找所述数组的中间位置，并基于所述中间位置将所述数组分为前数组和后数组；获取所述中间位置对应的档位数据作为参考档位；所述数据获取模块，还用于获取各个测试芯片所述参考档位对应的电流值大小；电流值对比子模块，用于对比所述目标电流值与所述参考档位对应的电流值的大小，获取各个测试芯片的标准档位；档位确定子模块，用于基于各个测试芯片的标准档位，确定所述多个测试芯片的最佳电流档位。3.如权利要求2所述的一种基于二分法的芯片测试档位确定系统，其特征在于，当所述电流数据的排列顺序是由小到大排列时，所述电流值对比子模块，具体用于：若所述目标电流值处于所述参考档位对应的电流值区间范围内，则选取所述参考档位为所述测试芯片的标准档位；若所述目标电流值大于所述参考档位对应的电流值区间范围，则通过所述中间值查找子模块在所述后数组中重新查找中间位置，以便获取新的参考档位进行比对；若所述目标电流值小于所述参考档位对应的电流值区间范围，则通过所述中间值查找子模块在所述前数组中重新查找中间位置，以便获取新的参考档位进行比对。4.如权利要求2所述的一种基于二分法的芯片测试档位确定系统，其特征在于，所述档位确定子模块，具体包括：统计单元，用于基于各个测试芯片的标准档位，统计各标准档位对应的测试芯片的数量；判定单元，用于选取对应的测试芯片数量最多的标准档位为所述多个测试芯...

【专利技术属性】
技术研发人员：李腾，
申请(专利权)人：普冉半导体上海股份有限公司，
类型：发明
国别省市：