高速冲击下光电元件过载测试装置及其损伤评估方法制造方法及图纸

技术编号:38344463 阅读:10 留言:0更新日期:2023-08-02 09:24
本申请提出一种高速冲击下光电元件过载测试装置及其损伤评估方法,其中测试装置包括具有第一外壳本体的测试本体,第一外壳本体内具有分隔组件以及设于分隔组件两侧的光电元器件和第一载荷测量组件;还包括与第一载荷测量组件电连接的载荷获取组件;使用时,通过高速冲击力作用于第一外壳本体上,再通过分隔组件将冲击力传导至光电元器件和第一载荷测量组件上,通过载荷获取组件获得第一载荷测量组件测量的作用在光电元器件上的载荷大小;冲击后,将光电元器件取出并在损伤检测组件上检测得到损伤情况,和根据第一载荷测量组件得到作用到光电元器件上的载荷大小,得到载荷和损伤的对应关系,对制导系统光电元器件的选型和实施抗过载设计提供参考。施抗过载设计提供参考。施抗过载设计提供参考。

【技术实现步骤摘要】
高速冲击下光电元件过载测试装置及其损伤评估方法


[0001]本申请涉及光电元器件
,具体涉及一种高速冲击下光电元件过载测试装置及其损伤评估方法。

技术介绍

[0002]随着科学技术的发展,特别是微电子技术、光电子技术的快速发展,极大地推进了弹药的制导化过程,但是在弹药发射过程中会存在极大的冲击载荷,在这种极端工况下,如果不对制导系统采取减载措施,会对制导系统的各类光电元器件造成不良影响,严重的还将使光电元器件失效,无法正常工作。故,建立光电元器件损伤评估装置,为制导系统选择合适的光电元器件以及实施抗过载设计提供非常重要的参考。

技术实现思路

[0003]鉴于现有技术中的上述缺陷或不足,本申请旨在提供一种高速冲击下光电元件过载测试装置及其损伤评估方法。
[0004]第一方面,本申请提供一种高速冲击下光电元件过载测试装置,包括测试本体、载荷获取组件以及损伤检测组件;
[0005]所述测试本体包括:
[0006]第一外壳本体,所述第一外壳本体内具有第一空间,其一端具有第一开口;
[0007]分隔组件,所述分隔组件设于所述第一空间的中部,其两端与所述第一外壳本体的内壁连接,所述分隔组件将所述第一空间分隔为与所述第一开口连通的第二空间以及第三空间;所述第二空间用于放置所述光电元器件,所述光电元器件设于所述分隔组件中部;
[0008]第一载荷测量组件,所述第一载荷测量组件置于所述第三空间,设于所述分隔组件远离所述光电元器件的一端,与所述光电元器件同轴设置;当靠近所述第一载荷测量组件侧的所述第一外壳本体的外壁受到高速冲击后,所述第一载荷测量组件用于测量传导至所述光电元器件上的冲击载荷;
[0009]所述载荷获取组件设于所述第一外壳本体外侧,与所述第一载荷测量组件电连接,所述载荷获取组件用于获取所述第一载荷测量组件测量的载荷;
[0010]所述损伤检测组件用于获取受到冲击后的所述光电元器件的损伤情况。
[0011]根据本申请实施例提供的技术方案,还包括:
[0012]测试腔体,所述测试腔体内具有第一腔体;
[0013]端盖本体,所述端盖本体设于所述第一腔体,包括沿第一方向分布设置的左端盖和右端盖;所述左端盖和所述右端盖相互靠近侧都设有第一凹槽,两个所述第一凹槽之间形成第四空间;
[0014]第二外壳本体,所述第二外壳本体置于所述第四空间内,其两端分别与所述左端盖和所述右端盖连接,所述第二外壳本体内沿所述第一方向分布设有第五空间和第六空间;所述测试本体设于所述第五空间内,其外壁与所述第二外壳本体的内壁紧贴;
[0015]第二载荷测量组件,所述第二载荷测量组件设于所述第六空间内,设于所述左端盖中部,与所述测试本体同轴设置;
[0016]冲击炮弹,所述冲击炮弹设于所述左端盖远离所述右端盖侧,其外壁紧贴所述测试腔体的内壁;
[0017]气动驱动组件,所述气动驱动组件用于驱动所述冲击炮弹所在所述左端盖远离所述右端盖端施加高速冲击力。
[0018]根据本申请实施例提供的技术方案,所述左端盖和所述冲击炮弹之间设有第一缓冲组件。
[0019]根据本申请实施例提供的技术方案,所述第一外壳本体外壁和所述第二外壳本体内壁之间设有第二缓冲组件。
[0020]根据本申请实施例提供的技术方案,所述测试腔体外套设有消音组件。
[0021]根据本申请实施例提供的技术方案,所述右端盖远离所述左端盖端与所述第一腔体内壁之间设有第三缓冲组件。
[0022]根据本申请实施例提供的技术方案,还包括:
[0023]跌落本体,所述跌落本体上设有所述测试本体,所述测试本体的轴线方向为第二方向,所述第一开口置于远离所述跌落本体侧;
[0024]电动驱动组件,所述电动驱动组件用于驱动所述跌落本体沿所述第二方向上升至预设高度;到达预设高度后,在重力作用下,所述跌落本体带动所述测试本体跌落。
[0025]根据本申请实施例提供的技术方案,所述跌落本体上设有载荷放大组件,所述载荷放大组件远离所述跌落本体侧设有所述测试本体。
[0026]根据本申请实施例提供的技术方案,所述载荷放大组件上设有安装块,所述安装块远离所述载荷放大组件侧安装有所述测试本体,所述安装块上还设有第三载荷测量组件,所述第三载荷测量组件设于所述测试本体一侧。
[0027]第二方面,本申请提出一种如以上所述的高速冲击下光电元件过载测试装置的损伤评估方法,包括如下步骤:
[0028]S100、将所述光电元器件安装至所述测试本体内;
[0029]S101、向所述测试本体施加高速冲击力;
[0030]S102、通过所述载荷获取组件获得所述第一载荷测量组件测量的载荷值,即为第一载荷值;
[0031]S103、取出所述光电元器件,并观察所述光电元器件的损伤情况;
[0032]S104、重复执行步骤S100

S103,获得损伤对应表;所述损伤对应表包括所述第一载荷值和与其对应的损伤情况。
[0033]综上所述,本申请提出一种高速冲击下光电元件过载测试装置,通过设置具有第一外壳本体的测试本体,第一外壳本体内具有分隔组件以及设于分隔组件两侧的光电元器件和第一载荷测量组件,当第一外壳本体受到高速冲击后,第一载荷测量组件用于测量传导至光电元器件上的冲击载荷;还包括与第一载荷测量组件电连接的载荷获取组件,用于获取第一载荷测量组件测量的载荷;使用时,通过高速冲击力作用于第一外壳本体上,再通过分隔组件将冲击力传导至光电元器件和第一载荷测量组件上,通过载荷获取组件获得第一载荷测量组件测量的作用在光电元器件上的载荷大小。
[0034]冲击后,将光电元器件取出并在损伤检测组件上检测得到损伤情况,和根据第一载荷测量组件得到作用到光电元器件上的载荷大小,得到载荷和损伤的对应关系,对制导系统光电元器件的选型和实施抗过载设计提供参考。另外,本申请通过在光电元器件外设置外壳,在外壳上施加高速冲击力,避免了直接在光电元器件上施加高速冲击力,避免了测试过程中多次损坏光电元器件,避免了浪费。
附图说明
[0035]图1为本申请实施例提供的测试本体的结构示意图;
[0036]图2为申请实施例1提供的测试装置的结构示意图;
[0037]图3为图2中A的局部放大图;
[0038]图4为本申请实施例2提供的测试装置的结构示意图;
[0039]图5为本申请实施例3提供的测试装置的损伤评估方法的流程图。
[0040]1、测试本体;11、第一外壳本体;12、第一开口;13、分隔组件;14、第二空间;15、第三空间;16、第一载荷测量组件;17、镜头底座;18、缓冲垫;2、光电元器件;3、测试腔体;31、第一腔体;41、左端盖;42、右端盖;43、第四空间;44、第二外壳本体;441、第五空间;442、第六空间;5、第二载荷测量组件;6、冲击炮弹;61、活塞;62、气源;63、充气本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高速冲击下光电元件过载测试装置,其特征在于,包括测试本体、载荷获取组件以及损伤检测组件;所述测试本体(1)包括:第一外壳本体(11),所述第一外壳本体(11)内具有第一空间,其一端具有第一开口(12);分隔组件(13),所述分隔组件(13)设于所述第一空间的中部,其两端与所述第一外壳本体(11)的内壁连接,所述分隔组件(13)将所述第一空间分隔为与所述第一开口(12)连通的第二空间(14)以及第三空间(15);所述第二空间(14)用于放置所述光电元器件(2),所述光电元器件(2)设于所述分隔组件(13)中部;第一载荷测量组件(16),所述第一载荷测量组件(16)置于所述第三空间(15),设于所述分隔组件(13)远离所述光电元器件(2)的一端,与所述光电元器件(2)同轴设置;当靠近所述第一载荷测量组件(16)侧的所述第一外壳本体(11)的外壁受到高速冲击后,所述第一载荷测量组件(16)用于测量传导至所述光电元器件(2)上的冲击载荷;所述载荷获取组件设于所述第一外壳本体(11)外侧,与所述第一载荷测量组件电连接,所述载荷获取组件用于获取所述第一载荷测量组件(16)测量的载荷;所述损伤检测组件用于获取受到冲击后的所述光电元器件(2)的损伤情况。2.根据权利要求1所述的高速冲击下光电元件过载测试装置,其特征在于,还包括:测试腔体(3),所述测试腔体(3)内具有第一腔体(31);端盖本体,所述端盖本体设于所述第一腔体(31),包括沿第一方向分布设置的左端盖(41)和右端盖(42);所述左端盖(41)和所述右端盖(42)相互靠近侧都设有第一凹槽,两个所述第一凹槽之间形成第四空间(43);第二外壳本体(44),所述第二外壳本体(44)置于所述第四空间(43)内,其两端分别与所述左端盖(41)和所述右端盖(42)连接,所述第二外壳本体(44)内沿所述第一方向分布设有第五空间(441)和第六空间(442);所述测试本体(1)设于所述第五空间(441)内,其外壁与所述第二外壳本体(44)的内壁紧贴;第二载荷测量组件(5),所述第二载荷测量组件(5)设于所述第六空间(442)内,设于所述左端盖(41)中部,与所述测试本体(1)同轴设置;冲击炮弹(6),所述冲击炮弹(6)设于所述左端盖(41)远离所述右端盖(42),其外壁紧贴所述第一腔体(31)的内壁;气动驱动组件,所述气动驱动组件用于驱动所述冲击炮弹(6)所在所述左端盖(41)远离所述右端盖...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘启明杨伟龙李涛史宝军樊铮炎
申请(专利权)人:河北工业大学
类型:发明
国别省市:

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