一种用于检测SF6混合气体中N2O杂质气体的光池制造技术

本发明专利技术公开了一种用于检测SF6混合气体中N2O杂质气体的光池，包括光池本体、发射部和接收部，所述光池本体两端分别连接发射部和接收部；所述发射部包括球形接头座、球形接头、第一平面镜、发射源结构、第一固定件和电磁铁。本发明专利技术的优点在于，通过对电磁铁通电并改变电磁铁上的电流大小来调整电磁铁对球形接头座的受力，使得球形接头座能够在第一固定件上转动来带动球形接头的转动，进而实现对第一平面镜的角度调节，保证发射源结构发出的光源经光池本体后能够对准接收部的中心点，从而提高检测灵敏度。敏度。敏度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测SF6混合气体中N2O杂质气体的光池


[0001]本专利技术涉及气体检测
，具体为一种用于检测SF6混合气体中N2O杂质气体的光池。

技术介绍

[0002]国家电网全面推广使用SF6混合气体GIS设备，已在全国范围内投入运行。SF6混合气体电气设备在运行过程中，由于局部放电、过热、击穿等故障，会导致SF6/N2混合气体分解，检测其特征分解产物含量是及时发现电气设备潜伏性故障或缺陷的重要手段。
[0003]SF6/N2分解产物除SF6气体中常见的特征分解组分SOF2、SO2F2、H2S、SO2等外，在N2参与反应后出现了N2O特征组分。如何实现SF6混合气体中N2O含量的检测，是SF6混合气体GIS设备运维的关键问题之一。
[0004]目前通常采用气相色谱仪检测N2O气体的浓度，气相色谱仪测量灵敏度高，但其检测时间长，不适用于电力设备现场运维检测。有研究表明，可以通过红外光谱法测量N2O含量，其结构简单，便于维护，可用于现场测量。例如公布号为CN115096817A的中国专利技术专利文献公开了一种检测SF6中CF4气体浓度的检测器，用于测SF6中CF4气体浓度的检测器，很明显，该装置同样也能检测SF6混合气体中N2O含量。由于SF6混合气体中N2O分解产物浓度为ppm级，采用红外光谱法检测SF6混合气体中的痕量N2O时，应提高其检测灵敏度。
[0005]根据红外光谱法的朗伯
‑
比尔(Lambert
‑
Beer)定律，气体衰减变化程度与发射与接收间的距离呈正相关，即延长光池长度可提高检测灵敏度；而随着光池的延长，若发射端产生细微的角度偏差，达到接收端时会出现与接收传感器中心点较大的距离偏差，导致接收信号变弱、灵敏度降低；并且经常会因为加工工艺精度不足，导致零件尺寸偏差，存在不易对准等问题，而且准度调节较为困难；因光池内部一般为较为光滑的反射面，即使未精确对准接收传感器中心点，接收传感器也能够接收到信号数据，误判为已对准，进而导致灵敏度降低。

技术实现思路

[0006]本专利技术所要解决的技术问题在于如何提高检测灵敏度。
[0007]为解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：
[0008]一种用于检测SF6混合气体中N2O杂质气体的光池，包括光池本体、发射部和接收部，所述光池本体两端分别连接发射部和接收部；
[0009]所述发射部包括球形接头座、球形接头、第一平面镜、发射源结构、第一固定件和电磁铁，所述球形接头座上连接卡接在光池本体上的球形接头，所述球形接头座、球形接头上开设有贯通的发射通孔，所述第一平面镜固定在球形接头的发射通孔内，所述球形接头座上设有安装孔，所述发射源结构通过多个第一固定件贯穿球形接头座上的安装孔连接光池本体，所述安装孔孔径大于第一固定件直径，所述发射源结构靠近球形接头座的一侧设置有能够吸附球形接头座的电磁铁；
[0010]对电磁铁通电并改变电磁铁上的电流大小来调整电磁铁对球形接头座的电磁力，改变球形接头座的受力，使得球形接头座能够在第一固定件上转动来带动球形接头的转动，进而调节第一平面镜的角度，致使发射源结构发出的光源经光池本体后能够对准接收部的中心点。
[0011]通过对电磁铁通电并改变电磁铁上的电流大小来调整电磁铁对球形接头座的受力，使得球形接头座能够在第一固定件上转动来带动球形接头的转动，进而实现对第一平面镜的角度调节，保证发射源结构发出的光源经光池本体后能够对准接收部的中心点，从而提高检测灵敏度。
[0012]优选地，所述光池本体上设有进气接头和出气接头。
[0013]优选地，所述发射源结构包括发射电路板和发射源，所述发射电路板通过多个第一固定件贯穿球形接头座上的安装孔连接光池本体，所述发射源和电磁铁均固定在发射电路板上。
[0014]优选地，所述发射电路板与球形接头座还连接有复位弹簧。
[0015]优选地，所述球形接头座上还固定有与电磁铁对应的铁块。
[0016]优选地，所述球形接头座靠近光池本体的一侧还设有第一密封垫圈。
[0017]优选地，所述光池本体上还设有限位螺钉。
[0018]优选地，所述接收部包括接收电路板、接收传感器、固定座、第二平面镜和第二固定件，所述接收电路板和固定座通过第二固定件固定在光池本体远离发射部的一端，所述固定座设置在光池本体和接收电路板之间，所述固定座上开设有接收通孔，所述第二平面镜固定在接收通孔内，所述接收传感器固定在接收电路板上。
[0019]优选地，所述固定座与光池本体之间设有第二密封垫圈。
[0020]优选地，所述第一固定件和第二固定件均为固定螺栓。
[0021]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0022]通过对电磁铁通电并改变电磁铁上的电流大小来调整电磁铁对球形接头座的受力，使得球形接头座能够在第一固定件上转动来带动球形接头的转动，进而实现对第一平面镜的角度调节，保证发射源结构发出的光源经光池本体后能够对准接收部的中心点，从而提高检测灵敏度。
附图说明
[0023]图1为本专利技术实施例的结构示意图；
[0024]图2为本专利技术实施例的剖视图。
具体实施方式
[0025]为便于本领域技术人员理解本专利技术技术方案，现结合说明书附图对本专利技术技术方案做进一步的说明。
[0026]在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接，还可以是通信；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可
以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
[0027]在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0028]参阅图1和图2，本实施例公开了一种用于检测SF6混合气体中N2O杂质气体的光池，包括光池本体1、发射部2和接收部3，所述光池本体1两端分别连接发射部2和接收部3，所述光池本体1上设有进气接头11和出气接头12，光池本体1的内壁通过黑色降低反射漆料浸染涂抹，气体通过进气接头11进入光池本体1内，并通过出气接头12排出，在本实施例中，所述光池本体1为三棱柱结构。
[0029]所述发射部2包括球形接头座21、球形接头22、第一平面镜23、发射源结构24、第一固定件25、电磁铁26、复位弹簧27、铁块(图中未标注)、第一密封垫圈28、限位螺钉29，所述球形接头座21上连接卡接在光池本体1上的球形接头22，所述球形接头座21、球形接头22上开设有贯通的发本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检测SF6混合气体中N2O杂质气体的光池，其特征在于：包括光池本体、发射部和接收部，所述光池本体两端分别连接发射部和接收部；所述发射部包括球形接头座、球形接头、第一平面镜、发射源结构、第一固定件和电磁铁，所述球形接头座上连接卡接在光池本体上的球形接头，所述球形接头座、球形接头上开设有贯通的发射通孔，所述第一平面镜固定在球形接头的发射通孔内，所述球形接头座上设有安装孔，所述发射源结构通过多个第一固定件贯穿球形接头座上的安装孔连接光池本体，所述安装孔孔径大于第一固定件直径，所述发射源结构靠近球形接头座的一侧设置有能够吸附球形接头座的电磁铁；对电磁铁通电并改变电磁铁上的电流大小来调整电磁铁对球形接头座的电磁力，改变球形接头座的受力，使得球形接头座能够在第一固定件上转动来带动球形接头转动，进而调节第一平面镜的角度，致使发射源结构发出的光源经光池本体后能够对准接收部的中心点。2.根据权利要求1所述的一种用于检测SF6混合气体中N2O杂质气体的光池，其特征在于：所述光池本体上设有进气接头和出气接头。3.根据权利要求1所述的一种用于检测SF6混合气体中N2O杂质气体的光池，其特征在于：所述发射源结构包括发射电路板和发射源，所述发射电路板通过多个第一固定件贯穿球形接头座上的安装孔连接光池本体，所述发射源和电磁铁均固定在发射电路板上...

【专利技术属性】
技术研发人员：董杰，王雅湉，杨博，刘伟强，马蕾，马吉静，索思德，李贵玲，丁祥浩，何海川，马小林，耿坤，张济麟，伊国鑫，马乐，王磊，常增文，罗舒婷，魏静，武丹，杨铁刚，王军军，刘生春，吴嘉楠，
申请(专利权)人：国网青海省电力公司国家电网有限公司，
类型：发明
国别省市：