一种显示面板微弱异常点的分类方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种显示面板微弱异常点的分类方法，该方法包括：将测试图导入显示面板，拍摄显示面板作为第一测试结果，标记第一区域；第一区域大于一个像素点；将单色图导入显示面板，拍摄显示面板作为第二测试结果；在第一区域中标记第一像素点，在第二测试结果中标记第一像素点及其相邻像素点，计算第一像素点与其相邻像素点的灰度值之差；当灰度值之差的最小值大于第二阈值时，认为第一区域构成的点是单色图对应颜色的异常点。本发明专利技术通过提取异常点中灰度值差异最大的点作为代表，分析该像素点所述颜色，进而可以有效的针对异常点进行分类，提高异常点分类的效率。提高异常点分类的效率。提高异常点分类的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板微弱异常点的分类方法和装置


[0001]本专利技术涉及显示面板检测
，更具体地，涉及一种显示面板微弱异常点的分类方法和装置。

技术介绍

[0002]在工业领域高速发展的趋势下，LCD和OLED面板的检测任务逐渐由人工检测到机器检测转变。在机器检测过程中，通常应用到的系统为AOI系统(Automated Optical Inspection，自动光学检查系统)，由其扮演着人工的角色进行一系列高强度、高精度的检测任务，极大的提高了生产效率和解放生产力。
[0003]面板检测中最常见的检测项目就是亮点和暗点检测。亮点是指在黑屏情况下呈现出亮色的点，暗点则是在白屏情况下呈现出黑色的点。面板中每个像素点都是由若干像素单元按照一定规则构成的。当面板中出现亮点或暗点时，需要进一步分析引起亮点和暗点的原因，这就涉及到对亮点或暗点的分类方法。然而，现有技术中缺乏对亮点或暗点的分类方法。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求，本专利技术提供了一种显示面板微弱异常点的分类方法、设备及存储介质，通过提取异常点中灰度值差异最大的点作为代表，分析该像素点所述颜色，进而可以有效的针对异常点进行分类，提高异常点分类的效率。
[0005]为实现上述目的，按照本专利技术的第一个方面，提供了一种显示面板微弱异常点的分类方法，该方法包括：S1. 将测试图导入显示面板，拍摄所述显示面板作为第一测试结果，标记第一区域；判断所述第一区域是否大于一个像素点，如果是则进行后续步骤；其中，所述第一区域是所述第一测试结果中实际拍摄的灰度值与所述第一测试结果理论上的灰度值之差大于第一阈值的区域；S2. 将单色图导入所述显示面板，拍摄所述显示面板作为第二测试结果；S3. 在所述第一区域中标记第一像素点，在所述第二测试结果中标记所述第一像素点及其相邻像素点，计算所述第一像素点与其相邻像素点的灰度值之差；当所述灰度值之差的最小值大于第二阈值时，认为所述第一区域构成的点是所述单色图对应颜色的异常点；其中，所述第一像素点是所述第一区域中灰度值与所述第一测试结果中所有像素点的平均灰度值之差的绝对值最大的像素点。
[0006]进一步地，上述显示面板微弱异常点的分类方法还包括：所述单色图是所述显示面板的像素单元对应的颜色构成的图。
[0007]进一步地，上述显示面板微弱异常点的分类方法还包括：当所述显示面板的像素单元是红、绿、蓝三色时，所述单色图分别是(255,0,0)、(0,255,0)和(0,0,255)的图。
[0008]进一步地，上述显示面板微弱异常点的分类方法还包括：S4. 更换所述单色图，重复执行步骤S2
‑
S3，直至对所有颜色的单色图完成测试。
[0009]进一步地，上述显示面板微弱异常点的分类方法还包括：依据测试结果，所述第一区域构成的点是单色异常点或多色异常点中的一种。
[0010]进一步地，上述显示面板微弱异常点的分类方法还包括：所述第二阈值依据所述显示面板的像素单元排布方式和/或测试需求设置。
[0011]进一步地，上述显示面板微弱异常点的分类方法还包括：当用于拍摄的相机中的m个像素点给所述显示面板中n个像素单元成像时，将所述第一测试结果和所述第二测试结果中实际的像素点换算为等效像素点后，利用所述第一测试结果的等效像素点和所述第二测试结果的等效像素点执行如S1
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S3的步骤。
[0012]按照本专利技术的第二个方面，还提供了一种显示面板微弱异常点的分类装置，其包括：相机模块，其被配置为获取所述显示面板的显示照片；显示面板控制模块，其被配置为向所述显示面板输入测试图或单色图；计算分析模块，其被配置为获取所述相机的拍摄结果，依据上述任一项所述的方法的步骤将所述显示面板的异常点进行分类。
[0013]按照本专利技术的第三个方面，还提供了一种显示面板微弱异常点的分类设备，其包括至少一个处理单元、以及至少一个存储单元，其中，所述存储单元存储有计算机程序，当所述计算机程序被所述处理单元执行时，使得所述处理单元执行上述任一项所述方法的步骤。
[0014]按照本专利技术的第四个方面，还提供了一种存储介质，其存储有可由访问认证设备执行的计算机程序，当所述计算机程序在访问认证设备上运行时，使得所述访问认证设备执行上述任一项所述方法的步骤。
[0015]总体而言，通过本专利技术所构思的以上技术方案与现有技术相比，能够取得下列有益效果：（1）本专利技术提供的一种显示面板微弱异常点的分类方法，通过提取异常点中灰度值差异最大的点作为代表，分析该像素点所述颜色，进而可以有效的针对异常点进行分类，提高异常点分类的效率；（2）本专利技术提供的一种显示面板微弱异常点的分类方法，在相机与显示面板的分辨率不能一一对应时，通过对成像图像的换算，
附图说明
为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1为本专利技术实施例提供的一种显示面板微弱异常点的分类方法的流程示意图；图2为本专利技术实施例提供的亮点检测的拍摄示意图；图3为本专利技术实施例提供的亮点的示意图；图4为本专利技术实施例提供的亮点的放大示意图；
图5为本专利技术实施例提供的相机像素点与显示面板像素单元关系示意图；图6为本专利技术实施例提供的另一相机像素点与显示面板像素单元关系示意图；图7为本专利技术实施例提供的另一相机像素点与显示面板像素单元关系示意图。
具体实施方式
[0017]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。此外，下面所描述的本专利技术各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
[0018]本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。
[0019]显示面板常见的异常点就是亮点和暗点。亮点是指在黑屏情况下呈现出亮色的点，其产生的原因是某些像素单元在应当不发光时发光；暗点与亮点相反，是在白屏情况下呈现出黑色的点，是某些像素单元在应当发光时不发光。亮点与暗点均属于显示面板的瑕疵，因此，出厂前对亮点暗点进行检测是有必要的。
[0020]不同的显示面板会采用不同的像素单元排布方式，例如LCD屏常见的排布方式就是RGB排列方式，OLED屏的排布方式则有多种多样，例如Pentile排列、钻石排列，亦或者是本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板微弱异常点的分类方法，其特征在于，包括：S1. 将测试图导入显示面板，拍摄所述显示面板作为第一测试结果，标记第一区域；判断所述第一区域是否大于一个像素点，如果是则进行后续步骤；其中，所述第一区域是所述第一测试结果中实际拍摄的灰度值与所述第一测试结果理论上的灰度值之差大于第一阈值的区域；S2. 将单色图导入所述显示面板，拍摄所述显示面板作为第二测试结果；S3. 在所述第一区域中标记第一像素点，在所述第二测试结果中标记所述第一像素点及其相邻像素点，计算所述第一像素点与其相邻像素点的灰度值之差；当所述灰度值之差的最小值大于第二阈值时，认为所述第一区域构成的点是所述单色图对应颜色的异常点；其中，所述第一像素点是所述第一区域中灰度值与所述第一测试结果中所有像素点的平均灰度值之差的绝对值最大的像素点。2.如权利要求1所述的显示面板微弱异常点的分类方法，其特征在于：所述单色图是所述显示面板的像素单元对应的颜色构成的图。3.如权利要求2所述的显示面板微弱异常点的分类方法，其特征在于：当所述显示面板的像素单元是红、绿、蓝三色时，所述单色图分别是(255,0,0)、(0,255,0)和(0,0,255)的图。4.如权利要求3所述的显示面板微弱异常点的分类方法，其特征在于：S4. 更换所述单色图，重复执行步骤S2
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S3，直至对所有颜色的单色图完成测试。5.如权利要求4所述的显示面板微弱异常点的分类方法，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：方锑，林松，
申请(专利权)人：武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：