一种插拔式点灯测试系统及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种插拔式点灯测试系统及装置，插拔式点灯测试系统包括高速数据连接器双公线固定单元、第一插拔机构和信号发生系统，所述高速数据连接器双公线固定单元的一端与待测屏幕电连接，另一端与信号发生系统通过所述第一插拔机构电连接；所述第一插拔机构包括相连的第一插头转接件和若干第一探针，所述高速数据连接器双公线固定单元包括若干高速数据连接器探针，所述第一探针端面与所述高速数据连接器探针端面相对设置以通断连接；所述若干第一探针的直径、相邻间距的阈值与若干高速数据连接器探针的直径、相邻间距匹配。本发明专利技术能够降低链路阻抗、提高信号识别能力，从而提升屏幕点灯的良率和稳定性。提升屏幕点灯的良率和稳定性。提升屏幕点灯的良率和稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种插拔式点灯测试系统及装置


[0001]本专利技术属于屏幕检测
，具体涉及一种插拔式点灯测试系统及装置。

技术介绍

[0002]液晶屏在电子产品中的应用越来越广泛，液晶屏生产后需要检测其是否符合使用要求，需要对终端屏幕点灯，做高频信号测试（FPD
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LINKIII），FPD
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LINKIII为串行总线方案支持通过单个差分链路实现高速视频数据传输和双向控制通信的全双工控制。FPD
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LINKIII在低速传播信号时为双向通讯，高速传播信号（高频信号好）时为单向通讯；当信号发生系统刚链接屏时采用低速双向通讯，确认链接屏幕后开启高频信号单向传输，点亮产品。
[0003]屏幕点灯时，需要将屏幕放在检测治具上，屏幕的测试触点与PCB固定单元电连接，PCB固定单元与信号发生系统电连接实现点灯测试。常规的检测机台中，PCB固定单元与信号发生系统通过POGOPIN连接器压接实现电连接，PCB上相邻探针的间距为8mm、探针端面直径为1.3mm，POGOPIN相邻探针的间距为2mm、探针端面直径为0.6mm。PCB探针间距和POGOPIN探针间距相差大，两类探针端面直径相差大，导致阻抗峰值高、信号识别差，影响点屏测试。

技术实现思路

[0004]鉴于以上所述现有技术的全部或部分不足，本专利技术的目的在于：提供一种插拔式点灯测试系统及装置，能够降低链路阻抗、提高信号识别能力，从而提升屏幕点灯的良率和稳定性。
[0005]为实现上述专利技术目的，本专利技术提供以下技术方案：
[0006]一方面，本专利技术提供了一种插拔式点灯测试系统，包括高速数据连接器双公线固定单元、第一插拔机构和信号发生系统，所述高速数据连接器双公线固定单元（HSD双公线固定单元）的一端与待测屏幕电连接，另一端与所述信号发生系统通过所述第一插拔机构电连接；所述第一插拔机构包括相连的第一插头转接件和若干第一探针，所述高速数据连接器双公线固定单元包括若干高速数据连接器探针（HSD探针），所述第一探针端面与所述高速数据连接器探针端面相对设置以通断连接；所述若干第一探针的直径、相邻间距的阈值与若干高速数据连接器探针的直径、相邻间距匹配。此处的匹配并不是限定所述若干第一探针和若干高速数据连接器探针的直径、相连间距完全相同，只需可以实现第一探针与高速数据连接器探针之间的电连接即可。优选的若干所述第一探针端面的直径为0.4
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0.8mm、相邻间距为1.5
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2.5mm。若干所述高速数据连接器探针端面的直径为0.8
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1.4mm、相邻间距为1.5
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2.5mm，所述高速数据连接器双公线固定单元可以选自市面上通用的高速数据连接器双公线固定单元，其上高速数据连接器探针的相邻间距可以例如为1.5mm、2mm或2.5mm等。
[0007]本专利技术采用高速数据连接器双公线固定单元上相邻高速数据连接器探针的间距，
其间距远小于原来PCB固定单元上相邻探针的间距，使探针之间结构更加紧凑，可以降低链路的阻抗值。且高速数据连接器探针和第一探针的直径差距较小，进一步降低链路的阻抗值，提高信号识别能力，从而提升屏幕点灯的良率和稳定性。同时，通过插拔的方式连接高速数据连接器双公线固定单元和信号发生系统，一方面配合探针结构的优化设置以降低阻抗，另一方面可以使屏幕对应不同的信号发生系统而解决信号发生系统中测试盒不能自动切换拨码的问题，实现更多的功能测试。
[0008]当然，所述高速数据连接器探针和第一探针的相邻间距分别可以进一步缩小，其直径差距也可以进一步缩小，更进一步降低链路的阻抗值。例如若干所述第一探针端面的直径为0.5
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0.7mm、相邻间距为1.8
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2.2mm。若干所述高速数据连接器探针端面的直径为1.0
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1.2mm、相邻间距为1.8
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2.2mm。进一步降低检测的阻抗值。
[0009]所述高速数据连接器双公线固定单元还包括第一高速数据连接器公头（第一HSD公头），所述高速数据连接器探针内嵌于所述第一高速数据连接器公头，所述第一插拔机构还包括第一仿形针模，所述第一仿形针模安装在所述第一插头转接件上，所述第一探针内嵌于所述第一仿形针模。第一仿形针模的形状与第一高速数据连接器公头的形状匹配，实现插拔。
[0010]所述插拔式点灯测试系统还包括第二插拔机构，所述第二插拔机构与所述第一插拔机构的结构相同，所述高速数据连接器双公线固定单元与待测屏幕通过所述第二插拔机构电连接。第一插拔机构和第二插拔机构的结构设置相同，可以替换使用，降低成本。
[0011]所述第二插拔机构包括相连的第二插头转换件和若干第二探针，所述待测屏幕包括屏幕探针，所述第二探针端面与所述屏幕探针端面相对设置以通断连接。
[0012]所述待测屏幕还包括屏幕公头，所述屏幕探针内嵌于所述屏幕公头，所述第二插拔机构还包括第二仿形针模，所述第二仿形针模安装在所述第二插头转接件上，所述第二探针内嵌于所述第二仿形针模。
[0013]所述第一插拔机构连接有第一升降机构，所述第一升降机构带动所述第一插拔机构作升降运动，用于所述第一插拔机构和高速数据连接器双公线固定单元建立或断开电连接。通过第一升降机构可以实现第一插拔机构的自动插拔。
[0014]所述第一插拔机构还连接有三轴调节机构，所述三轴调节机构包括相连的X轴调节机构、Y轴调节机构和θ轴调节机构，所述Y轴调节机构与所述第一升降机构相连。通过三轴调节机构可以实现第一插拔机构位置的调整，以对准高速数据连接器双公线固定单元上的第一高速数据连接器公头，实现准确插拔。
[0015]本专利技术还提供一种插拔式点灯测试装置，包括上述任一方案中的一种插拔式点灯测试系统。
[0016]所述插拔式点灯测试装置还包括转台，所述转台上设有用于放置待测屏幕的若干治具，所述高速数据连接器双公线固定单元安装在所述治具上。
[0017]与现有技术相比，本专利技术至少具有以下有益效果：提供一种插拔式点灯测试系统及装置，采用高速数据连接器双公线固定单元上相邻高速数据连接器探针的间距，使探针之间结构更加紧凑，可以降低链路的阻抗值。且高速数据连接器探针和第一探针的直径差距较小，进一步降低链路的阻抗值，提高信号识别能力，从而提升屏幕点灯的良率和稳定性。同时，通过插拔的方式连接高速数据连接器双公线固定单元和信号发生系统，一方面配
合探针结构的优化设置以降低阻抗，另一方面可以使屏幕对应不同的信号发生系统而解决信号发生系统中测试盒不能自动切换拨码的问题，实现更多的功能测试。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本专利技术具体实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1是本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种插拔式点灯测试系统，其特征在于，包括高速数据连接器双公线固定单元（1）、第一插拔机构（2）和信号发生系统（3），所述高速数据连接器双公线固定单元（1）的一端与待测屏幕电连接，另一端与所述信号发生系统（3）通过所述第一插拔机构（2）电连接；所述第一插拔机构（2）包括相连的第一插头转接件（21）和若干第一探针（23），所述高速数据连接器双公线固定单元（1）包括若干高速数据连接器探针，所述第一探针（23）端面与所述高速数据连接器探针端面相对设置以通断连接；所述若干第一探针（23）的直径、相邻间距的阈值与若干高速数据连接器探针的直径、相邻间距匹配。2.根据权利要求1所述的一种插拔式点灯测试系统，其特征在于，所述高速数据连接器双公线固定单元（1）还包括第一高速数据连接器公头（11），所述高速数据连接器探针内嵌于所述第一高速数据连接器公头（11），所述第一插拔机构（2）还包括第一仿形针模（22），所述第一仿形针模（22）安装在所述第一插头转接件（21）上，所述第一探针（23）内嵌于所述第一仿形针模（22）。3.根据权利要求1所述的一种插拔式点灯测试系统，其特征在于，所述插拔式点灯测试系统还包括第二插拔机构（4），所述第二插拔机构（4）与所述第一插拔机构（2）的结构相同，所述高速数据连接器双公线固定单元（1）与待测屏幕通过所述第二插拔机构（2）电连接。4.根据权利要求3所述的一种插拔式点灯测试系统，其特征在于，所述第二插拔机构（4...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱继田，朱涛，
申请(专利权)人：武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：