薄膜型被测物扫描方法、装置、系统、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种薄膜型被测物扫描方法、装置、系统、设备及存储介质，涉及产品扫描技术领域。所述方法是先控制水平移动机构带动激光测距仪做水平移动，并针对各个二维坐标点，在激光测距仪移动到对应点时测量得到对应的且至载物台面的距离值，然后在对放置于载物台面上的薄膜型被测物进行跑点扫描时，根据各个二维坐标点的距离值，预先控制竖直移动机构升降调整摄像头的高度，使摄像头至薄膜型被测物的距离保持位于景深范围内，最后才进行影像采集工作，如此可根据距离需要自动提前对焦，避免扫描时间过长，确保能够紧跟整体生产时间节拍，特别适用于载物台面存在加工精度不足问题的场景，进而可减少载物台面加工成本和降低加工失败几率。工失败几率。工失败几率。

【技术实现步骤摘要】
薄膜型被测物扫描方法、装置、系统、设备及存储介质


[0001]本专利技术属于产品扫描
，具体涉及一种薄膜型被测物扫描方法、装置、系统、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在TFT
‑
LCD（Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,薄膜晶体管液晶显示器，作为多数液晶显示器的一种，它使用薄膜晶体管技术改善影象品质）、AMOLED（Active
‑
matrix organic light
‑
emitting diode，有源矩阵有机发光二极体或主动矩阵有机发光二极体，它是一种显示屏技术）或CF（Color Filter,彩色滤光片，它是组成液晶面板中最重要的关键零组件）制程中，往往需要对薄膜型产品进行线扫描检测。但是由于薄膜型产品的载物台面存在加工精度不足问题（例如：由铝合金材质制成的检测用台面在进行加工时，台面的平面度要求越高，所需加工费越多且良率越低；而由玻璃材质制成的检测用台面在面对大尺寸玻璃时，会因为中间无法支撑而导致中间区域下垂），会使得线扫描用摄像头至薄膜型产品的距离无法与该摄像头的景深范围（即是指在摄影头或其他成像器前沿能够取得清晰图像的成像所测定的被摄物体前后距离范围，光圈、镜头及焦平面到拍摄物的距离是影响景深的重要因素）相互匹配，进而会导致扫描所得影像失焦，不利于开展后续的影像分析工作，例如在进行线扫描时，影像解析一般在3um以下,景深范围的边界值与中心值的偏差幅度需为
±
35um。
[0003]目前，在应用市面的现有设备对薄膜型产品进行线扫描检测时，均需要时时地先暂停扫描再进行对焦来保持影像的清晰,如此导致结果是扫描时间过长，影响整体生产时间节拍。因此针对载物台面存在加工精度不足问题，如何提供一种适用于对薄膜型被测物进行快速对焦扫描的新方案，是本领域技术人员亟需研究的课题。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种薄膜型被测物扫描方法、装置、系统、计算机设备及计算机可读存储介质，用以解决现有薄膜型产品线扫描检测方案所存在扫描时间过长，会影响整体生产时间节拍的问题。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：第一方面，提供了一种薄膜型被测物扫描方法，由分别通信连接水平移动机构、竖直移动机构、激光测距仪和摄像头的控制设备执行，包括：控制所述水平移动机构带动所述激光测距仪在水平面上做水平移动，其中，所述水平面位于载物台面的正上方，所述激光测距仪固定安装在所述水平移动机构的水平移动部件上，并使所述激光测距仪的激光发射方向竖直朝下；针对在所述水平面上的各个二维坐标点，在所述激光测距仪移动到对应点时，通过所述激光测距仪测量得到对应的且从对应点至所述载物台面的距离值；在薄膜型被测物放置于所述载物台面上后，根据所述各个二维坐标点的距离值，
按照如下方式对所述薄膜型被测物进行跑点扫描：针对所述各个二维坐标点，在控制所述水平移动机构带动所述摄像头移动到对应点前，先根据对应的距离值和所述摄像头相对于所述水平面的已知当前高度，控制所述竖直移动机构升降调整所述摄像头的高度，使所述摄像头至所述薄膜型被测物的距离保持位于所述摄像头的景深范围内，然后再控制所述水平移动机构带动所述摄像头移动到对应点，最后通过所述摄像头完成在对应点的且对所述薄膜型被测物的影像采集工作，其中，所述竖直移动机构的固定部件固定安装在所述水平移动机构的水平移动部件上，所述摄像头固定安装在所述竖直移动机构的竖直移动部件上，并使镜头竖直朝下。
[0006]基于上述
技术实现思路
，提供了一种预先进行载物台面检测的扫描新方案，即先控制水平移动机构带动激光测距仪在水平面上做水平移动，并针对各个二维坐标点，在激光测距仪移动到对应点时测量得到对应的且从对应点至载物台面的距离值，然后在对放置于载物台面上的薄膜型被测物进行跑点扫描时，根据所述各个二维坐标点的距离值，预先控制竖直移动机构升降调整摄像头的高度，使摄像头至薄膜型被测物的距离保持位于摄像头的景深范围内，最后才进行影像采集工作，如此可根据距离需要自动提前对焦，避免扫描时间过长，确保能够紧跟整体生产时间节拍，特别适用于载物台面存在加工精度不足问题的场景，进而可减少载物台面加工成本和降低加工失败几率，便于实际应用和推广。
[0007]在一个可能的设计中，所述载物台面包括有由铝合金材质制成的检测用台面或由玻璃材质制成的检测用台面。
[0008]在一个可能的设计中，针对在所述水平面上的某个二维坐标点，根据对应的距离值和所述摄像头相对于所述水平面的已知当前高度，控制所述竖直移动机构升降调整所述摄像头的高度，使所述摄像头至所述薄膜型被测物的距离保持位于所述摄像头的景深范围内，包括：根据所述某个二维坐标点的距离值和所述摄像头相对于所述水平面的已知当前高度，计算得到所述摄像头至所述薄膜型被测物的当前距离；判断所述摄像头至所述薄膜型被测物的当前距离是否位于所述摄像头的景深范围内；若是，则不控制所述竖直移动机构升降调整所述摄像头的高度，否则在所述摄像头至所述薄膜型被测物的当前距离大于所述景深范围的上限值时，控制所述竖直移动机构降低调整所述摄像头的高度，直到所述摄像头至所述薄膜型被测物的当前距离小于所述景深范围的上限值，而在所述摄像头至所述薄膜型被测物的当前距离小于所述景深范围的下限值时，控制所述竖直移动机构升高调整所述摄像头的高度，直到所述摄像头至所述薄膜型被测物的当前距离大于所述景深范围的下限值。
[0009]在一个可能的设计中，根据所述某个二维坐标点的距离值和所述摄像头相对于所述水平面的已知当前高度，计算得到所述摄像头至所述薄膜型被测物的当前距离，包括：根据所述某个二维坐标点的距离值、所述摄像头相对于所述水平面的已知当前高度和所述薄膜型被测物的已知厚度，计算得到所述摄像头至所述薄膜型被测物的当前距离。
[0010]在一个可能的设计中，在薄膜型被测物放置于所述载物台面上后，根据所述各个二维坐标点的距离值对所述薄膜型被测物进行跑点扫描，包括：
在薄膜型被测物放置于所述载物台面上后，先根据所述各个二维坐标点的距离值，得到与至少一个距离范围一一对应的至少一个二维区域，然后对所述薄膜型被测物按照距离从小到大顺序或从大到小顺序依次进行在所述至少一个二维区域中的各个二维区域内的跑点扫描。
[0011]第二方面，提供了一种薄膜型被测物扫描装置，适用于布置在分别通信连接水平移动机构、竖直移动机构、激光测距仪和摄像头的控制设备中，包括有依次通信连接的移动控制模块、距离测量模块和跑点扫描模块；所述移动控制模块，用于控制所述水平移动机构带动所述激光测距仪在水平面上做水平移动，其中，所述水平面位于载物台面的正上方，所述激光测距仪固定安装在所述水平移动机构的水平移动部件上，并使所述激光测距仪的激光发射方向竖直朝下；所述距离测量模块，用于针对在所述水平面上的各个二维坐标点，在所述激光测距仪移动到对应点时，通过所述激光测距仪测量得到对应的且从对应点至所述载物台面的距离值本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种薄膜型被测物扫描方法，其特征在于，由分别通信连接水平移动机构、竖直移动机构、激光测距仪和摄像头的控制设备执行，包括：控制所述水平移动机构带动所述激光测距仪在水平面上做水平移动，其中，所述水平面位于载物台面的正上方，所述激光测距仪固定安装在所述水平移动机构的水平移动部件上，并使所述激光测距仪的激光发射方向竖直朝下；针对在所述水平面上的各个二维坐标点，在所述激光测距仪移动到对应点时，通过所述激光测距仪测量得到对应的且从对应点至所述载物台面的距离值；在薄膜型被测物放置于所述载物台面上后，根据所述各个二维坐标点的距离值，按照如下方式对所述薄膜型被测物进行跑点扫描：针对所述各个二维坐标点，在控制所述水平移动机构带动所述摄像头移动到对应点前，先根据对应的距离值和所述摄像头相对于所述水平面的已知当前高度，控制所述竖直移动机构升降调整所述摄像头的高度，使所述摄像头至所述薄膜型被测物的距离保持位于所述摄像头的景深范围内，然后再控制所述水平移动机构带动所述摄像头移动到对应点，最后通过所述摄像头完成在对应点的且对所述薄膜型被测物的影像采集工作，其中，所述竖直移动机构的固定部件固定安装在所述水平移动机构的水平移动部件上，所述摄像头固定安装在所述竖直移动机构的竖直移动部件上，并使镜头竖直朝下。2.根据权利要求1所述的薄膜型被测物扫描方法，其特征在于，所述载物台面包括有由铝合金材质制成的检测用台面或由玻璃材质制成的检测用台面。3.根据权利要求1所述的薄膜型被测物扫描方法，其特征在于，针对在所述水平面上的某个二维坐标点，根据对应的距离值和所述摄像头相对于所述水平面的已知当前高度，控制所述竖直移动机构升降调整所述摄像头的高度，使所述摄像头至所述薄膜型被测物的距离保持位于所述摄像头的景深范围内，包括：根据所述某个二维坐标点的距离值和所述摄像头相对于所述水平面的已知当前高度，计算得到所述摄像头至所述薄膜型被测物的当前距离；判断所述摄像头至所述薄膜型被测物的当前距离是否位于所述摄像头的景深范围内；若是，则不控制所述竖直移动机构升降调整所述摄像头的高度，否则在所述摄像头至所述薄膜型被测物的当前距离大于所述景深范围的上限值时，控制所述竖直移动机构降低调整所述摄像头的高度，直到所述摄像头至所述薄膜型被测物的当前距离小于所述景深范围的上限值，而在所述摄像头至所述薄膜型被测物的当前距离小于所述景深范围的下限值时，控制所述竖直移动机构升高调整所述摄像头的高度，直到所述摄像头至所述薄膜型被测物的当前距离大于所述景深范围的下限值。4.根据权利要求3所述的薄膜型被测物扫描方法，其特征在于，根据所述某个二维坐标点的距离值和所述摄像头相对于所述水平面的已知当前高度，计算得到所述摄像头至所述薄膜型被测物的当前距离，包括：根据所述某个二维坐标点的距离值、所述摄像头相对于所述水平面的已知当前高度和所述薄膜型被测物的已知厚度，计算得到所述摄像头至所述薄膜型被测物的当前距离。5.根据权利要求1所述的薄膜型被测物扫描方法，其特征在于，在薄膜型被测物放置于所述载物台面上后...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐玉峰，吴自强，
申请(专利权)人：成都中嘉微视科技有限公司，
类型：发明
国别省市：