一种数据库性能测试方法及系统技术方案

本发明专利技术提供了一种数据库性能测试方法、系统，该方法包括：确定多个待测数据库；获取每一个待测数据库对应的多组测试指令，以及每一组测试指令在测试对应的待测数据库时的预设测试次数，其中一组测试指令对应一种测试工具；利用每一组测试指令对对应的待测数据库重复测试预设测试次数，其中，每测试一次，生成一个初始测试结果；计算每一个待测数据库对应的多个测试平均值，其中，测试平均值为待测数据库在相同一组测试指令测试预设测试次数后获得的多个初始测试结果的平均值；基于每一组测试指令对应的测试平均值，确定每一个待测数据库在每一种测试工具测试下的性能测试结果。不仅提高了测试待测数据库的测试效率，还提高了测试结果的准确性。试结果的准确性。试结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种数据库性能测试方法及系统


[0001]本专利技术涉及计算机
，具体涉及一种数据库性能测试方法及系统。

技术介绍

[0002]数据库中往往存放了大量的数据，而数据库系统的性能是一个非常重要的检测指标。影响数据库系统性能的因素包括：数据库服务器的硬件资源、数据库参数、网络环境等。
[0003]常用的数据库系统性能测试大都是基于事务处理性能委员会(Transaction Processing Performance Council，简称TPC)制定的测试基准，如：TPC
‑
H，TPC
‑
C，TPC
‑
DS等压测工具，进行手工测试。在使用压测工具进行数据库测试时，传统方法中，往往只能利用一个压测工具对一个数据库进行测试，由于数据库性能测试中，容易出现偶然因素，导致测试结果不准确、偏差较大，此时则需要再次对该数据库按指令顺序进行执行，不仅测试效率低，而且测试结果的准确性难以保证。

技术实现思路

[0004]因此，本专利技术要解决现有技术中数据库性能测试的效率低且准确性难以保证的技术问题，从而提供一种数据库性能测试方法及系统。
[0005]根据第一方面，本专利技术实施例提供了一种数据库性能测试方法，包括如下步骤：
[0006]确定多个待测数据库；
[0007]获取每一个所述待测数据库对应的多组测试指令，以及每一组所述测试指令在测试对应的所述待测数据库时的预设测试次数，其中一组所述测试指令对应一种测试工具；
[0008]利用每一组所述测试指令对对应的所述待测数据库重复测试所述预设测试次数，其中，每测试一次，生成一个初始测试结果；
[0009]计算每一个所述待测数据库对应的多个测试平均值，其中，所述测试平均值为所述待测数据库在相同一组所述测试指令测试所述预设测试次数后获得的多个所述初始测试结果的平均值；
[0010]基于每一组所述测试指令对应的所述测试平均值，确定每一个所述待测数据库在每一种所述测试工具测试下的性能测试结果。
[0011]可选地，所述基于每一组所述测试指令对应的所述测试平均值，确定每一个所述待测数据库在每一种所述测试工具测试下的性能测试结果，包括：
[0012]获取一组所述测试指令对应的所述测试平均值；
[0013]利用所述测试平均值计算在一组所述测试指令每测试一次所述待测数据获得的所述初始测试结果的方差；
[0014]将所述方差最小值对应的所述初始测试结果作为所述待测数据库在所述测试工具测试下的性能测试结果。
[0015]可选地，在利用每一组所述测试指令对对应的所述待测数据库测试时，包括：
[0016]利用监测单元，对硬件系统进行实时监测，所述硬件系统为用于测试所述待测数
据库性能的系统；
[0017]将监测的结果发送至前端，并以图形化展示；
[0018]基于所述监测的结果，预判所述硬件系统的瓶颈。
[0019]可选地，在利用每一组所述测试指令对对应的所述待测数据库测试时，包括：
[0020]获取一组所述测试指令的总测试时间；
[0021]获取一组所述测试指令在单次测试所述待测数据库时的初始测试时间以及当前测试时间；
[0022]基于所述总测试时间、所述初始测试时间、所述当前测试时间，确定当前测试进度。
[0023]可选地，所述确定多个所述待测数据库之后，还包括如下步骤：
[0024]获取对所述待测数据库进行测试的所述测试工具；
[0025]读取待测数据库参数以及测试工具参数，并发送至前端页面；
[0026]获取修改后的所述待测数据库参数以及所述测试工具参数；
[0027]基于修改后的所述待测数据库参数、修改后的所述测试工具参数，生成所述测试指令。
[0028]可选地，在确定所述待测数据库以及所述测试工具之后，还包括：
[0029]增加/删除所述待测数据库或所述测试工具。
[0030]可选地，在利用每一组所述测试指令对对应的所述待测数据库重复测试所述预设测试次数时，包括：分步测试或一键测试。
[0031]根据第二方面，本专利技术实施例提供了一种数据库性能测试系统，包括：
[0032]确定单元，用于确定多个待测数据库；
[0033]获取单元，用于获取每一个所述待测数据库对应的多组测试指令，以及每一组所述测试指令在测试对应的所述待测数据库时的预设测试次数，其中一组所述测试指令对应一种测试工具；
[0034]测试单元，用于利用每一组所述测试指令对对应的所述待测数据库重复测试所述预设测试次数，其中，每测试一次，生成一个初始测试结果；
[0035]计算单元，用于计算每一个所述待测数据库对应的多个测试平均值，其中，所述测试平均值为所述待测数据库在相同一组所述测试指令测试所述预设测试次数后获得的多个所述初始测试结果的平均值；
[0036]结果单元，用于基于每一组所述测试指令对应的所述测试平均值，确定每一个所述待测数据库在每一种所述测试工具测试下的性能测试结果。
[0037]根据第三方面，本专利技术实施例提供了一种计算机设备，包括：存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器中存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而执行上述的数据库性能测试方法。
[0038]根据第四方面，本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行上述的数据库性能测试方法。
[0039]本专利技术技术方案，具有如下优点：
[0040]1、本专利技术实施例，不仅可以同时对多个待测数据库进行测试，还可以采用多组测
试指令对同一个待测数据库进行测试，还可以利用同一组测试指令对同一个待测数据库重复测试多次。不仅可以提高测试待测数据库的测试效率，还可以提高测试待测数据库的测试种类/全面性，以及提高测试结果的准确性。并且，在利用同一组测试指令对同一个待测数据库重复测试多次的过程中，该组测试指令全程参数配置不变，可以减少测试指令之间的差异性，避免测试指令差异带来的性能测试误差，从而使得性能测试结果更加准确。
[0041]2、利用测试平均值，再进一步计算出同一测试工具对应的初始测试结果的方差，根据方差再确定出待测数据库在该测试工具测试下的性能测试结果。这样可以剔除由于偶然因素造成的离散值过大的结果，从而进一步提高性能测试结果的准确性。
附图说明
[0042]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0043]图1为本申请实施例1中一种数据库性能测试方法的一个具体示例的流程图；
[0本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数据库性能测试方法，其特征在于，包括如下步骤：确定多个待测数据库；获取每一个所述待测数据库对应的多组测试指令，以及每一组所述测试指令在测试对应的所述待测数据库时的预设测试次数，其中一组所述测试指令对应一种测试工具；利用每一组所述测试指令对对应的所述待测数据库重复测试所述预设测试次数，其中，每测试一次，生成一个初始测试结果；计算每一个所述待测数据库对应的多个测试平均值，其中，所述测试平均值为所述待测数据库在相同一组所述测试指令测试所述预设测试次数后获得的多个所述初始测试结果的平均值；基于每一组所述测试指令对应的所述测试平均值，确定每一个所述待测数据库在每一种所述测试工具测试下的性能测试结果。2.根据权利要求1所述的数据库性能测试方法，其特征在于，所述基于每一组所述测试指令对应的所述测试平均值，确定每一个所述待测数据库在每一种所述测试工具测试下的性能测试结果，包括：获取一组所述测试指令对应的所述测试平均值；利用所述测试平均值计算在一组所述测试指令每测试一次所述待测数据获得的所述初始测试结果的方差；将所述方差最小值对应的所述初始测试结果作为所述待测数据库在所述测试工具测试下的性能测试结果。3.根据权利要求1所述的数据库性能测试方法，其特征在于，在利用每一组所述测试指令对对应的所述待测数据库测试时，包括：利用监测单元，对硬件系统进行实时监测，所述硬件系统为用于测试所述待测数据库性能的系统；将监测的结果发送至前端，并以图形化展示；基于所述监测的结果，预判所述硬件系统的瓶颈。4.根据权利要求1所述的数据库性能测试方法，其特征在于，在利用每一组所述测试指令对对应的所述待测数据库测试时，包括：获取一组所述测试指令的总测试时间；获取一组所述测试指令在单次测试所述待测数据库时的初始测试时间以及当前测试时间；基于所述总测试时间、所述初始测试时间、所述当前测试时间，确定当前测试进度。5.根据权利要求1或3所述的数据库性能测试方法，其特征在于，所述确定多个所述待测数...

【专利技术属性】
技术研发人员：马菲，陈保文，张奥运，
申请(专利权)人：合芯科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：