热电单元循环老化测试仪及方法技术

本发明专利技术提供了一种热电单元循环老化测试仪及方法，它解决了热电单元老化检测等问题，其包括上位机，上位机通过并联的直流稳压电源、直流电阻仪以及交流电阻仪与继电器模块连接，继电器模块与若干热电单元连接。本发明专利技术具有热电单元老化检测效果好、结构稳定等优点。结构稳定等优点。结构稳定等优点。

【技术实现步骤摘要】
热电单元循环老化测试仪及方法


[0001]本专利技术属于热电检测
，具体涉及一种热电单元循环老化测试仪及方法。

技术介绍

[0002]老化测试有助于减少过早失效的设备数量，通过将半导体元件置于特定的高应力条件下以复制增强的现场环境来实现老化测试。通过该测试方式，制造商可以识别并消除有缺陷的部件。在测试阶段，半导体元件被固定在老化板上，然后被放置在老化系统，例如环境室中。在这个试验室中，零件在正常工作条件下或高于正常工作条件下进行压力测试，以逐步淘汰在半导体额定寿命之前发生故障的任何组件。热电单元由半导体制冷片，散热风机，散热翅片及导温模块组成。现有的老化测试方案一般只针对于半导体器件且多应用于功率半导体器件，没有针对热电半导体器件及完整的热电单元的老化的测试方案，不能反应热电单元在实际应用中的老化情况。
[0003]为了解决现有技术存在的不足，人们进行了长期的探索，提出了各式各样的解决方案。例如，中国专利文献公开了一种老化测试系统[201010187295.X]，其包括老化测试箱、测试模块、数据处理模块及系统控制模块，测试模块用于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种热电单元循环老化测试仪，包括上位机(1)，其特征在于，所述的上位机(1)通过并联的直流稳压电源(2)、直流电阻仪(3)以及交流电阻仪(4)与继电器模块(5)连接，所述的继电器模块(5)与若干热电单元(6)连接。2.根据权利要求1所述的热电单元循环老化测试仪，其特征在于，所述的上位机(1)与继电器模块(5)采用串行通讯直接连接。3.根据权利要求1所述的热电单元循环老化测试仪，其特征在于，所述的上位机(1)与直流稳压电源(2)、直流电阻仪(3)以及交流电阻仪(4)分别通过串行通讯连接。4.根据权利要求1所述的热电单元循环老化测试仪，其特征在于，所述的热电单元(6)包括半导体制冷片以及与半导体制冷片相对的风机。5.根据权利要求4所述的热电单元循环老化测试仪，其特征在于，所述的直流稳压电源(2)为半导体制冷片和风机供电，所述的直流稳压电源(2)与继电器模块(5)采用触点连接。6.根据权利要求4所述的热电单元循环老化测试仪，其特征在于，所述的直流电阻仪(3)实时采集半导体制冷片的片载热敏电阻阻值，所述的直流电阻仪(3)与继电器模块(5)采用触点连接。7.根据权利要求4所述的热电单元循环老化测试仪，其特征在于，所述的交流电阻仪(4)周期性采集半导体制冷片的片载热敏电阻阻值，所述的交流电阻仪(4)与继电器模块(5)采用触点连接。8.根据权利要求1所述的热电单元循环老化测试仪，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚连南，宋君强，吴汀，龚世平，
申请(专利权)人：浙江汉恒热电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：