一种CPU性能检测设备制造技术

本发明专利技术涉及检测设备技术领域，且公开了一种CPU性能检测设备，包括安装在支架上用于驱动上模块上下往复移动的驱动机构，所述上模块中安装有底部裸露的探针，还包括与所述上模块弹性转动连接并相对布置的两个挡尘板，两个所述挡尘板与上模块的底部抵接配合以使探针能够隐藏在上模块中，两个所述挡尘板相远离的端部各通过一组吊绳与支架连接。本发明专利技术能够在对CPU检测时自动打开两个挡尘板以使探针底部裸露，从而使探针依然能够方便地抵接CPU以进行正常检测的同时，还能够在不检测时使两个挡尘板自动封堵上模块的底部以使探针不与外部空气接触，进而大大减少灰尘的沾附。进而大大减少灰尘的沾附。进而大大减少灰尘的沾附。

【技术实现步骤摘要】
一种CPU性能检测设备


[0001]本专利技术涉及检测设备
，具体涉及一种CPU性能检测设备。

技术介绍

[0002]CPU，也称芯片，它是电子计算机的主要设备之一，其功能主要是解释计算机指令以及处理计算机软件中的数据。一旦把程序装入主存储器中，就可以由CPU自动地完成从主存取指令和执行指令的任务。
[0003]CPU在投入计算机设备中之前，需要通过检测设备，模拟计算机运行以对CPU动态性能进行测试，检测设备一般包括由气缸启动的上模块、固定安装的下模块以及控制器，上模块中安装有探针以及用于加热的TEC，下模块上包括PIN针基座用于与芯片背面的球体孔对应。
[0004]测试时，芯片放在下模块，使芯片背面球体孔与下模块中的PIN针抵接，之后启动气缸驱动上模块和探针下压芯片，同时上模块通过TEC进行加热以模拟计算机正常工作中的高温环境，下模块同时通过电流对CPU进行模拟计算机运行测试，最后数据传输至终端分析。如申请号为CN202123140167.2，公开(公告)号为CN216434188U，名称为“一种芯片测试探针装置”的技术专利，其通过电机带动丝杆转动以实现探针的下移，并在下模块中设置缓冲，当探针下压芯片时，能够对测试探针的下压顶力有效缓冲，避免测试探针硬性顶压芯片而造成芯片压伤。
[0005]但是现有技术中，探针安装紧密，清理非常困难，所以应尽量减少探针与外部空气中灰尘的接触，而在实际的设计中，为了使探针能够方便地与芯片抵接，探针底部始终为裸露状态，长期与外部空气接触，从而导致外部空气中的灰尘不断地粘附在探针上，而沾附灰层的探针在测试时容易导致接触不良从而影响测试效果，甚至造成探针的磨损，基于此，如何在保证探针依然能够方便地与芯片抵接的基础上，减少探针与外部空气中灰尘的接触，从而减少探针上粘附的灰尘是亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的是提供一种CPU性能检测设备，以解决现有技术中的上述不足之处。
[0007]为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种CPU性能检测设备，包括安装在支架上用于驱动上模块上下往复移动的驱动机构，所述上模块中安装有底部裸露的探针，还包括与所述上模块弹性转动连接并相对布置的两个挡尘板，两个所述挡尘板与上模块的底部抵接配合以使探针能够隐藏在上模块中，两个所述挡尘板相远离的端部各通过一组吊绳与支架连接，所述上模块下移以驱使探针下压CPU的进程中带动两组吊绳分别拉动两个挡尘板转动以使探针底部裸露。
[0008]上述的CPU性能检测设备，所述上模块上弹性垂直滑动设置有与两个挡尘板一一对应的两个让位机构，所述挡尘板弹性转动连接在让位机构上，所述让位机构的上滑阻力
大于挡尘板的转动阻力，使得两个挡尘板转动至特定角度以使探针底部裸露后两组所述吊绳分别拉动两个挡尘板推动两个让位机构向上模块上方滑动。
[0009]上述的CPU性能检测设备，所述让位机构包括固定安装有多个导向杆的盒体，所述上模块上固定安装有与多个导向杆一一对应滑动插接的多个固定板，多个所述导向杆上均套设有位于固定板和盒体之间的压簧，所述导向杆的顶部固定安装有与固定板的顶部抵接配合的限位帽，在所述压簧的弹力作用下驱使限位帽与固定板抵接时，两个所述挡尘板与上模块的底部抵接。
[0010]上述的CPU性能检测设备，所述盒体的底部固定安装有连接板，所述连接板通过转轴与挡尘板转动连接，所述挡尘板与连接板之间连接有拉簧以使挡尘板能够与上模块的底部抵接，所述压簧的弹力大于拉簧的弹力。
[0011]上述的CPU性能检测设备，所述让位机构还包括转动设置在盒体中的橡胶辊，所述盒体上开设有开口，所述橡胶辊凸出于开口后与上模块的外侧面压紧抵接，所述让位机构向上模块上方滑动的过程中驱使橡胶辊沿着上模块的外侧面顺时针滚动以去除沾附在上模块外侧面上的灰尘。
[0012]上述的CPU性能检测设备，所述上模块上移的过程中驱使橡胶辊沿着上模块的外侧面逆时针滚动以再次去除沾附在上模块外侧面上的灰尘。
[0013]上述的CPU性能检测设备，所述盒体中转动设置有与橡胶辊的外表面相挤压的清洁件，所述清洁件包括第一清洁板，所述橡胶辊逆时针滚动的过程中在摩擦力的作用下带动清洁件顺时针转动以驱使第一清洁板的自由端与橡胶辊的外表面抵接以刮除沾附在橡胶辊上的灰尘。
[0014]上述的CPU性能检测设备，所述清洁件还包括与盒体转动连接的圆柱体，所述圆柱体的外表面开设有周向等距布置的多个凹槽，多个所述凹槽中均弹性滑动设置有滚珠，所述圆柱体上转动套设有外圆环，所述外圆环的内壁开设有与多个滚珠一一对应的卡槽，所述滚珠凸出于凹槽后与卡槽弹性卡接，所述外圆环的外表面与橡胶辊的外表面相挤压。
[0015]上述的CPU性能检测设备，所述盒体中通过销轴转动设置有第二清洁板，所述第二清洁板的一侧与第一清洁板滑动抵接，所述橡胶辊顺时针滚动的过程中通过第一清洁板驱使第二清洁板的端部与橡胶辊的外表面抵接以刮除沾附在橡胶辊上的灰尘。
[0016]上述的CPU性能检测设备，所述盒体中设置有装有水的水槽，所述水槽中转动设置有与橡胶辊的外表面挤压的涂抹辊，所述涂抹辊的下半部浸没在水中，所述橡胶辊转动的过程中带动涂抹辊转动以使水涂抹在橡胶辊的外表面。
[0017]有益效果：在上述技术方案中，本专利技术提供的一种CPU性能检测设备，通过弹性转动设置相对布置的两个挡尘板，使得不对CPU进行检测时两个挡尘板能够在弹力的作用下与上模块的底部抵接以将上模块的底部封堵，从而使探针隐藏在上模块中不与外部接触，进而能够防止外部空气中的灰尘沾附在探针上，同时两个挡尘板各通过一组吊绳与支架连接，使得对CPU进行检测时，驱动机构驱动上模块向下移动，在吊绳的作用下能够拉动两个挡尘板向上模块的下方转动以使上模块的底部敞开，此时探针重新裸露，进而能够下压CPU以实现对CPU的正常检测，检测完成后随着上模块的上移，两个挡尘板能够在弹力的作用下重新将上模块的底部封堵，从而使探针重新被隐藏，避免与外部空气中接触。由此可见，与现有技术相比，本专利技术能够在对CPU检测时自动打开两个挡尘板以使探针底部裸露，从而使
探针依然能够方便地抵接CPU以进行正常检测的同时，还能够在不检测时使两个挡尘板自动封堵上模块的底部以使探针不与外部空气接触，进而大大减少灰尘的沾附，能够有效解决现有技术中的不足之处。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1为本专利技术实施例提供的CPU性能检测设备的组合结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的CPU性能检测设备的结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的图2中的A部放大结构示意图；图4为本专利技术实施例提供的图2中的B部放大结构示意图；图5为本专利技术实施例提供的两个挡尘板转动过程中的正视本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种CPU性能检测设备，包括安装在支架（1）上用于驱动上模块（2）上下往复移动的驱动机构（6），所述上模块（2）中安装有底部裸露的探针，其特征在于：还包括与所述上模块（2）弹性转动连接并相对布置的两个挡尘板（12），两个所述挡尘板（12）与上模块（2）的底部抵接配合以使探针能够隐藏在上模块（2）中，两个所述挡尘板（12）相远离的端部各通过一组吊绳（17）与支架（1）连接，所述上模块（2）下移以驱使探针下压CPU的进程中带动两组吊绳（17）分别拉动两个挡尘板（12）转动以使探针底部裸露。2.根据权利要求1所述的CPU性能检测设备，其特征在于：所述上模块（2）上弹性垂直滑动设置有与两个挡尘板（12）一一对应的两个让位机构，所述挡尘板（12）弹性转动连接在让位机构上，所述让位机构的上滑阻力大于挡尘板（12）的转动阻力，使得两个挡尘板（12）转动至特定角度以使探针底部裸露后两组所述吊绳（17）分别拉动两个挡尘板（12）推动两个让位机构向上模块（2）上方滑动。3.根据权利要求2所述的CPU性能检测设备，其特征在于：所述让位机构包括固定安装有多个导向杆（5）的盒体（4），所述上模块（2）上固定安装有与多个导向杆（5）一一对应滑动插接的多个固定板（18），多个所述导向杆（5）上均套设有位于固定板（18）和盒体（4）之间的压簧（19），所述导向杆（5）的顶部固定安装有与固定板（18）的顶部抵接配合的限位帽（501），在所述压簧（19）的弹力作用下驱使限位帽（501）与固定板（18）抵接时，两个所述挡尘板（12）与上模块（2）的底部抵接。4.根据权利要求3所述的CPU性能检测设备，其特征在于：所述盒体（4）的底部固定安装有连接板（15），所述连接板（15）通过转轴（16）与挡尘板（12）转动连接，所述挡尘板（12）与连接板（15）之间连接有拉簧（13）以使挡尘板（12）能够与上模块（2）的底部抵接，所述压簧（19）的弹力大于拉簧（13）的弹力。5.根据权利要求3所述的CPU性能检测设备，其特征在于：所述让位机构还包括转动设置在盒体（4）中的橡胶辊（10），所述盒体（4）上开设有开口（401），所述橡胶辊（10）凸出于开口（401...

【专利技术属性】
技术研发人员：金麒龙，
申请(专利权)人：苏州中芯长宏半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：