一种基于丝型像质计丝径测量的图像比例尺计算方法技术

本发明专利技术提供一种基于丝型像质计丝径测量的图像比例尺计算方法。属于图像处理技术领域。方法包括以下步骤：步骤1对包含丝型像质计的射线图像进行预处理；步骤2通过矩形框选取像质计局部区域作为ROI；步骤3对步骤2中得到的ROI进行二值化处理；步骤4对步骤3得到的结果采用直线检测方法检测直线以及端点坐标；步骤5计算所得直线的斜率，利用三角函数求出丝型像质计的丝径；步骤6对照像质计型号和标称丝径，计算比例尺。本发明专利技术可计算出丝型像质计不同线号的丝径，通过对照丝型像质计的实际标称丝径，可求出不同射线图像的比例尺。可求出不同射线图像的比例尺。可求出不同射线图像的比例尺。

【技术实现步骤摘要】
一种基于丝型像质计丝径测量的图像比例尺计算方法


[0001]本专利技术涉及图像处理
，具体涉及一种基于丝型像质计丝径测量的图像比例尺计算方法。

技术介绍

[0002]像质计作为一种检查和定量评价射线底片影像质量的工具，不仅可以判断底片影像的质量，还可以用于评定透照技术、胶片暗室处理情况、缺陷检验能力等。目前，丝型像质计在射线成像质量检测中应用较为广泛，其型式、规格已基本统一。
[0003]在工业领域，由于拍摄设备的不同以及被拍摄物件的尺寸不一，通常没有固定的比例尺，因此在不知道图像比例尺的情况下，无法得出正确的图像信息，进而难以评片。
[0004]有文献提出使用标准尺寸件确定像质计图像比例尺的方法，但是这种方法所需的标准尺寸件通常只有生产厂家才有配置，在应用场所没有这种标准尺寸件，并且不同像质计的标准尺寸件不能通用，在需要尽快获得像质计图像比例尺的情况下这种方法无法使用。
[0005]因此，如何利用图像处理技术计算丝型像质计的丝径进而得出射线图像的比例尺是本专利技术技术方案想要解决的技术问题。<br/>
技术实现思路
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于丝型像质计丝径测量的图像比例尺计算方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1对包含丝型像质计的射线图像进行预处理；步骤2通过矩形框选取像质计局部区域作为ROI；步骤3对步骤2中得到的ROI进行二值化处理；步骤4对步骤3得到的结果采用直线检测方法检测直线以及端点坐标；步骤5计算所得直线的斜率，利用三角函数求出丝型像质计的丝径；步骤6对照像质计型号和标称丝径，计算比例尺。2.如权利要求1所述的基于丝型像质计丝径测量的图像比例尺计算方法，其特征在于，所述方法中步骤1具体为：对含有丝型像质计的射线图像，进行窗宽以及窗位的调节，并进行滤波处理，突出像质计的轮廓信息。3.如权利要求2所述的基于丝型像质计丝径测量的图像比例尺计算方法，其特征在于，所述方法中步骤2中：ROI选取方式为截断选取，即选取像质计的右半部分作为ROI。4.如权利要求3所述的基于丝型像质计丝径测量的图像比例尺计算方法，其特征在于，所述方法中步骤3具体为：统计ROI的灰度分布，根据具体情况进行阈值分割，得到像质计轮廓清晰的二值化图像。5.如权利要求4所述的基于丝型像质计...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈云霞，储钰昆，徐潇，胡海宁，杨洪刚，朱正暘，王晨华，
申请(专利权)人：上海电机学院，
类型：发明
国别省市：