一种中深孔偏移度测量装置制造方法及图纸

技术编号:38319980 阅读:13 留言:0更新日期:2023-07-29 09:02
本发明专利技术属于采矿测试技术领域,具体为一种中深孔偏移度测量装置,包括探测杆,安装在所述探测杆底端处的导向机构,安装在所述探测杆顶端处的测量机构,所述测量机构一侧设置有支撑架,所述支撑架内侧安装有活动块,且活动块与测量机构转动连接,所述活动块靠近测量机构的表面处环设有刻度槽,所述支撑架底部设置有调整机构,本发明专利技术当探测杆在开孔内侧下移的过程中,如果开孔的角度发生偏移,会使连接柱配合活动块进行自转,而连接柱端头处设置的检测板会同步转动,检测板处开设的标识槽会与刻度槽匹配的角度相对应,从而可检测出开口的偏移角度,然后通过冲孔装置的开孔机构进行调整,保证空位与探测区域相吻合。保证空位与探测区域相吻合。保证空位与探测区域相吻合。

【技术实现步骤摘要】
一种中深孔偏移度测量装置


[0001]本专利技术涉及采矿测试
,具体为一种中深孔偏移度测量装置。

技术介绍

[0002]冲击式穿孔利用冲击作用破碎矿岩,形成孔眼,主要设备有凿岩机(见钻眼)、钢丝绳冲击钻机和潜孔钻机。旋转式穿孔是在轴向压力作用下,钻头连续回转凿碎矿岩,主要设备有旋转钻机和牙轮钻机(见钻井设备),钻孔倾角通常为70
°
以上,也有打水平孔的,孔径80~444mm,孔深10~20m或更深。主要穿孔方式有冲击式、旋转式和火力穿孔等。
[0003]在采矿过程中通过冲击式的开孔方式在开孔作业时,由于机械设备冲击端调节等因素,导致冲击端角度的变化导致在冲孔的角度方向发生偏移,如果不对开孔的偏移量进行测量,导致在打孔的过程中偏移量逐渐增大,从而导致空位无法与探测区域相吻合。
[0004]为解决上述问题,本申请中提出一种中深孔偏移度测量装置。

技术实现思路

[0005](一)专利技术目的
[0006]为解决
技术介绍
中存在的技术问题,本专利技术提出一种中深孔偏移度测量装置,当探测杆在开孔内侧下移的过程中,如果开孔的角度发生偏移,会使连接柱配合活动块进行自转,而连接柱端头处设置的检测板会同步转动,检测板处开设的标识槽会与刻度槽匹配的角度相对应,从而可检测出开口的偏移角度,然后通过冲孔装置的开孔机构进行调整,保证空位与探测区域相吻合。
[0007](二)技术方案
[0008]为解决上述技术问题,本专利技术提供了一种中深孔偏移度测量装置,包括探测杆
[0009]安装在所述探测杆底端处的导向机构;
[0010]安装在所述探测杆顶端处的测量机构;
[0011]所述测量机构一侧设置有支撑架,所述支撑架内侧安装有活动块,且活动块与测量机构转动连接,所述活动块靠近测量机构的表面处环设有刻度槽;
[0012]所述支撑架底部设置有调整机构。
[0013]优选的,所述导向机构包括固定连接在所述探测杆底端处的凸台,设置在所述凸台表面边缘处的多个通孔,对称固定连接在多个所述通孔内侧的导向杆,套设在所述导向杆处的弹簧,安装在所述弹簧末端处的活动座,一体成型在所述活动座底端并呈角度设置的刮板,通过支架安装在所述活动座远离弹簧表面处的导向轮。
[0014]优选的,多个所述通孔呈凸字形结构设置,且呈凸字形结构设置的所述通孔端口处设置有限位凸块,且所述限位凸块与凸台为一体成型结构。
[0015]优选的,所述测量机构包括焊接在探测杆顶端外壁处的连接柱,固定连接在所述连接柱远离探测杆一端处的检测板,开设在所述检测板表面边缘处的标识槽。
[0016]优选的,所述活动块两侧外壁处一体成型有导向块,所述支撑架与导向块相对应
的内壁处开设有导槽,且导槽与导向块构成嵌入式结构。
[0017]优选的,所述活动块与连接柱相对应的一侧表面安装有轴承,且所述轴承与连接柱端头处过盈连接。
[0018]优选的,所述刻度槽的角度范围设置在
‑°
,且刻度槽与标识槽相对应。
[0019]优选的,所述调整机构包括固定连接在支撑架底端处的底座,安装在所述底座上表面处的水准器,螺接在所述底座表面边缘处并贯穿底座的螺杆,安装在所述螺杆底端处的限位凸缘,对称固定连接在所述螺杆顶端处的手柄。
[0020]优选的,所述螺杆具体设置有三个,且三个所述螺杆之间呈等腰三角形分布。
[0021]优选的,所述底座底部通过螺栓安装有配重块,且配重块可叠加设置有多个,所述配重块表面边缘处对称开设有装配孔,且底座下表面开设有与所述装配孔相对应的螺孔。
[0022]本专利技术的上述技术方案具有如下有益的技术效果:
[0023]1、本专利技术,当探测杆在开孔内侧下移的过程中,如果开孔的角度发生偏移,会使连接柱配合活动块进行自转,而连接柱端头处设置的检测板会同步转动,检测板处开设的标识槽会与刻度槽匹配的角度相对应,从而可检测出开口的偏移角度,然后通过冲孔装置的开孔机构进行调整,保证空位与探测区域相吻合。
[0024]2、本专利技术,将探测杆的底端处与开孔的顶口处相对应,使活动块配合支撑架向下移动,然后将探测杆插接在开孔中,随着探测杆逐步的下移,利用刮板将开孔内壁的凸起物刮除,然后利用弹簧的弹性作用力使活动座配合导向杆,从而使活动座处安装的导向轮始终与开孔的内壁相抵接,对探测杆下移具有很好的导向作用。
[0025]3、本专利技术,通过底座将装置放置在开孔的检测区域,然后通过手持手柄驱动螺杆配合底座转动,然后使螺杆的底端与接触面相抵接,同时配合水准器将底座调整至水平状态,有利于装置的检测。
附图说明
[0026]图1为本专利技术的整体结构示意图;
[0027]图2为本专利技术的另一视角下的结构示意图;
[0028]图3为本专利技术的活动座结构示意图;
[0029]图4为本专利技术的测量机构结构示意图;
[0030]图5为本专利技术的活动块结构示意图;
[0031]图6为本专利技术的螺杆结构示意图。
[0032]附图标记:
[0033]1、探测杆;2、凸台;3、通孔;4、导向杆;5、弹簧;6、活动座;7、刮板;8、导向轮;9、连接柱;10、检测板;11、标识槽;12、支撑架;13、活动块;14、导向块;15、导槽;16、刻度槽;17、配重块;18、水准器;19、螺杆;20、限位凸缘;21、手柄;22、底座。
具体实施方式
[0034]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明了,下面结合具体实施方式并参照附图,对本专利技术进一步详细说明。应该理解,这些描述只是示例性的,而并非要限制本专利技术的范围。此外,在以下说明中,省略了对公知结构和技术的描述,以避免不必要地混淆本
专利技术的概念。
[0035]如图1

6所示,本专利技术提出的一种中深孔偏移度测量装置,包括探测杆1;
[0036]安装在探测杆1底端处的导向机构;
[0037]导向机构包括固定连接在探测杆1底端处的凸台2,设置在凸台2表面边缘处的多个通孔3,对称固定连接在多个通孔3内侧的导向杆4,套设在导向杆4处的弹簧5,安装在弹簧5末端处的活动座6,一体成型在活动座6底端并呈角度设置的刮板7,通过支架安装在活动座6远离弹簧5表面处的导向轮8;
[0038]安装在探测杆1顶端处的测量机构;
[0039]测量机构包括焊接在探测杆1顶端外壁处的连接柱9,固定连接在连接柱9远离探测杆1一端处的检测板10,开设在检测板10表面边缘处的标识槽11;
[0040]测量机构一侧设置有支撑架12,支撑架12内侧安装有活动块13,且活动块13与测量机构转动连接,活动块13靠近测量机构的表面处环设有刻度槽16;
[0041]支撑架12底部设置有调整机构;
[0042]调整机构包括固定连接在支撑架12底端处的底座22,安装在底座22上表面处的水准器18,螺接在底座22表面边缘处并贯穿底本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种中深孔偏移度测量装置,其特征在于,包括探测杆(1);安装在所述探测杆(1)底端处的导向机构;安装在所述探测杆(1)顶端处的测量机构;所述测量机构一侧设置有支撑架(12),所述支撑架(12)内侧安装有活动块(13),且活动块(13)与测量机构转动连接,所述活动块(13)靠近测量机构的表面处环设有刻度槽(16);所述支撑架(12)底部设置有调整机构。2.根据权利要求1所述的一种中深孔偏移度测量装置,其特征在于,所述导向机构包括固定连接在所述探测杆(1)底端处的凸台(2),设置在所述凸台(2)表面边缘处的多个通孔(3),对称固定连接在多个所述通孔(3)内侧的导向杆(4),套设在所述导向杆(4)处的弹簧(5),安装在所述弹簧(5)末端处的活动座(6),一体成型在所述活动座(6)底端并呈角度设置的刮板(7),通过支架安装在所述活动座(6)远离弹簧(5)表面处的导向轮(8)。3.根据权利要求2所述的一种中深孔偏移度测量装置,其特征在于,多个所述通孔(3)呈凸字形结构设置,且呈凸字形结构设置的所述通孔(3)端口处设置有限位凸块,且所述限位凸块与凸台(2)为一体成型结构。4.根据权利要求1所述的一种中深孔偏移度测量装置,其特征在于,所述测量机构包括焊接在探测杆(1)顶端外壁处的连接柱(9),固定连接在所述连接柱(9)远离探测杆(1)一端处的检测板(10),开设在所述检测板(10)表面边缘处的标识槽(11)。5.根据权利要求1所述的一种中深孔偏移度测量装置,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡志伟罗飞曹英平
申请(专利权)人:山东金山地质勘探股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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