精密测量用光源机构制造技术

本实用新型专利技术涉及高精度测量设备领域，特别是一种精密测量用光源机构。旨在解决现有技术中设备灵活度低适配范围小的问题。本实用新型专利技术包括设备平台，设备平台包括圆形平台和方形平台构成的组合体，方形平台上安装光源发生装置，圆形平台的中心处安装光源调整装置，圆形平台的圆周边缘处滑动安装光源接收测量装置，光源发生装置和光源接收测量装置间设为非接触测量区域。优点在于：设计了一套可调节出光角度的纯净光源系统，便于后续进行高精度的无接触测量，从而可以匹配多种测量场合，在安装时可以转动调配测量工具的安装角度，适应范围广。广。广。

【技术实现步骤摘要】
精密测量用光源机构


[0001]本技术涉及高精度测量设备领域，特别是一种精密测量用光源机构。

技术介绍

[0002]非接触式测量，多应用于高精度测量的场合，比如细线的线径，直线度误差等测量，其测量精度能够打到微米级。其工作原理主要是利用被测工件经过平行光源后，光源会发生遮挡，之后再利用手机被遮挡后光源的数据，利用CDD等处理元件，实现对被遮挡数据的测算，进而得出测量数据，由于全程没有测量装置和工件的接触，又称为非接触式测量。
[0003]现阶段测量仪，其改进多集中在如下方面：比如提高非接触式测量相关工具的安装精度，缩小相关工具的占地面积，提高被测量工件的卡装精度。
[0004]但是技术人员认为还存在如下不足：1.采用的光源是LED光源，技术人员认为，LED光源的均匀性和纯净度不够好，会影响测量误差；2.测量设备的灵活性低，测量过程中往往是设备不动，被测设备移动，就导致测量部件一旦固定，难以移动，也就是说，通常组装后，只能测量单一的产品，对于小规模企业来说，测量产品的配置就要做到一件一配，比如轴套类一套测量工具，线径类一套测量工具本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种精密测量用光源机构，其特征在于：包括设备平台，设备平台包括圆形平台（1）和方形平台（2）构成的组合体，所述方形平台（2）上安装光源发生装置，所述圆形平台（1）的中心处安装光源调整装置，所述圆形平台（1）的圆周边缘处滑动安装光源接收测量装置（6），所述光源发生装置和所述光源接收测量装置（6）间设为非接触测量区域（13）；所述光源发生装置包括连接电源的激光二极管，所述激光二极管包括光纤（3），所述光纤（3）一端连接通电电耦，另一端安装光源发射头（4），以形成平行的柱状光源；所述光源调整装置包括两根得以绕装所述光纤（3）的限位柱（5），所述限位柱（5）的半径大于光纤（3）的半径；所述光源接收测量装置（6）包括光源处理镜片组，所述光源处理镜片组的后方安装光线测量元件以形成无接触测量部件。2.如权利要求1所述的精密测量用光源机构，其特征在于：光源处理镜片组包括将光柱面积等比扩大至少2倍的透镜组合。3.如权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：张恒，闫秋云，赵振勇，
申请(专利权)人：郑州市明锐电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：