探测基板及探测装置制造方法及图纸

技术编号:38255427 阅读:16 留言:0更新日期:2023-07-27 10:19
本公开提供的探测基板及探测装置,包括衬底基板,衬底基板包括感光区、以及包围感光区的周边区;多个有机光电探测器,位于衬底基板之上;多个有机光电探测器在感光区呈阵列排布,有机光电探测器包括层叠设置的第一电极、有机光电探测功能层和第二电极,其中,全部有机光电探测器的第二电极一体化设置、并自感光区延伸至周边区;偏压线,该偏压线为在周边区沿第一方向延伸的条状走线,且偏压线在周边区内与第二电极电连接,偏压线与有机光电探测功能层在第二方向上的最小距离大于预设阈值,其中,第一方向与第二方向相互垂直,且第一方向、第二方向均平行于衬底基板。第二方向均平行于衬底基板。第二方向均平行于衬底基板。第二方向均平行于衬底基板。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:孔德玺周琳李成李田生刘自然蔡寿金程锦张洁黄根陈紫霄
申请(专利权)人:北京京东方光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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