调试电芯的制造方法以及调试电芯技术

本发明专利技术涉及调试电芯的制造方法以及调试电芯。本发明专利技术所述的一种调试电芯的制造方法，如下步骤：步骤S1：提供间隔膜，将间隔膜边缘平齐堆叠在一起，得到堆叠件；其中，间隔膜的厚度H等于待调电芯的相邻箔材之间的间隔厚度；步骤S2：在堆叠件的每层间隔膜之间插入箔材，形成调试电芯；其中，每个箔材朝堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成调试极耳。本发明专利技术所述的一种调试电芯具有方便制作，成本低，调试效果好的优点。效果好的优点。效果好的优点。

【技术实现步骤摘要】
调试电芯的制造方法以及调试电芯


[0001]本专利技术涉及电芯生产工艺方法，特别是涉及一种调试电芯的制造方法以及调试电芯。

技术介绍

[0002]超声波焊接是锂离子电池制造的一个关键工序，作用是将多层极耳或多层极耳和转接片焊接起来。电芯的结构如图1所示，两侧为延伸出来的正极耳和负极耳，正极耳和负极耳通过超声波焊接后，形成电芯的正电极和负电极。由于极耳的正极箔材的正反面上会涂有正极箔材涂覆，负极箔材的正反面上会涂有负极箔材涂覆，且正极箔材和和负极箔材之间设有隔膜，因此箔材之间会存在间隔，在极耳被挤压时会发生弯折收拢。超声波设备在焊接前需要对待调电芯进行焊接调机，主要调试焊印位置、焊接效果，避免极耳弯折收拢的时候发生撕裂，使超声波设备在加工过程中达到最好的焊接效果。
[0003]目前最多调试使用的调试方法有多层箔材叠加和真实电芯这两种。多层箔材叠加形成模拟极耳无法调试极耳收拢位置和极耳撕裂等问题。真实电芯调试存在新产线前期制作的电芯稳定较差、成本高和无法重复利用的问题。

技术实现思路

[0004]基于此，本专利技术的目的在于，提供一种调试电芯的制造方法以及调试电芯，该制造方法制造的调试电芯使用特定厚度的间隔膜代替相邻箔材之间的厚度材料，模拟电芯的具体结构，方便调试极耳撕裂和收拢位置，且其制作方法简单，成本低，调试完更换箔材后可反复使用，具有方便制作，成本低，调试效果好的优点。
[0005]本专利技术是通过如下方案实现的：
[0006]第一方面，本专利技术提供一种调试电芯的制造方法，包括如下步骤：
[0007]步骤S1：提供间隔膜，将所述间隔膜边缘平齐堆叠在一起，得到堆叠件；其中，所述间隔膜的厚度H等于待调电芯的相邻箔材之间的间隔厚度；
[0008]步骤S2：在所述堆叠件的每层所述间隔膜之间插入箔材，形成调试电芯；其中，每个所述箔材朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成调试极耳。
[0009]进一步地，所述步骤S1具体包括步骤S11：提供一长条形间隔膜，对其进行连续折叠，形成多层所述间隔膜；其中，所述长条形间隔膜在折叠时边缘平齐堆叠，使每个折叠面的大小一致，所述长条形间隔膜的厚度为H。
[0010]进一步地，所述厚度H为待调电芯的相邻两个正极箔材或相邻两个负极箔材之间的厚度H1，所述堆叠件包括两个，所述步骤S2具体包括：
[0011]步骤S21：在第一个所述堆叠件的每个所述间隔膜之间的插入第一箔材，形成正极调试电芯；其中，每个所述第一箔材朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成正极调试极耳；
[0012]步骤S22：在第二个所述堆叠件的每个所述间隔膜之间的插入第二箔材，形成负极
调试电芯；其中，每个所述第二箔材朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成负极调试极耳。
[0013]进一步地，厚度H1的计算公式为H1＝(L2+L3+L4)
×
2+L1或H1＝(L2+L3+L4)
×
2+L5，其中，L2为待调电芯的负极箔材涂覆的厚度，L3为待调电芯的隔膜的厚度，L4为待调电芯的正极箔材涂覆的厚度，L1为待调电芯的负极箔材的厚度，L5为待调电芯的正极箔材的厚度。
[0014]进一步地，所述厚度H为待调电芯的相邻两个箔材之间的厚度H2，所述步骤S2具体包括：
[0015]在所述堆叠件的所述间隔膜之间的交替插入第一箔材和第二箔材，形成调试电芯；其中，每个所述第一箔材朝所述堆叠件的第一长边方向上伸出，伸出的部分形成正极调试极耳；每个所述第二箔材朝所述堆叠件的第二长边方向上伸出，伸出的部分形成负极调试极耳；其中，所述第二长边方向与所述第一长边方向相反。
[0016]进一步地，厚度H2的计算公式为H2＝L2+L3+L4，其中，L2为待调电芯的负极箔材涂覆的厚度，L3为待调电芯的隔膜的厚度，L4为待调电芯的正极箔材涂覆的厚度。
[0017]进一步地，所述第一箔材是铝箔；所述第二箔材是铜箔。
[0018]进一步地，所述间隔膜是聚酯膜。
[0019]第二方面，本专利技术还提供一种电芯极耳的调试方法，包括如下步骤：
[0020]步骤S1：提供间隔膜，将所述间隔膜边缘平齐堆叠在一起，得到堆叠件；其中，所述间隔膜的厚度H等于待调电芯的相邻箔材之间的间隔厚度；
[0021]步骤S2：在所述堆叠件的每层所述间隔膜之间插入箔材，形成调试电芯；其中，每个所述箔材朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成调试极耳；
[0022]步骤S3：对所述调试极耳进行超声波焊接。
[0023]第二方面，本专利技术还提供一种调试电芯，多层边缘平齐堆叠的间隔膜，所述间隔膜的厚度H等于待调电芯的相邻箔材之间的间隔厚度；
[0024]每层所述间隔膜之间插入有箔材，每个所述箔材朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成调试极耳。
[0025]本专利技术所述的一种调试电芯的制造方法以及调试电芯，具有以下有益效果：
[0026]1、通过将间隔膜平齐堆叠后，在每层的间隔膜之间插入箔材，箔材沿间隔膜的长边方向延伸形成调试极耳，制作成对极耳进行调试的调试电芯，该调试电芯的箔材形成的调试极耳与真实的电芯的极耳结构完全一致，在对该调试电芯的调试极耳进行挤压时，由于存在间隔膜的间隔厚度H，调试极耳会产生弯折收拢，在调试过程中模拟真实电芯的收拢位置和极耳撕裂问题，且制造方法简单，易于生产，生产成本低。
[0027]2、通过将间隔膜设置为聚酯膜，聚酯膜可以根据需要在生产中调节厚度，在作为待调电芯的可反复使用，具有使用成本低，易于生产的优点。
[0028]为了更好地理解和实施，下面结合附图详细说明本专利技术。
附图说明
[0029]图1为本专利技术技术背景所述的一种电芯的结构图；
[0030]图2为本专利技术实施例的一种待调电芯的制作示意图；
[0031]图3为本专利技术实施例的一种待调电芯的结构示意图；
[0032]图4为本专利技术实施例所述的真实的待调电芯的结构图；
[0033]图5为本专利技术实施例的一种待调电芯的间隔膜的结构示意图。
[0034]附图标记：调制电芯100、间隔膜110、长条形间隔膜111、箔材120、第一箔材121、第二箔材122、调试极耳130、正极调试极耳131、负极调试极耳132；
[0035]电芯200、正极耳210、负极耳220；
[0036]负极箔材310、负极箔材涂覆320、、隔膜330、正极箔材涂覆340、正极箔材350。
具体实施方式
[0037]以下是本专利技术的具体实施例并结合附图，对本专利技术的技术方案作进一步的描述，但本专利技术并不限于这些实施例。
[0038]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种调试电芯的制造方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1：提供间隔膜(110)，将所述间隔膜(110)边缘平齐堆叠在一起，得到堆叠件；其中，所述间隔膜(110)的厚度H等于待调电芯的相邻箔材之间的间隔厚度；步骤S2：在所述堆叠件的每层所述间隔膜(110)之间插入箔材(120)，形成调试电芯(100)；其中，每个所述箔材(120)朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成调试极耳(130)。2.根据权利要求1所述的一种调试电芯的制造方法，其特征在于，所述步骤S1具体包括：步骤S11：提供一长条形间隔膜(111)，对其进行连续折叠，形成多层所述间隔膜(110)；其中，所述长条形间隔膜(111)在折叠时边缘平齐堆叠，使每个折叠面的大小一致，所述长条形间隔膜(111)的厚度为H。3.根据权利要求1所述的一种调试电芯的制造方法，其特征在于，所述厚度H等于待调电芯的相邻两个正极箔材或相邻两个负极箔材之间的厚度H1，所述堆叠件包括两个，所述步骤S2具体包括：步骤S21：在其中一个所述堆叠件的每个所述间隔膜(110)之间的插入第一箔材(121)，形成正极调试电芯；其中，每个所述第一箔材(121)朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成正极调试极耳(131)；步骤S22：在另一个所述堆叠件的每个所述间隔膜(110)之间的插入第二箔材(122)，形成负极调试电芯；其中，每个所述第二箔材(122)朝所述堆叠件的长边方向上伸出，伸出的部分形成负极调试极耳(132)。4.根据权利要求3所述的一种调试电芯的制造方法，其特征在于：厚度H1的计算公式为H1＝(L2+L3+L4)
×
2+L1或H1＝(L2+L3+L4)
×
2+L5，其中，L2为待调电芯的负极箔材涂覆的厚度，L3为待调电芯的隔膜的厚度，L4为待调电芯的正极箔材涂覆的厚度，L1为待调电芯的负极箔材的厚度，L5为待调电芯的正极箔材的厚度。5.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛留伟，邹刘勇，江桦锐，谭志华，文明，
申请(专利权)人：海目星激光科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：