本发明专利技术涉及回转窑粉体实验技术领域，具体涉及一种粉体实验装置及回转窑粉体实验方法。粉体实验装置，包括：罐本体，其两端均敞口设置；第一盖体，可拆卸安装在罐本体一端，第一盖体上设置有透气孔；第二盖体，可拆卸安装在罐本体的另一端，第二盖体上设置有透气口，透气口处安装有透气格挡件；在回转窑设备的腔体内时，第二盖体朝向回转窑设备的负压端，第一盖体朝向回转窑设备的正压端。在回转窑设备中一次性对同一组实验中的多份粉体样品进行焙烧，焙烧过程中多份粉体样品的气体氛围、温度、加热时间等环境因素均完全一致，大大减少了现有技术中同一组粉体实验分批次焙烧导致的变量，能够减少粉体实验的中测得数据的实验误差。能够减少粉体实验的中测得数据的实验误差。能够减少粉体实验的中测得数据的实验误差。
【技术实现步骤摘要】
一种粉体实验装置及回转窑粉体实验方法
[0001]本专利技术涉及回转窑粉体实验
，具体涉及一种粉体实验装置及回转窑粉体实验方法。
技术介绍
[0002]回转窑在工业生产中主要用于对水泥、金属矿、石灰等进行焙烧。材料在回转窑内烧制的过程中，材料粒度、温度、停留时间、气体氛围等多维度因素均会对材料的焙烧质量产生影响。
[0003]现有技术中的回转窑设备在对材料进行焙烧时，将材料置于回转窑腔体内，回转炉腔体不断翻滚带动材料在腔体内运动的同时对材料进行焙烧，以保证材料受热的均匀程度。但是，由于现有技术中的回转窑腔体内只能放置一组材料，在利用回转窑进行实验时一次只能开展一组实验，对照实验只能在一定程度上控制温度、气体氛围等因素保持一致，多组对照实验时花费时间较长，且无法保证每组实验仅有一个变量因素，导致得到的实验室数据误差较大，缺乏数据矩阵的支撑。
技术实现思路
[0004]因此，本专利技术要解决的技术问题在于克服现有技术中的回转窑粉体实验的实验数据误差较大的缺陷，从而提供一种粉体实验装置及回转窑粉体实验方法。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术提供一种粉体实验装置，适于在回转窑设备的腔体内容纳实验样品，包括：
[0006]罐本体，其两端均敞口设置；
[0007]第一盖体，可拆卸安装在罐本体一端，第一盖体上设置有透气孔；
[0008]第二盖体，可拆卸安装在罐本体的另一端，第二盖体上设置有透气口，透气口处安装有透气格挡件；
[0009]在回转窑设备的腔体内时，第二盖体朝向回转窑设备的负压端，第一盖体朝向回转窑设备的正压端。
[0010]可选地，第一盖体呈圆台状，透气孔设置在第一盖体的侧壁上，第一盖体直径较小的一端朝向罐本体的内腔设置。
[0011]可选地，透气孔在第一盖体的侧壁上间隔设置有多个。
[0012]可选地，透气孔上设置有防尘盖，防尘盖朝向背离罐本体内腔的方向延伸。
[0013]可选地，第二盖体呈圆台状，透气口在第二盖体的侧壁上间隔设置有多个，第二盖体直径较小的一端朝向罐本体的内腔设置。
[0014]可选地，罐本体外侧壁上设置有限位件。
[0015]本专利技术还提供一种回转窑粉体实验方法，应用本专利技术所述的粉体实验装置，包括以下步骤：
[0016]取多个粉体实验装置，将同一组粉体实验的多份粉体样品分别置于不同的罐本体
中；
[0017]将多个粉体实验装置置于回转窑设备的腔体中，令粉体实验装置的第二盖体朝向回转窑设备的负压端，第一盖体朝向回转窑设备的正压端；
[0018]启动回转窑设备，对粉体样品进行焙烧。
[0019]可选地，将同一组粉体实验的多份粉体样品分别置于不同的罐本体步骤中，罐本体内容纳粉体样品的体积为罐本体容积的5％－25％。
[0020]可选地，将多个粉体实验装置置于回转窑设备的腔体步骤中，保证每个粉体实验装置的罐本体侧壁均能与回转窑设备腔体的内壁直接接触。
[0021]可选地，在罐本体内安装温度监测件，以实时校准罐本体内的实际温度。
[0022]本专利技术技术方案，具有如下优点：
[0023]1.本专利技术提供的粉体实验装置，适于在回转窑设备的腔体内容纳实验样品，包括：罐本体，其两端均敞口设置；第一盖体，可拆卸安装在罐本体一端，第一盖体上设置有透气孔；第二盖体，可拆卸安装在罐本体的另一端，第二盖体上设置有透气口，透气口处安装有透气格挡件；在回转窑设备的腔体内时，第二盖体朝向回转窑设备的负压端，第一盖体朝向回转窑设备的正压端。
[0024]在利用粉体实验装置进行粉体实验时，将同一组的多份粉体样品置于不同的罐本体中，然后将粉体实验装置置于回转窑设备的腔体中，使得回转窑设备能够一次性对同一组实验中的多份粉体样品进行焙烧，焙烧过程中多份粉体样品的气体氛围、温度、加热时间等环境因素均完全一致，大大减少了现有技术中同一组粉体实验分批次焙烧导致的变量，能够减少粉体实验的中测得数据的实验误差，提升实验结果的准确度。
[0025]2.本专利技术提供的粉体实验装置，第一盖体呈圆台状，透气孔设置在第一盖体的侧壁上，第一盖体直径较小的一端朝向罐本体的内腔设置。将第一盖体设置为圆台状并使其直径较小的一端朝向罐本体的内腔，能够有效防止罐本体中的样品从透气孔中洒落。
[0026]3.本专利技术提供的粉体实验装置，透气孔上设置有防尘盖，防尘盖朝向背离罐本体内腔的方向延伸。通过设置防尘盖能够避免回转窑设备内腔中的灰尘进入罐本体中对样品造成污染，保证样品的清洁度，减小实验结果的实验误差。
[0027]4.本专利技术提供的粉体实验装置，罐本体外侧壁上设置有限位件。使得罐本体在回转窑设备中能够随回转窑设备的腔体一起以较大的幅度转动，从而让罐本体内的粉体样品能够更好地混匀、均匀受热以及更好地与气体接触。
[0028]5.本专利技术提供的回转窑粉体实验方法，应用本专利技术所述的粉体实验装置，包括以下步骤：取多个粉体实验装置，将同一组粉体实验的多份粉体样品分别置于不同的罐本体中；将多个粉体实验装置置于回转窑设备的腔体中，令粉体实验装置的第二盖体朝向回转窑设备的负压端，第一盖体朝向回转窑设备的正压端；启动回转窑设备，对粉体样品进行焙烧。
[0029]在回转窑设备内一次性对同一组实验中的多份粉体样品进行焙烧，焙烧过程中多份粉体样品的气体氛围、温度、加热时间等环境因素均完全一致，大大减少了现有技术中同一组粉体实验分批次焙烧导致的变量，能够减少粉体实验的中测得数据的实验误差，提升实验结果的准确度。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0031]图1为本专利技术的实施方式中提供的粉体实验装置的结构示意图。
[0032]图2为本专利技术的实施方式中提供的第一盖体的结构示意图。
[0033]图3为本专利技术的实施方式中提供的第二盖体的结构示意图。
[0034]附图标记说明：1、罐本体；2、第一盖体；3、第二盖体；4、透气孔；5、防尘盖；6、透气格挡件；7、限位件。
具体实施方式
[0035]下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0036]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种粉体实验装置，其特征在于，适于在回转窑设备的腔体内容纳实验样品，包括：罐本体(1)，其两端均敞口设置；第一盖体(2)，可拆卸安装在所述罐本体(1)一端，所述第一盖体(2)上设置有透气孔(4)；第二盖体(3)，可拆卸安装在所述罐本体(1)的另一端，所述第二盖体(3)上设置有透气口，所述透气口处安装有透气格挡件(6)；在回转窑设备的腔体内时，所述第二盖体(3)朝向回转窑设备的负压端，所述第一盖体(2)朝向回转窑设备的正压端。2.根据权利要求1所述的粉体实验装置，其特征在于，所述第一盖体(2)呈圆台状，所述透气孔设置在所述第一盖体(2)的侧壁上，所述第一盖体(2)直径较小的一端朝向所述罐本体(1)的内腔设置。3.根据权利要求2所述的粉体实验装置，其特征在于，所述透气孔在所述第一盖体(2)的侧壁上间隔设置有多个。4.根据权利要求1至3任一项所述的粉体实验装置，其特征在于，所述透气孔上设置有防尘盖(5)，所述防尘盖(5)朝向背离所述罐本体(1)内腔的方向延伸。5.根据权利要求1至3任一项所述的粉体实验装置，其特征在于，所述第二盖体(3)呈圆台状，所述透气口在所述第二盖体(3)的侧壁上间隔设置有多个，所述第...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡羽，
申请(专利权)人：礼思上海材料科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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