轴突反电势及磁环信号测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开一种轴突反电势及磁环信号测试设备，其包括机架、轴突测试机构、反电势测试机构、第一输送装置和第二输送装置，所述轴突测试机构包括轴突位移传感器和轴突升降气缸；所述第一输送装置位于轴突测试机构前侧，其包括有第一载物台；所述反电势测试机构包括有通电组件和测试组件；所述测试组件包括有测试电机、弹性连接头和升降组件，所述测试电机安装于升降组件之输出端上，所述弹性连接头安装于测试电机轴端。因此，通过将轴突测试机构、反电势测试机构、第一输送装置和第二输送装置集成于机架上形成轴突反电势及磁环信号测试机，该测试机能够实现对电机的自动化轴突虚位检测、反电势测试及转速测试，整体结构简单，操作方便。操作方便。操作方便。

【技术实现步骤摘要】
轴突反电势及磁环信号测试设备


[0001]本技术涉及电机测试领域技术，尤其是指一种轴突反电势及磁环信号测试设备。

技术介绍

[0002]随着科学技术的不断进步，马达越来越多地运用到各种各样不同的领域，马达的制造要求也相应的越来越高，以对应各行各业不断提出的各种更高要求，马达轴突虚位又称马达轴向窜动，是指电机轴在工作中沿轴线方向不可避免的微小移动，为了避免虚位过大带来装配上的危害，在生产马达的过程中增加了虚位检测的工序；反电势测试是在电机通电后，测试其扭矩值是否符合标准；轴突虚位检测和反电势测试均为电机装配后必须经历的检验步骤，现有设备针对轴突虚位检测的机构结构复杂，针对反电势测试的机构需要另外配备对位装置以连接待测电机轴，操作不便，检测效率低。因此，应对现有的检测设备进行改进，以解决上述问题。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本技术针对现有技术存在之缺失，其主要目的是提供一种轴突反电势及磁环信号测试设备，其通过将轴突测试机构、反电势测试机构、第一输送装置和第二输送装置集成于机架上形成轴突反电势及磁环信号测试机，该测试机能够实现对电机的自动化轴突虚位检测、反电势测试及转速测试，整体结构简单，操作方便。
[0004]为实现上述目的，本技术采用如下之技术方案：
[0005]一种轴突反电势及磁环信号测试设备，其包括有机架、安装于机架上的轴突测试机构、反电势测试机构、用于输送待测电机的第一输送装置和第二输送装置，所述机架上具有供安装轴突测试机构和反电势测试机构的工作台，所述轴突测试机构包括有轴突位移传感器和驱动轴突位移传感器升降以抵紧待测电机的轴突升降气缸，所述轴突位移传感器安装于轴突升降气缸之输出端上；所述第一输送装置位于轴突测试机构前侧，其包括有第一输送气缸和安装于第一输送气缸之输出端上的第一载物台，所述待测电机放置于第一载物台上；所述反电势测试机构包括有通电组件和测试组件，所述通电组件包括有电极和驱动电极与待测电机电源接口相插接的接电驱动气缸，所述电极安装于接电驱动气缸之输出端上；所述测试组件包括有测试电机、弹性连接头和用于驱动测试电机升降以与待测电机轴端相连的升降组件，所述测试电机安装于升降组件之输出端上，所述弹性连接头安装于测试电机轴端；所述第二输送装置位于反电势测试机构前侧。
[0006]作为一种优选方案：所述第一输送装置和第二输送装置侧旁分别设置有用于对待测电机进行扫码收集产品信息的扫码枪。
[0007]作为一种优选方案：所述测试组件下方设置有用于对待测电机进行压紧固定的压紧组件，所述压紧组件包括有压紧板、驱动压紧板升降的压紧驱动气缸以及驱动压紧板纵向远离或靠近待测电机的纵移驱动气缸，所述压紧驱动气缸安装于纵移驱动气缸之输出端
上，所述压紧板安装于压紧驱动气缸之输出端上。
[0008]作为一种优选方案：所述测试组件还包括有用于检测测试电机是否与待测电机轴正确相连的光纤传感器，所述光纤传感器位于所述弹性连接头侧旁。
[0009]作为一种优选方案：所述升降组件包括有反电势测试支架、升降驱动电机、丝杆和滑动座，所述反电势测试支架位于第二输送装置尾部，所述升降驱动电机安装于反电势测试支架顶部，所述丝杆竖向与升降驱动电机轴端相连，所述滑动座可滑动式安装于反电势测试支架上，并与丝杆可转动式配合；所述测试电机安装于滑动座上。
[0010]作为一种优选方案：所述第一输送装置和第二输送装置起始端分别设置有用于检测待测电机是否放置的物料传感器。
[0011]作为一种优选方案：所述第二输送装置包括有第二载物台和驱动第二载物台靠近于测试电机下方的驱动源，并于第二载物台下表面上设置有用于测试待测电机轴端磁环转速的霍尔传感器。
[0012]作为一种优选方案：所述第二输送装置还包括有导轨，所述第二载物台可滑动式安装于导轨上。
[0013]作为一种优选方案：所述轴突测试机构还包括有轴突测试支架，所述轴突升降气缸安装于轴突测试支架上，所述轴突升降气缸之输出端上安装有一支撑座，所述轴突位移传感器竖向安装于支撑座上，并所述支撑座具有一向下将待测电机抵压固定的固定板，所述轴突位移传感器竖向穿设于固定板中心。
[0014]作为一种优选方案：所述压紧板具有两可压紧于待测电机两侧壁上的压臂。
[0015]本技术与现有技术相比具有明显的优点和有益效果，具体而言，由上述技术方案可知，通过将轴突测试机构、反电势测试机构、第一输送装置和第二输送装置集成于机架上形成轴突反电势及磁环信号测试机，该测试机能够实现对电机的自动化轴突虚位检测、反电势测试及转速测试，整体结构简单，操作方便；并且，反电势测试机构具备自动与待测电机轴端进行对位连接的功能，无需另外设置对位装置，简化了整体结构，同时提高了测试效率。
[0016]为更清楚地阐述本技术的结构特征和功效，下面结合附图与具体实施例来对其进行详细说明。
附图说明
[0017]图1为本技术之测试设备立体示意图；
[0018]图2为本技术之测试设备另一视角立体示意图；
[0019]图3为本技术之轴突测试机构与第一输送装置配合立体示意图；
[0020]图4为图3之侧面示意图；
[0021]图5为本技术之反电势测试机构与第二输送装置配合立体示意图；
[0022]图6为本技术之反电势测试机构与第二输送装置配合侧面示意图；
[0023]图7为本技术之反电势测试机构与第二输送装置配合另一侧面示意图。
[0024]附图标识说明：
[0025]10、机架；11、工作台；20、轴突测试机构；21、轴突位移传感器；22、轴突升降气缸；23、轴突测试支架；24、支撑座；25、固定板；30、反电势测试机构；31、通电组件；311、电极；
312、接电驱动气缸；32、测试组件；321、测试电机；322、弹性连接头；323、升降组件；324、反电势测试支架；325、升降驱动电机；326、滑动座；33、压紧组件；331、压紧板；3311、压臂；332、压紧驱动气缸；333、纵移驱动气缸；34、光纤传感器；40、第一输送装置；41、第一输送气缸；42、第一载物台；50、第二输送装置；51、第二载物台；52、导轨；60、扫码枪；70、物料传感器。
具体实施方式
[0026]本技术如图1至图7所示，一种轴突反电势及磁环信号测试设备，包括有机架10、安装于机架10上的轴突测试机构20、反电势测试机构30、用于输送待测电机的第一输送装置40和第二输送装置50，其中：
[0027]所述机架10上具有供安装轴突测试机构20和反电势测试机构30的工作台11。
[0028]所述轴突测试机构20包括有轴突位移传感器21和驱动轴突位移传感器21升降以抵紧待测电机的轴突升降气缸22，所述轴突位移传感器21安装于轴突升降气缸22之输出端上；所述第一输送装置40位于轴突测试机构20前侧，其包括有第一输送气缸41和安装于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种轴突反电势及磁环信号测试设备，其特征在于：包括有机架、安装于机架上的轴突测试机构、反电势测试机构、用于输送待测电机的第一输送装置和第二输送装置，所述机架上具有供安装轴突测试机构和反电势测试机构的工作台，所述轴突测试机构包括有轴突位移传感器和驱动轴突位移传感器升降以抵紧待测电机的轴突升降气缸，所述轴突位移传感器安装于轴突升降气缸之输出端上；所述第一输送装置位于轴突测试机构前侧，其包括有第一输送气缸和安装于第一输送气缸之输出端上的第一载物台，所述待测电机放置于第一载物台上；所述反电势测试机构包括有通电组件和测试组件，所述通电组件包括有电极和驱动电极与待测电机电源接口相插接的接电驱动气缸，所述电极安装于接电驱动气缸之输出端上；所述测试组件包括有测试电机、弹性连接头和用于驱动测试电机升降以与待测电机轴端相连的升降组件，所述测试电机安装于升降组件之输出端上，所述弹性连接头安装于测试电机轴端；所述第二输送装置位于反电势测试机构前侧。2.根据权利要求1所述的轴突反电势及磁环信号测试设备，其特征在于：所述第一输送装置和第二输送装置侧旁分别设置有用于对待测电机进行扫码收集产品信息的扫码枪。3.根据权利要求1所述的轴突反电势及磁环信号测试设备，其特征在于：所述测试组件下方设置有用于对待测电机进行压紧固定的压紧组件，所述压紧组件包括有压紧板、驱动压紧板升降的压紧驱动气缸以及驱动压紧板纵向远离或靠近待测电机的纵移驱动气缸，所述压紧驱动气缸安装于纵移驱动气缸之输出端上，所述压紧板安装于压紧驱动气缸之输出端上。4.根据权利要求1所述的轴突反电势及磁环信号测试设备，其特征在于：所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：李治强，周华国，廖建勇，
申请(专利权)人：深圳市合利士智能装备有限公司，
类型：新型
国别省市：