用于测试两脚器件和三脚器件的测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种用于测试两脚器件和三脚器件的测试装置及测试方法，测试装置包括栅极驱动电路、电压提供电路、测试电路、待测器件和第一开关器件，测试电路具有第一连接端点至第三连接端点，待测器件为两脚或三脚器件，并通过连接在测试电路上；栅极驱动电路连接第一开关器件的栅极，电压提供电路的正极端连接第一开关器件的漏极，第一开关器件的源极连接第一连接端点，电压提供电路的负极和第二连接端点均连接第一节点，测试电路从第一连接端点至第三连接端点采集待测器件的各端口间电压，从第二连接端点采集流经待测器件的电流，以兼容测量两脚器件和三脚器件，无需在器件种类更换时更换测试装置，降低了测试装置的数量，降低装置的相关投入。置的相关投入。置的相关投入。

【技术实现步骤摘要】
用于测试两脚器件和三脚器件的测试装置及测试方法


[0001]本专利技术涉及测试电路领域，特别涉及一种用于测试两脚器件和三脚器件的测试装置及测试方法。

技术介绍

[0002]目前，市面上的TRR（反向恢复时间）的测试仪测量系统，在应用环境需要测量两脚器件和三脚器件时，两脚器件例如是二极管，三脚器件例如是MOSFET（或IGBT）等三极管，目前一般需要使用两台设备、两套测量回路分别进行测量，也就是说，两脚器件和三脚器件的测试设备不通用，这就使得从测量两脚器件更换为测量三脚器件或从测量三脚器件更换为测量两脚器件时，需要更换测试装置，从而增加了装置成本投入，同时更换设备的时间成本增加、维护成本增加、测量费用的增加，最终导致器件的单价上升。另外，两套测试装置也会占用更多的环境资源，在使用者需要针对多种类器件（例如两脚器件和三脚器件）进行测试时，出现了比较频繁的应用环境，造成了大大的不便。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于，提供一种用于测试两脚器件和三脚器件的测试装置及测试方法，可以兼容测量两脚器件和三脚器件，无需在器件种类更换时更换测试装置，从而降低了测试装置的数量，降低装置的相关投入。
[0004]本专利技术提供一种用于测试两脚器件和三脚器件的测试装置，包括栅极驱动电路、电压提供电路、测试电路、待测器件和第一开关器件，所述测试电路具有第一连接端点、第二连接端点和第三连接端点，其中，所述待测器件为两脚器件或三脚器件，所述待测器件通过所述第一连接端点、第二连接端点和第三连接端点连接在所述测试电路上；所述栅极驱动电路连接所述第一开关器件的栅极，所述电压提供电路的正极端连接所述第一开关器件的漏极，所述第一开关器件的源极连接所述第一连接端点，所述电压提供电路的负极和所述第二连接端点均连接第一节点，所述测试电路从所述第一连接端点、第二连接端点和第三连接端点采集所述待测器件的各端口间电压，从所述第二连接端点采集流经所述待测器件的电流。
[0005]可选的，所述待测器件为三极管时，所述第一连接端点连接所述三极管的漏极，所述第二连接端点连接所述三极管的栅极，所述第三连接端点连接所述三极管的源极；所述待测器件为二极管时，所述第一连接端点连接所述二极管的负极，所述第二连接端点连接所述二极管的正极。
[0006]可选的，所述测试电路包括恒流源电路、第一电流传感器、第二电流传感器、第三电流传感器、功率电感、采集单元、第一继电器至第五继电器，所述第一继电器、第三继电器、第四继电器和第五继电器均为单刀单置继电器，第二继电器为双刀双置继电器，使得所述第二继电器包括第一刀、第二刀和四个端口，所述第一刀连接所述恒流源电路和采集单元，所述第二刀接地，第一端口和第四
端口均同时连接所述第三继电器的一端以及所述第四继电器的一端，第二端口和第三端口同时连接所述第二连接端点，所述第三继电器的另一端连接所述第三连接端点，所述第四继电器的另一端和所述第五继电器的一端均连接所述第一连接端点，所述第一连接端点还连接所述采集单元和所述第一开关器件的源极，所述第五继电器的另一端连接所述功率电感的一端，所述第二连接端点通过第一导线连接所述第三电流传感器的输入端，且所述第一导线穿设在所述第一电流传感器中，所述功率电感的另一端通过第二导线后连接第一节点，且所述第二导线穿设在所述第二电流传感器中，所述第三电流传感器的第一输出端连接第一节点，所述第三电流传感器的第二输出端连接所述采集单元。
[0007]进一步的，所述恒流源电路包括恒流源、高压二极管和第一电源，所述测试电路还包括运放电路，所述运放电路包括两个输入端和一个输出端，所述运放电路的输出端同时连接所述采集单元和所述运放电路的第二输入端，所述运放电路的第一输入端同时连接所述恒流源的输出端和所述高压二极管的正极，所述恒流源的输入端连接所述第一电源的正极，所述第一电源的负极接地，所述高压二极管的负极连接所述第一刀。
[0008]进一步的，所述栅极驱动电路包括运算放大器、第一二极管、第二二极管、第一电阻、第二电阻、驱动信号源、第二电源和第三电源，所述运算放大器包括输入端、输出端、正电源端和负电源端，所述运算放大器的输入端连接所述驱动信号源，所述运算放大器的正电源端连接所述第二电源的正极，所述运算放大器的负电源端连接所述第三电源的负极，所述第二电源的负极与所述第三电源的正极同时接地，所述运算放大器的输出端同时连接所述第一二极管的正极和所述第二二极管的负极，所述第一二极管的负极连接所述第一电阻的一端，所述第二二极管的正极连接所述第二电阻的一端，所述第一电阻的另一端和所述电阻的另一端同时连接所述第一开关器件的栅极。
[0009]进一步的，所述电压提供电路包括大功率程控电源、第一电容、第二电容和第二开关器件，所述第一开关器件的漏极同时连接所述电容的一端和所述第二开关器件的源极，所述第二开关器件的栅极输入驱动信号，所述第二开关器件的漏极同时连接所述电容的一端和所述第一继电器的一端，所述继电器的另一端连接所述大功率程控电源的正极，所述大功率程控电源的负极、所述电容的另一端和所述电容的另一端均连接第一节点。
[0010]另一方面，本专利技术还提供一种用于测试两脚器件和三脚器件的测试方法，包括以下步骤：步骤S1：提供所述用于测试两脚器件和三脚器件的测试装置和待测器件，通过所述测试装置的连接端点将所述待测器件安装在所述测试装置上；步骤S2：第一次调整所述第一继电器至第五继电器的状态，测量所述待测器件的各连接端点间电压，根据测量结果判定所述待测器件是否为三脚器件，若是则执行步骤S3，若否则执行步骤S4；步骤S3：第二次调整所述第一继电器至第五继电器的状态，并进行反向恢复时间参数测试；步骤S4：第三次调整所述第一继电器至第五继电器的状态，测量所述待测器件的
各连接端点间电压，根据测量结果判定所述待测器件是否为两脚器件，若是则执行步骤S5，若否则结束测试；步骤S5：第四次调整所述第一继电器至第五继电器的状态，并进行反向恢复时间参数测试，接着结束测试。
[0011]可选的，所述待测器件为三极管时，所述第一连接端点连接所述三极管的漏极，所述第二连接端点连接所述三极管的栅极，所述第三连接端点连接所述三极管的源极；所述待测器件为二极管时，所述第一连接端点连接所述二极管的负极，所述第二连接端点连接所述二极管的正极。
[0012]可选的，步骤2包括：释放所述第一继电器、第二继电器和第五继电器，闭合第三继电器和第四继电器，同时，释放第二开关器件；第一次设定恒流源的输出电流，并通过运放电路和采集单元对所述待测器件的实测的阈值电压进行采样，并判断所述阈值电压是否在设定范围内，从而判断所述待测器件是否为安装正确且没有损坏的三脚器件，若是则执行步骤S3，若否则执行步骤S4。
[0013]可选的，步骤3包括：闭合所述第一继电器、第二继电器、第三继电器和第五继电器，释放第四继电器；进行反向恢复时间参数测试，采样并输出开关时间参数的测试结果和三脚器件的阈值电压。
[0014]可选的，步骤4包括：释放所述第一继本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试两脚器件和三脚器件的测试装置，其特征在于，包括栅极驱动电路、电压提供电路、测试电路、待测器件和第一开关器件，所述测试电路具有第一连接端点、第二连接端点和第三连接端点，其中，所述待测器件为两脚器件或三脚器件，所述待测器件通过所述第一连接端点、第二连接端点和第三连接端点连接在所述测试电路上；所述栅极驱动电路连接所述第一开关器件的栅极，所述电压提供电路的正极端连接所述第一开关器件的漏极，所述第一开关器件的源极连接所述第一连接端点，所述电压提供电路的负极和所述第二连接端点均连接第一节点，所述测试电路从所述第一连接端点、第二连接端点和第三连接端点采集所述待测器件的各端口间电压，从所述第二连接端点采集流经所述待测器件的电流。2.如权利要求1所述的用于测试两脚器件和三脚器件的测试装置，其特征在于，所述待测器件为三极管时，所述第一连接端点连接所述三极管的漏极，所述第二连接端点连接所述三极管的栅极，所述第三连接端点连接所述三极管的源极；所述待测器件为二极管时，所述第一连接端点连接所述二极管的负极，所述第二连接端点连接所述二极管的正极。3.如权利要求1所述的用于测试两脚器件和三脚器件的测试装置，其特征在于，所述测试电路包括恒流源电路、第一电流传感器、第二电流传感器、第三电流传感器、功率电感、采集单元、第一继电器至第五继电器，所述第一继电器、第三继电器、第四继电器和第五继电器均为单刀单置继电器，第二继电器为双刀双置继电器，使得所述第二继电器包括第一刀、第二刀和四个端口，所述第一刀连接所述恒流源电路和采集单元，所述第二刀接地，第一端口和第四端口均同时连接所述第三继电器的一端以及所述第四继电器的一端，第二端口和第三端口同时连接所述第二连接端点，所述第三继电器的另一端连接所述第三连接端点，所述第四继电器的另一端和所述第五继电器的一端均连接所述第一连接端点，所述第一连接端点还连接所述采集单元和所述第一开关器件的源极，所述第五继电器的另一端连接所述功率电感的一端，所述第二连接端点通过第一导线连接所述第三电流传感器的输入端，且所述第一导线穿设在所述第一电流传感器中，所述功率电感的另一端通过第二导线后连接第一节点，且所述第二导线穿设在所述第二电流传感器中，所述第三电流传感器的第一输出端连接第一节点，所述第三电流传感器的第二输出端连接所述采集单元。4.如权利要求3所述的用于测试两脚器件和三脚器件的测试装置，其特征在于，所述恒流源电路包括恒流源、高压二极管和第一电源，所述测试电路还包括运放电路，所述运放电路包括两个输入端和一个输出端，所述运放电路的输出端同时连接所述采集单元和所述运放电路的第二输入端，所述运放电路的第一输入端同时连接所述恒流源的输出端和所述高压二极管的正极，所述恒流源的输入端连接所述第一电源的正极，所述第一电源的负极接地，所述高压二极管的负极连接所述第一刀。5.如权利要求3所述的用于测试两脚器件和三脚器件的测试装置，其特征在于，所述栅极驱动电路包括运算放大器、第一二极管、第二二极管、第一电阻、第二电阻、驱动信号源、第二电源和第三电源，所述运算放大器包括输入端、输出端、正电源端和负电源端，所述运算放大器的输入端连接所述驱动信号源，所述运算放大器的正电源端连接所述
第二电源的正极，所述运算放大器的负电源端连接所述第三电源的负极，所述第二电源的负极与所述第三电源的正极同时接地，所述运算放大器的输出端同时连接所述第一二极管的正极和所述第二二极管的负极，所述第一二极管的负极连接所述第一电阻的一端，所述第二二极管的正极连接所述第二电阻的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：何嘉辉，陈希辰，钟有权，
申请(专利权)人：佛山市联动科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：