场效应管门极阈值电压的测量电路及方法技术

本发明专利技术公开了一种场效应管门极阈值电压的测量电路及方法，本发明专利技术涉及半导体场效应晶体管技术领域，其中包括：分压电路与运算放大器的第一输入端连接，用于调整第一输入端的电压值；运算放大器的第二输入端与采样电路及场效应管的源极连接；运算放大器的输出端与场效应管的门极连接；采样电路还与场效应管的源极及电压测量装置连接，用于采集不同电流值下的源极电压；电压测量装置与运算放大器的输出端和场效应管的门极连接，用于测量运算放大器的输出端和场效应管的门极电压；并根据门极电压和源极电压，计算场效应管在不同电流值下的门极阈值电压。通过应用本申请的技术方案，能够提高场效应管门极阈值电压的测量效率。提高场效应管门极阈值电压的测量效率。提高场效应管门极阈值电压的测量效率。

【技术实现步骤摘要】
场效应管门极阈值电压的测量电路及方法


[0001]本专利技术涉及半导体场效应晶体管
，具体而言，涉及一种场效应管门极阈值电压的测量电路及方法。

技术介绍

[0002]在使用场效应管设计电路时，常常会因为使用单个场效应管不能满足电流的要求而需要将多个场效应管进行并联使用以达到目标。在并联使用时，需要尽可能使电流均匀地流过各个场效应管，因此，一般会选择参数相近的场效应管进行并联。在场效应管的参数中门极阈值电压对于均流影响最大，因此有必要对其进行测量。
[0003]目前，通常采用半导体测量仪测量场效应管的静态转移特性曲线，并根据该静态转移特性曲线，确定场效应管的门极阈值电压。然而，这种方式需要经过多次测量才能得到场效应管的静态转移特性曲线，操作过于繁琐，会影响场效应管门极阈值电压的测量效率。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种场效应管门极阈值电压的测量电路及方法，主要在于能够提高场效应管门极阈值电压的测量效率。
[0005]根据本专利技术实施例的第一方面，提供一种场效应管门极阈值电压的测量电路，包括：分压电路、运算放大器、场效应管、采样电路和电压测量装置；
[0006]所述分压电路与所述运算放大器的第一输入端连接，用于调整所述第一输入端的电压值；
[0007]所述运算放大器的第二输入端与所述采样电路及所述场效应管的源极连接；
[0008]所述运算放大器的输出端与所述场效应管的门极连接，用于基于所述第一输入端的电压值和所述第二输入端的电压值，确定所述场效应管在不同电流值下的门极电压；
[0009]所述采样电路还与所述场效应管的源极及所述电压测量装置连接，用于采集不同电流值下的源极电压；
[0010]所述电压测量装置与所述运算放大器的输出端和所述场效应管的门极连接，用于测量所述运算放大器的输出端和所述场效应管的门极电压；并根据所述门极电压和所述源极电压，计算所述场效应管在不同电流值下的门极阈值电压。
[0011]根据本专利技术实施例的第二方面，提供一种场效应管门极阈值电压的测量方法，包括：
[0012]分压电路与运算放大器的第一输入端连接，用于调整所述第一输入端的电压值；
[0013]所述运算放大器的第二输入端与采样电路及场效应管的源极连接；
[0014]所述运算放大器的输出端与所述场效应管的门极连接，用于基于所述第一输入端的电压值和所述第二输入端的电压值，确定所述场效应管在不同电流值下的门极电压；
[0015]所述采样电路还与所述场效应管的源极及电压测量装置连接，用于采集不同电流值下的源极电压；
[0016]所述电压测量装置与所述运算放大器的输出端和所述场效应管的门极连接，用于测量所述运算放大器的输出端和所述场效应管的门极电压；并根据所述门极电压和所述源极电压，计算所述场效应管在不同电流值下的门极阈值电压。
[0017]根据本专利技术实施例的第三方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现以下步骤：
[0018]分压电路与运算放大器的第一输入端连接，用于调整所述第一输入端的电压值；
[0019]所述运算放大器的第二输入端与采样电路及场效应管的源极连接；
[0020]所述运算放大器的输出端与所述场效应管的门极连接，用于基于所述第一输入端的电压值和所述第二输入端的电压值，确定所述场效应管在不同电流值下的门极电压；
[0021]所述采样电路还与所述场效应管的源极及电压测量装置连接，用于采集不同电流值下的源极电压；
[0022]所述电压测量装置与所述运算放大器的输出端和所述场效应管的门极连接，用于测量所述运算放大器的输出端和所述场效应管的门极电压；并根据所述门极电压和所述源极电压，计算所述场效应管在不同电流值下的门极阈值电压。
[0023]根据本专利技术实施例的第四方面，提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤：
[0024]分压电路与运算放大器的第一输入端连接，用于调整所述第一输入端的电压值；
[0025]所述运算放大器的第二输入端与采样电路及场效应管的源极连接；
[0026]所述运算放大器的输出端与所述场效应管的门极连接，用于基于所述第一输入端的电压值和所述第二输入端的电压值，确定所述场效应管在不同电流值下的门极电压；
[0027]所述采样电路还与所述场效应管的源极及电压测量装置连接，用于采集不同电流值下的源极电压；
[0028]所述电压测量装置与所述运算放大器的输出端和所述场效应管的门极连接，用于测量所述运算放大器的输出端和所述场效应管的门极电压；并根据所述门极电压和所述源极电压，计算所述场效应管在不同电流值下的门极阈值电压。
[0029]本专利技术提供的一种场效应管门极阈值电压的测量电路及方法，与现有的测量方式相比，能够直接测量场效应管在不同电流值下的门极阈值电压，从而能够简化操作过程，提高场效应管门极阈值电压的测量效率。
[0030]上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0032]图1示出了本专利技术实施例提供的场效应管门极阈值电压的测量电路图；
[0033]图2示出了本专利技术实施例提供的一种场效应管门极阈值电压的测量方法流程示意
图。
具体实施方式
[0034]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0035]需要说明的是，本专利技术实施例及附图中的术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0036]现有的测量方式需要先确定场效应管的静态转移特性曲线，操作过于繁琐，会影响场效应管门极阈值电压的测量效率。
[0037]为了克服上述缺陷，本专利技术实施例提供了一种场效应管门极阈值电压的测量电路，如图1所示，所述电路包括：分压电路、运算放大器、场效应管、采样电路和电压测量装置；所述分压电路与所述运算放大本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种场效应管门极阈值电压的测量电路，其特征在于，包括：分压电路、运算放大器、场效应管、采样电路和电压测量装置；所述分压电路与所述运算放大器的第一输入端连接，用于调整所述第一输入端的电压值；所述运算放大器的第二输入端与所述采样电路及所述场效应管的源极连接；所述运算放大器的输出端与所述场效应管的门极连接，用于基于所述第一输入端的电压值和所述第二输入端的电压值，确定所述场效应管在不同电流值下的门极电压；所述采样电路还与所述场效应管的源极及所述电压测量装置连接，用于采集不同电流值下的源极电压；所述电压测量装置与所述运算放大器的输出端和所述场效应管的门极连接，用于测量所述运算放大器的输出端和所述场效应管的门极电压；并根据所述门极电压和所述源极电压，计算所述场效应管在不同电流值下的门极阈值电压。2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述电压测量装置用于将所述门极电压与所述源极电压相减，得到所述场效应管在不同电流值下的门极阈值电压。3.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述分压电路包括第一电阻和第二电阻，所述第一电阻的输入端接电源，所述第一电阻的输出端分别与所述第二电阻的输入端和所述运算放大器的第一输入端连接，所述第二电阻的输出端接地。4.根据权利要求3所述的电路，其特征在于，所述分压电路还包括第一电容，所述第一电容与所述第二电阻并联。5.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述电路还包括第二电容，所述第二电容的一端接所述运算放大器的供电电源，另一端接地。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采样电...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾占科，方成，郝守刚，李进，
申请(专利权)人：北京易控氢能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：