本发明专利技术涉及废旧电子产品回收技术领域，特别涉及废旧电子产品回收方法及其回收系统。本发明专利技术通过将废旧电子产品分为可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品，这样便于对可拆卸电子产品进行进一步的分类，通过将可拆卸电子产品分为外观无缺陷电子产品和外观有缺陷电子产品，这样便于仅对外观无缺陷电子产品的内部零件参数进行检测判断，分为优良电子产品和劣质电子产品，从而针对优良电子产品和劣质电子产品分别进行再利用和粉碎的回收，通过层层分类筛选可以将废旧电子产品中进行更加细化的分类，不仅使得回收成本更加准确，而且还大大节省了人力成本。人力成本。人力成本。
【技术实现步骤摘要】
废旧电子产品回收方法及其回收系统
[0001]本专利技术涉及废旧电子产品回收
，特别涉及废旧电子产品回收方法及其回收系统。
技术介绍
[0002]电子产品是以电能为工作基础的相关产品，主要包括：电话、电视机、影碟机（VCD、 SVCD、DVD)、录像机、摄录机、收音机、收录机、组合音箱、激光唱机（CD)、电脑、移动通信产品等。
[0003]目前废旧电子产品回收方法的主要方式是人力分类，不仅难以满足大批量的回收需求，而且只能根据外观进行分类，无法对废旧电子产品的内部零器件的参数质量进行分类回收，进而会由于分类不够细化而导致回收成本不准确的问题。
技术实现思路
[0004]本专利技术的主要目的为提供废旧电子产品回收方法，旨在解决废旧电子产品的回收利用效率低和资源利用效益低的技术问题。
[0005]本专利技术提供了废旧电子产品回收方法，包括：对废旧电子产品进行分类，得到可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品；对所述可拆卸电子产品的外观进行检测，得到第一检测结果，其中，所述第一检测结果包括外观无缺陷电子产品和外观有缺陷电子产品；获取所述外观无缺陷电子产品的多个零件参数，其中，所述零件参数包括使用时长、磨损系数、第一零件质量和磨损面积；将多个所述零件参数输入至校对模型中，得到第二检测结果；判断所述第二检测结果是否小于预设参数；若所述第二检测结果小于预设参数，判定外观无缺陷电子产品是优良电子产品，并对所述优良电子产品进行再利用回收；若所述第二检测结果不小于预设参数，判定外观无缺陷电子产品是劣质电子产品，则对所述劣质电子产品进行粉碎回收。
[0006]作为优选，所述对废旧电子产品进行分类，得到可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品的步骤，包括：获取废旧电子产品的连接方式；判断所述连接方式是整体连接还是散装连接；若所述连接方式是整体连接，则判定废旧电子产品为不可拆卸电子产品；若所述连接方式是散装连接，则判定废旧电子产品为可拆卸电子产品。
[0007]作为优选，所述对所述可拆卸电子产品的外观进行检测，得到第一检测结果的步骤，包括：获取可拆卸电子产品的表面图像，并对所述表面图像进行灰度化处理，得到灰度
图；提取所述灰度图的多个形状特征向量，并对所述多个形状特征向量进行加权计算，得到外观检测值，其中，计算公式为：；其中，V表示外观检测值，M表示特征向量的数目，T表示每个特征向量；判断所述外观检测值是否超过第一预设值；若所述外观检测值超过第一预设值，则判定可拆卸电子产品的第一检测结果为外观有缺陷电子产品；若所述外观检测值未超过第一预设值，则判定外观无缺陷电子产品。
[0008]作为优选，所述将多个所述零件参数输入至校对模型中，得到第二检测结果的步骤，包括：获取外观无缺陷电子产品中多个零件的第一零件质量、使用时长、磨损系数和磨损面积；获取标准电子产品中多个零件的使用寿命、第二零件质量和总面积；根据多个零件的使用时长、磨损系数、第一零件质量和磨损面积以及标准电子产品的使用寿命、第二零件质量和总面积计算每个零件的第二检测结果，其中，计算公式为：；其中，P表示每个零件的第二检测结果，t表示外观无缺陷电子产品中每个零件的使用时长，n表示外观无缺陷电子产品中每个零件的第一零件质量，s表示外观无缺陷电子产品中每个零件的磨损面积，Q表示外观无缺陷电子产品中每个零件的磨损系数，T表示标准电子产品的使用寿命，N表示标准电子产品的第二零件质量，S表示标准电子产品的总面积。
[0009]作为优选，所述获取外观无缺陷电子产品中多个零件的第一零件质量的步骤，包括：获取多个零件的产品信息；根据所述产品信息获取质量标准信息；根据所述质量标准信息和产品信息对所述多个零件进行质量检测，得到第一零件质量。
[0010]作为优选，所述判断所述第二检测结果是否小于预设参数的步骤之后，还包括：获取优良电子产品的总体数量以及每个优良电子产品的体积；根据优良电子产品的总体数量和每个优良电子产品的体积进行排序，得到优良电子产品集合；根据所述优良电子产品集合计算外观无缺陷电子产品的优品率。
[0011]作为优选，所述根据所述优良电子产品集合计算外观无缺陷电子产品的优品率的步骤，包括：获取优良电子产品集合，获取劣质电子产品数量，并根据所述集合和劣质电子产
品数量计算外观无缺陷电子产品的优品率，其中，计算公式为：；其中，W表示优品率，A表示优良电子产品集合，B表示劣质电子产品数量。
[0012]本专利技术还提供了废旧电子产品回收系统，包括：分类模块，用于对废旧电子产品进行分类，得到可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品；第一检测模块，用于对所述可拆卸电子产品的外观进行检测，得到第一检测结果，其中，所述第一检测结果包括外观无缺陷电子产品和外观有缺陷电子产品；获取模块，用于获取所述外观无缺陷电子产品的多个零件参数，其中，所述零件参数包括使用时长、磨损系数、第一零件质量和磨损面积；输入模块，用于将多个所述零件参数输入至校对模型中，得到第二检测结果；判断模块，用于判断所述第二检测结果是否小于预设参数；若所述第二检测结果小于预设参数，判定外观无缺陷电子产品是优良电子产品，并对所述优良电子产品进行再利用回收；若所述第二检测结果不小于预设参数，判定外观无缺陷电子产品是劣质电子产品，则对所述劣质电子产品进行粉碎回收。
[0013]作为优选，所述分类模块，包括：获取单元，用于获取废旧电子产品的连接方式；第一判定单元，用于判断所述连接方式是整体连接还是散装连接；若所述连接方式是整体连接，则判定废旧电子产品为不可拆卸电子产品；若所述连接方式是散装连接，则判定废旧电子产品为可拆卸电子产品。
[0014]作为优选，所述第一检测模块，包括：第二判定单元，用于判断所述第一检测结果是否达到预设外观标准；若所述第一检测结果达到预设外观标准，则判定废旧电子产品为外观无缺陷电子产品；若所述第一检测结果未达到预设外观标准，则判定废旧电子产品为外观有缺陷电子产品。
[0015]本专利技术的有益效果为：本专利技术通过将废旧电子产品分为可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品，这样便于对可拆卸电子产品进行进一步的分类，通过将可拆卸电子产品分为外观无缺陷电子产品和外观有缺陷电子产品，这样便于仅对外观无缺陷电子产品的内部零件参数进行检测判断，分为优良电子产品和劣质电子产品，从而针对优良电子产品和劣质电子产品分别进行再利用和粉碎的回收，通过层层分类筛选可以将废旧电子产品中进行更加细化的分类，不仅使得回收成本更加准确，而且还大大节省了人力成本。
附图说明
[0016]图1为本实施例中的废旧电子产品回收方法流程示意图。
[0017]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0018]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0019]如图1所示，本专利技术提供废旧电子产品回收方法，包括：S1、对废旧电子产品进行分类，得到可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品；S2、对所述可拆卸电子产品本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.废旧电子产品回收方法，其特征在于，包括：对废旧电子产品进行分类，得到可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品；对所述可拆卸电子产品的外观进行检测，得到第一检测结果，其中，所述第一检测结果包括外观无缺陷电子产品和外观有缺陷电子产品；获取所述外观无缺陷电子产品的多个零件参数，其中，所述零件参数包括使用时长、磨损系数、第一零件质量和磨损面积；将多个所述零件参数输入至校对模型中，得到第二检测结果；判断所述第二检测结果是否小于预设参数；若所述第二检测结果小于预设参数，判定外观无缺陷电子产品是优良电子产品，并对所述优良电子产品进行再利用回收；若所述第二检测结果不小于预设参数，判定外观无缺陷电子产品是劣质电子产品，则对所述劣质电子产品进行粉碎回收。2.根据权利要求1所述的废旧电子产品回收方法，其特征在于，所述对废旧电子产品进行分类，得到可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品的步骤，包括：获取废旧电子产品的连接方式；判断所述连接方式是整体连接还是散装连接；若所述连接方式是整体连接，则判定废旧电子产品为不可拆卸电子产品；若所述连接方式是散装连接，则判定废旧电子产品为可拆卸电子产品。3.根据权利要求1所述的废旧电子产品回收方法，其特征在于，所述对所述可拆卸电子产品的外观进行检测，得到第一检测结果的步骤，包括：获取可拆卸电子产品的表面图像，并对所述表面图像进行灰度化处理，得到灰度图；提取所述灰度图的多个形状特征向量，并对所述多个形状特征向量进行加权计算，得到外观检测值，其中，计算公式为：；其中，V表示外观检测值，M表示特征向量的数目，T表示每个特征向量；判断所述外观检测值是否超过第一预设值；若所述外观检测值超过第一预设值，则判定可拆卸电子产品的第一检测结果为外观有缺陷电子产品；若所述外观检测值未超过第一预设值，则判定外观无缺陷电子产品。4.根据权利要求1所述的废旧电子产品回收方法，其特征在于，所述将多个所述零件参数输入至校对模型中，得到第二检测结果的步骤，包括：获取外观无缺陷电子产品中多个零件的第一零件质量、使用时长、磨损系数和磨损面积；获取标准电子产品中多个零件的使用寿命、第二零件质量和总面积；根据多个零件的使用时长、磨损系数、第一零件质量和磨损面积以及标准电子产品的使用寿命、第二零件质量和总面积计算每个零件的第二检测结果，其中，计算公式为：
；其中，P表示每个零件的第二检测结果，t表示外观无缺陷电子产品中每个零件的使用时长，n表示外观无缺陷电子产品中每个零件的第一零件质量，s表示外观无缺陷电子产品中每个零件的磨损面积，Q表示外观无缺陷电子产品中每个零件的磨损系数，T表示标准电子产品的使用寿命，N表示标准电子产品的第二零件质量，S表示...
【专利技术属性】
技术研发人员：高金勇，唐百通，汤铁鑫，
申请(专利权)人：深圳市爱博绿环保科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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