一种显示接口检测装置制造方法及图纸

本公开涉及一种显示接口检测装置，该装置包括：显示接口DP母座、显示接口DP公头和测试单元；其中，该显示接口DP公头包括多个引脚，该显示接口DP母座包括多个引脚插孔，该测试单元包括多个连接线和该连接线对应的检测点位，该引脚通过该连接线与该引脚插孔连通；上述多个连接线中包括多个第一连接线和多个第二连接线，其中，上述多个第一连接线对应于同一检测点位，每个该第二连接线上设置有检测点位。能够在保证接口测试的便捷度和测试效率的前提下，通过共用测试点位减少冗余，进而减少制造成本。成本。成本。

【技术实现步骤摘要】
一种显示接口检测装置


[0001]本公开涉及硬件测试领域，具体地，涉及一种显示接口检测装置。

技术介绍

[0002]显示接口是显示硬件的重要组成部分，DP(DisplayPort，显示接口)为数字式视频接口标准，主要用于视频源与显示器等设备的连接，并也支持携带音频、USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)和其他形式的数据传输。相关技术中，DP产品的测试点位一般设置在产品内部，一旦视频传输接口出现故障难以拆壳进行维修测试。而相关的外接显示检测装置通常存在设计不合理，测试点位冗余，密集设置的测试点位互相干扰影响测量精度等问题，增加了检测成本的同时降低了检测效率。

技术实现思路

[0003]本公开的目的在于提供一种显示接口检测装置，以解决现有的外接显示检测装置的测试点位冗余的技术问题。
[0004]第一方面，本公开提供一种显示接口检测装置，所述装置包括：
[0005]显示接口DP母座、显示接口DP公头和测试单元；其中，
[0006]所述显示接口DP公头包括多个引脚，所述显示接口DP母座包括多个引脚插孔，所述测试单元包括多个连接线，所述引脚通过所述连接线与所述引脚插孔连通，所述连接线对应有检测点位；
[0007]所述多个连接线中包括多个第一连接线和多个第二连接线，其中，所述多个第一连接线对应于同一检测点位，每个所述第二连接线上设置有检测点位。
[0008]可选的，所述检测点位为铜皮开窗检测点位或通孔焊盘检测点位。
[0009]可选的，所述多个第二连接线包括：8个高速信号通道线，每个所述高速信号通道线上设置有所述铜皮开窗检测点位。
[0010]可选的，所述多个第二连接线还包括：2个附属通路AUX线，每个所述附属通路AUX线上设置有所述铜皮开窗检测点位。
[0011]可选的，所述多个第二连接线还包括：热插拔检测HPD线、接头电源线、接头电源回复线、第一配置数据线和第二配置数据线。
[0012]可选的，所述热插拔检测HPD线、所述接头电源线、所述接头电源回复线、第一配置数据线和第二配置数据线五者中的每一者上均设置有通孔焊盘检测点位。
[0013]可选的，所述装置还包括：底板，所述测试单元被固定于所述底板上。
[0014]可选的，所述显示接口DP母座和所述显示接口DP公头两者被固定于所述底板的两侧。
[0015]与现有技术相比，本公开实施例提供的显示接口检测装置，包括：显示接口DP母座、显示接口DP公头和测试单元；其中，该显示接口DP公头包括多个引脚，该显示接口DP母座包括多个引脚插孔，该测试单元包括多个连接线和该连接线对应的检测点位，该引脚通
过该连接线与该引脚插孔连通；上述多个连接线中包括多个第一连接线和多个第二连接线，其中，上述多个第一连接线对应于同一检测点位，每个该第二连接线上设置有检测点位。能够在保证接口测试的便捷度和测试效率的前提下，通过共用测试点位减少冗余，进而减少制造成本。
附图说明
[0016]附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：
[0017]图1是根据一示例性实施例示出的一种DP显示接口检测装置的结构示意图；
[0018]图2是根据一示例性实施例示出的一种DP显示接口检测装置的结构示意图。
具体实施方式
[0019]以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。
[0020]本公开提出了一种显示接口检测装置，具体如下：
[0021]图1是根据一示例性实施例示出的一种显示接口检测装置的结构示意图，如图1所示，该装置100包括：DP母座110、DP公头120和测试单元130。
[0022]示例地，该DP公头120包括多个引脚，该DP母座110包括多个引脚插孔，该测试单元130包括多个连接线，上述多个引脚通过上述多个连接线与上述多个引脚插孔连通，每个连接线均对应有检测点位，上述多个连接线中包括多个第一连接线131r、131s、131t和多个第二连接线131a、131b、131c、131d、131e、131f。具体地，上述多个第一连接线131r、131s、131t对应于同一检测点位132r，而上述多个该第二连接线131a上设置有检测点位132a，该第二连接线131b上设置有检测点位132b，该第二连接线131c上设置有检测点位132c，该第二连接线131d上设置有检测点位132d，该第二连接线131e上设置有检测点位132e，该第二连接线131f上设置有检测点位132f。
[0023]综上所述，本公开实施例提供的显示接口检测装置，包括：显示接口DP母座、显示接口DP公头和测试单元；其中，该显示接口DP公头包括多个引脚，该显示接口DP母座包括多个引脚插孔，该测试单元包括多个连接线和该连接线对应的检测点位，该引脚通过该连接线与该引脚插孔连通；上述多个连接线中包括多个第一连接线和多个第二连接线，其中，上述多个第一连接线对应于同一检测点位，每个该第二连接线上设置有检测点位。能够在保证接口测试的便捷度和测试效率的前提下，通过共用测试点位减少冗余，进而减少制造成本。
[0024]图2是根据一示例性实施例示出的一种DP显示接口检测装置的结构示意图，如图2所示，该装置200包括DP母座210、DP公头220和底板240，该装置220的测试单元被固定于该底板240上。该测试单元包括多个第一连接线和多个第二连接线，每个第一连接线或第二连接线均用于连接DP母座210的引脚插孔和DP公头220的引脚。
[0025]示例地，该装置200的多个第二连接线包括：8个高速信号通道线233a、233b、233c、233d、233e、233f、233g、233h和2个AUX(Auxiliary，附属通路)线233i、233j。上述的8个高速信号通道线两两一组形成4lane(通路)高速信号差分线，能够控制100欧姆阻抗。该装置200
的检测点位可以为铜皮开窗检测点位以及通孔焊盘检测点位。具体来说，高速信号通道线233a上设置有铜皮开窗检测点位231a，高速信号通道线233b上设置有铜皮开窗检测点位231b，高速信号通道线233c上设置有铜皮开窗检测点位231c，高速信号通道线233d上设置有铜皮开窗检测点位231d，高速信号通道线233e上设置有铜皮开窗检测点位231e，高速信号通道线233f上设置有铜皮开窗检测点位231f，高速信号通道线233g上设置有铜皮开窗检测点位231g，高速信号通道线233h上设置有铜皮开窗检测点位231h，另外，AUX线233i上设置有该铜皮开窗检测点位231i，AUX线233j上设置有该铜皮开窗检测点位231j。
[0026]示例地，该装置200的多个第一连接线包括：5个接地线235a、235b、235c、235d、235e，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示接口检测装置，其特征在于，所述装置包括：显示接口DP母座、显示接口DP公头和测试单元；其中，所述显示接口DP公头包括多个引脚，所述显示接口DP母座包括多个引脚插孔，所述测试单元包括多个连接线和所述连接线对应的检测点位，所述引脚通过所述连接线与所述引脚插孔连通；所述多个连接线中包括多个第一连接线和多个第二连接线，其中，所述多个第一连接线对应于同一检测点位，每个所述第二连接线上设置有检测点位。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述检测点位为铜皮开窗检测点位或通孔焊盘检测点位。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述多个第一连接线包括：5个接地线；其中，所述5个接地线对应于同一通孔焊盘检测点位。4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述5个接地线上设置的通孔焊盘检测点位设置于所述底板的预设位置处。5.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述多个第二连接线包括：8...

【专利技术属性】
技术研发人员：李锐坤，孟鹏博，
申请(专利权)人：芯瞳半导体技术山东有限公司，
类型：发明
国别省市：