一种静电保护装置、应用该静电保护装置的静电保护系统以及应用该静电保护系统的可视性检验测试方法，其中，所述静电保护装置包括：第一场效应管和第二场效应管，所述第一场效应管的栅极与其漏极、以及所述第二场效应管的源极相连接，作为所述静电保护装置的输入端；所述第二场效应管的栅极与其漏极、以及所述第一场效应管的源极相连接，作为所述静电保护装置的输出端。本发明专利技术将静电保护与可视性检验测试相结合，不仅能有效地实施静电保护，还可通过控制所述静电保护装置上的电压使其导通和截断从而实施可视性检验测试，降低了工艺复杂度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及静电保护装置、应用静电保护装置的静电保护系统和可视性检验测试 方法。
技术介绍
在液晶显示面板的生产制程中，由于某些外在因素，例如连续的制程操作以及搬 运或者环境变化等，通常会在面板中产生静电荷的积累。由于玻璃本身是绝缘物质，因此除 非有适当的放电通道，否则静电荷会一直停留在基板表面。当静电荷积累到一定数量之后， 将会产生放电(ESDJlectrostaticDischarge)。静电放电发生时的时间很短，大量的电荷 在很短的时间内发生转移将产生极高的电流，从而将导致薄膜场效应管(TFT)基板上的电 路或者基板本身遭到破坏。为了避免出现静电放电现象，通常通过设置静电保护装置释放 静电电荷，保护液晶显示面板。参考图1，在图示的短路保护系统中，导线02用于将显示区域10内的各像素单元 与用于控制显示的集成电路芯片相连接并向所述各像素单元传输信号；其中，所述信号可 为奇偶行的行扫描信号，也可以是单列红(R)/绿(G)/蓝(B)三原色像素的数据信号或其 并列。短路环15为显示区域10外围的金属环，各条导线02穿过短路环15时，分别通过静 电保护装置06与短路环15相连，使得各导线02之间具有相等的电势。另一方面，静电保护 装置06还被设置于测试总线03以及公共电极12之间，以避免显示器外壳上积聚静电荷。此外，在液晶显示面板的生产制程中，另一项重要的检测环节为可视性检验，该检 测环节用于在已在基板间注入液晶分子而尚未加入集成电路芯片的情况下，检测所有像素 单元是否良好以及相关线路是否能够正常工作。具体来说，在可视性检验中，先将各像素单 元所引出的导线连接至总线，然后施加电压，通过检测各像素单元是否点亮进而判断各像 素单元及其连线的工作能力。此外，当检测完毕后，需要通过激光烧断步骤将布线区中的连 线烧断，使各像素单元相互独立，以避免相互干扰。参考图2，导线02通过引脚01与测试总线03相连接。在可视性检验测试过程中， 将延伸出来的导线02通过规则布线区域04与测试总线03连接起来，以及将测试总线03 与测试板05相连接。通过向测试板05施加测试电压，检验显示区域内所有行扫描线和列 信号线是否可以正常工作。当可视性检验测试完成后，通过激光将规则布线区域04内的导 线02烧断，使各个像素单元彼此独立，不再通过导线02互联。由此可发现，在现有的液晶显示屏中，一方面，用于静电保护的ESD模块06广泛存 在于显示区域与显示器外壳之间，纵横摆放，占用面积较多，浪费了屏宽，且降低了生产集 成度；另一方面，在可视性检验过程中，先将导线延伸后互联，以及在测试之后采用激光烧 断步骤将互联的导线断开，增加了工艺复杂度，造成产率下降。
技术实现思路
本专利技术解决的问题是提供一种静电保护装置，除了提供静电保护之外，还可提供可视性检验中的连通和截断。为解决上述问题，本专利技术提供了一种静电保护装置，包括第一场效应管和第二场 效应管，所述第一场效应管的栅极与其漏极、以及所述第二场效应管的源极相连接，作为所 述静电保护装置的输入端；所述第二场效应管的栅极与其漏极、以及所述第一场效应管的 源极相连接，作为所述静电保护装置的输出端。可选的，所述第一场效应管和所述第二场效应管具有相同的开启电压。可选的，所述第一场效应管与所述第二场效应管具有相同的半导体参数。可选的，所述开启电压大于等于所述场效应管的阈值电压。可选的，所述开启电压等于所述场效应管的阈值电压。可选的，所述阈值电压为IOV至30V中任一电压值。可选的，所述阈值电压为15V。可选的，所述第一场效应管或所述第二场效应管的宽长比为18 6至6 6。可选的，所述第一场效应管或所述第二场效应管的宽长比为16 6。本专利技术还提供了一种静电保护装置，包括多个串联连接的场效应管对，其中，首个 场效应管对的输入端作为所述静电保护装置的输入端，每个场效应管对的输入端与其前一 个场效应管对的输出端相连接，末个场效应管对的输出端作为所述静电保护装置的输出 端；每个场效应管对包括第一场效应管和第二场效应管，所述第一场效应管的栅极与其漏 极、以及所述第二场效应管的源极相连接，作为所述场效应管对的输入端，所述第二场效应 管的栅极与其漏极、以及所述第一场效应管的源极相连接，作为所述场效应管对的输出端。可选的，所述第一场效应管和所述第二场效应管具有相同的开启电压。可选的，所述第一场效应管与所述第二场效应管具有相同的半导体参数。可选的，所述开启电压大于等于所述场效应管的阈值电压。 可选的，所述开启电压等于所述场效应管的阈值电压。可选的，所述阈值电压为IOV至30V中任一电压值。可选的，所述阈值电压为15V。可选的，所述第一场效应管或所述第二场效应管的宽长比为18 6至6 6。可选的，所述第一场效应管或所述第二场效应管的宽长比为16 6。本专利技术还提供了一种显示装置静电保护系统，包括导线，测试总线，静电保护装 置，其中，所述导线连接用于显示的的各像素单元以及所述测试总线；所述静电保护装置的 一端与所述导线相连接，另一端连接所述测试总线，起到静电保护作用，并且通过向所述静 电保护装置施加合适的电压，使其打开或闭合，实现各导线之间的断开或连接。本专利技术还提供了一种应用上述静电保护系统的可视性检验测试，包括施加第一 测试电压，使所述静电保护装置打开，从而使各导线通过所述静电保护装置进行互连；通过 互连的各导线，对所述显示单元内的各像素单元进行可视性检验测试。可选的，所述第一测试电压大于所述静电保护装置的开启电压。可选的，所述第一测试电压与所述静电保护装置开启电压的差值，与所述显示单 元的正常工作电压相等。与现有技术相比，本专利技术提供的静电保护装置不仅可进行有效的静电保护，还可 通过控制所述静电保护装置上的电压，实现其导通和截断。另一方面，本专利技术将所述静电保护装置应用于可视性检验测试，减少了传统可视 性检验中的激光烧断工艺步骤，降低了工艺的复杂度。附图说明图1是现有技术显示装置中静电保护系统的结构示意图；图2是现有技术显示装置中可视性检验测试的结构示意图；图3是本专利技术静电保护装置实施方式的结构示意图；图4是场效应管源漏极电流Ids的对数与栅源极电压Vgs的关系示意图；图5是本专利技术静电保护装置另一种实施方式的结构示意图；图6是本专利技术静电保护系统实施方式的结构示意图；图7是本专利技术应用所述静电保护系统的可视性检验测试方法实施方式的流程示 意图；图8是本专利技术可视性检验测试方法实施例所应用的静电保护系统的结构示意图。 具体实施例方式本专利技术实施方式提供了一种静电保护装置，将静电保护与可视性检验测试相结 合，不仅能够有效地进行静电保护，还可通过控制所述静电保护装置上的电压使其导通和 截断从而实施可视性检验测试，减少了传统可视性检验中的激光烧断工艺步骤。此外，本发 明实施方式还提供了一种应用所述静电保护装置的显示装置静电保护系统，实现了各部件 的安全性短接，且缩短了所述显示装置的屏宽。参考图3，本专利技术实施方式提供了一种静电保护装置，至少包括第一场效应管 310和第二场效应管320，其中，第一场效应管310的栅极311与其漏极312、以及第二场效 应管320的源极323相连接，作为所述静电保护装置的输入端；第二场效应管320的栅极本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种静电保护装置，其特征在于，包括：第一场效应管和第二场效应管，所述第一场效应管的栅极与其漏极、以及所述第二场效应管的源极相连接，作为所述静电保护装置的输入端；所述第二场效应管的栅极与其漏极、以及所述第一场效应管的源极相连接，作为所述静电保护装置的输出端。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：马骏，罗熙曦，蒋顺，荆常营，
申请(专利权)人：上海天马微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：31
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