一种测距传感器的参数测试方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种测距传感器的参数测试方法、装置、设备及存储介质，本申请属于测试技术领域。该方法包括：控制所述反射板和/或所述待测测距传感器移动至第一相对位置，并控制所述发射端发出信号；识别反射信号强度是否在第一状态的第一信号范围内；若在，则确定所述第一状态测试通过；控制所述反射板和/或所述待测测距传感器移动至第二相对位置，并控制所述发射端发出信号；识别反射信号强度是否在第二状态的第二信号范围内；若在，则确定所述第二状态测试通过，并生成所述待测测距传感器的参数测试成功提示信息。本技术方案，可以高效自动测试两种工作状态下的测距传感器参数是否满足数据指标要求，提升测试结果的可靠性。提升测试结果的可靠性。提升测试结果的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种测距传感器的参数测试方法、装置、设备及存储介质


[0001]本申请属于测试
，具体涉及一种测距传感器的参数测试方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]测距传感器是一种传感装置，一般用于距离测量，包括超声波测距传感器、激光测距传感器、红外线测距传感器以及24GHz雷达传感器。随着现代科学技术的发展，测距传感器的应用前景将更加广阔。测距传感器在实际投入使用前要通过出厂测试，以确定测距传感器在实际使用时可以提供准确的结果和快速响应时间。
[0003]现有技术中，测距传感器的测试过程，只能定性检测测距传感器是否损坏，由于生产制造时工艺等因素的差异性，同时会存在部分测距传感器使用时在无反射物遮挡时也在接收识别单元检测到反射信号，最终导致测距传感器失效或者误识别。而在实际投入使用时，如果是内嵌式使用，会受限于产品外壳的信号透射率以及厚度影响，可能再次影响产品识别距离等性能。因此，如何准确、高效的判断产品的技术指标，测试产品外壳对测距传感器的参数影响以及根据测试结果对测距传感器进行校准是本领域亟待解决的问题。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测距传感器的参数测试方法，其特征在于，待测测距传感器设置于测试设备上；所述待测测距传感器包括发射端和接收端；所述测试设备上还设置有反射板；所述方法包括：控制所述反射板和/或所述待测测距传感器移动至第一相对位置，并控制所述发射端发出信号；识别所述接收端接收到的反射信号强度是否在第一状态的第一信号范围内；若在第一状态的第一信号范围内，则确定所述第一状态测试通过；控制所述反射板和/或所述待测测距传感器移动至第二相对位置，并控制所述发射端发出信号；识别所述接收端接收到的反射信号强度是否在第二状态的第二信号范围内；若在第二状态的第二信号范围内，则确定所述第二状态测试通过，并生成所述待测测距传感器的参数测试成功提示信息。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在控制所述反射板和/或所述待测测距传感器移动至第一相对位置之前，所述方法还包括：识别是否接收到测试盖板的扣合信息；其中，所述测试盖板设置于信号发射方向上；若是，则获取所述测试盖板的材质参数、厚度参数以及信号透射率参数中的至少一种，并进行测试盖板的参数记录。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在识别所述接收端接收到的反射信号强度在第一状态的第一信号范围内之后，所述方法还包括：生成测试盖板切换指令；获取切换后测试盖板的材质参数、厚度参数以及信号透射率参数中的至少一种，并进行切换后测试盖板的参数记录。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一状态为基础态；所述第一相对位置为反射板未遮挡所述待测测距传感器的位置；识别所述接收端接收到的反射信号强度是否在第一状态的第一信号范围内，包括：获取所述接收端至少两次接收到的反射信号强度值；若两次接收到的反射信号强度值未超过所述基础态的信号最大值以及未低于所述基础态的信号最小值，则确定符合第一状态的测试标准。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在确定符合第一状态的测试标准之后，所述方法还包括：根据至少两次接收到的反射信号强度值的均值，对所述接收端增益进行调节，以使所述均值等于所述基础态的信号最大值和基础态的信号最小值的中值。...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈智红，白金龙，孙红礼，
申请(专利权)人：广州立功科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：