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本申请公开了一种测距传感器的参数测试方法、装置、设备及存储介质，本申请属于测试技术领域。该方法包括：控制所述反射板和/或所述待测测距传感器移动至第一相对位置，并控制所述发射端发出信号；识别反射信号强度是否在第一状态的第一信号范围内；若在，则...
该专利属于广州立功科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广州立功科技股份有限公司授权不得商用。

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