一种迁移量及不挥发物测定仪及测定方法技术

本发明专利技术提供了一种迁移量及不挥发物测定仪及测定方法，包括：位于第一空间的控制主机以及位于第二空间的用于迁移量及不挥发物测定的结构主机，第一空间与第二空间相互隔离，控制主机与结构主机通过电缆和管路连接；本发明专利技术中的结构主机与控制主机相互分离、自由布置且通过管路和电缆连接，将机械执行机构与控制系统分布式布置，机械执行机构与电气控制元器件分离，试验过程的样液或其蒸汽不再具备与可能产生电火花的电子元器件接触条件，从发生爆炸条件的源头直接隔离点火源，避免了爆炸或火灾等安全隐患的发生。灾等安全隐患的发生。灾等安全隐患的发生。

【技术实现步骤摘要】
一种迁移量及不挥发物测定仪及测定方法


[0001]本专利技术涉及迁移量及不挥发物测定
，特别涉及一种迁移量及不挥发物测定仪及测定方法。

技术介绍

[0002]本部分的陈述仅仅是提供了与本专利技术相关的
技术介绍
，并不必然构成现有技术。
[0003]迁移量及不挥发物测定仪，对食品包装材料、药品包装材料等进行迁移量及不挥发物的测量时，需对盛有样液的试验皿，先进行蒸干，再进行烘干，最后称重，获得残渣质量；样液制备一般经常使用正己烷、乙醇、乙酸、正戊烷等试剂，具有易燃、易爆或腐蚀性等危险性，一旦泄漏，易腐蚀设备内部零件，或形成易燃爆气体，此时设备内的电子元器件一旦产生电火花，就有可能成为点火源，引起爆炸或火灾，造成人员和财产重大损失。
[0004]专利技术人发现，现有的迁移量及不挥发物测定仪均为一体式的结构，多采用设备内排气或采用防爆型元件的方法以提高设备安全性；设备内排气的方法只能对微小泄漏有较好效果，当样液大量泄漏时仍然具有巨大的安全隐患；采用防爆型元件的方法，造成整个结构体积庞大，操作极为不便，且成本高昂，不便于将其放在通风橱等设备中试验；而且，现有的处理方式无法有效的进行安全隐患排查，电子元器件与测试设备的交叉布置，即使执行较为严苛的电子元器件及其线路排查，依然无法避免电火花的发生，进而带来较大的安全隐患。

技术实现思路

[0005]为了解决现有技术的不足，本专利技术提供了一种迁移量及不挥发物测定仪及测定方法，结构主机与控制主机相互分离、自由布置且通过管路和电缆连接，将机械执行机构与控制系统分布式布置，机械执行机构与电气控制元器件分离，试验过程的样液或其蒸汽不再具备与可能产生电火花的电子元器件接触条件，从发生爆炸条件的源头直接隔离点火源，避免了爆炸或火灾等安全隐患的发生。
[0006]为了实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：
[0007]本专利技术第一方面提供了一种迁移量及不挥发物测定仪。
[0008]一种迁移量及不挥发物测定仪，包括：位于第一空间的控制主机以及位于第二空间的用于迁移量及不挥发物测定的结构主机，第一空间与第二空间相互隔离，控制主机与结构主机通过电缆和管路连接。
[0009]作为本专利技术第一方面进一步的限定，第一空间和第二空间均为相互隔离的壳体。
[0010]作为本专利技术第一方面进一步的限定，第一空间为壳体，第二空间为壳体以外的空间；或者，第二空间为壳体，第一空间为第二空间以外的空间。
[0011]作为本专利技术第一方面进一步的限定，所述结构主机，包括：外壳、试验腔、蒸发皿、天平和称重盘；
[0012]试验腔和天平布置在外壳内，蒸发皿和称重盘布置在试验腔内，试验腔能够对蒸
发皿进行加热和冷却，天平与称重盘连接以用于蒸发皿称量。
[0013]作为本专利技术第一方面更进一步的限定，蒸发皿为多个。
[0014]作为本专利技术第一方面更进一步的限定，所述控制主机，至少包括：外壳以及布置在外壳内部的控制器、电磁阀、电源、电源开关和继电器；
[0015]电源开关与电源连接，电源与各用电器件连接，控制器与电磁阀连接，所述电磁阀用于控制控制主机与结构主机之间管路的通断；
[0016]控制器与继电器连接，所述继电器用于控制控制主机与结构主机之间电缆的通断。
[0017]作为本专利技术第一方面更进一步的限定，所述控制主机，还包括：与控制器连接的温度控制器，所述温度控制器通过电缆与试验腔连接，用于进行试验腔的加热和冷却控制。
[0018]作为本专利技术第一方面更进一步的限定，所述控制主机，还包括：与控制器连接的显示装置。
[0019]作为本专利技术第一方面更进一步的限定，所述控制主机，还包括：与控制器连接的输入输出装置。
[0020]本专利技术第二方面提供了一种迁移量及不挥发物测定方法。
[0021]一种迁移量及不挥发物测定方法，利用本专利技术第一方面所述的迁移量及不挥发物测定仪，包括以下过程：
[0022]试验腔执行加热功能，将蒸发皿在烘烤温度下烘烤设定时间后，试验腔再执行冷却功能，冷却至称重温度，执行机构将蒸发皿转移至称重盘上，天平对蒸发皿进行称重，并将称重数据传送回控制主机，测得蒸发皿质量，重复以上步骤直至两次的质量差小于设定差值，以最后一个蒸发皿质量数据作为空蒸发皿质量；
[0023]蒸发皿加入样液，并放入试验腔内，试验腔执行加热功能，将样液蒸干后，蒸发皿在烘烤温度下继续烘烤设定时间后，接着试验腔执行冷却功能，冷却至称重温度，执行机构将蒸发皿转移至称重盘上，天平对蒸发皿进行称重，并将称重数据传送回控制主机，测得蒸发皿质量，重复以上步骤直至两次的质量差小于设定差值，以最后一个蒸发皿质量作为试样蒸发皿质量，试样蒸发皿质量与空蒸发皿质量的质量差为残渣质量，控制主机根据残渣质量得到试样的迁移量。
[0024]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0025]1、本专利技术所述的控制主机与结构主机分布式布置，将可能产生电火花的电子元器件安装于控制主机内，与结构主机内的样液在空间上分离，即使易燃易爆危险样液泄漏，也不会发生火灾或爆炸，从而避免了危险发生，确保了人身、设备及财产安全，安全性好。
[0026]2、本专利技术所述的控制主机与结构主机可分别位于相互隔离的不同空间内，设备布置时，仅需将处理样液的结构主机放置于安全保护空间内，控制主机可自由放置于常规环境内，降低使用环境和配套设备要求。
[0027]3、本专利技术所述的控制主机与结构主机可分别位于相互隔离的不同空间内，能够更高效准确的进行安全隐患排查；而且控制主机与结构主机分离的结构，降低了制造难度，减少了制作成本，系统稳定可靠，便于操作。
附图说明
[0028]构成本专利技术的一部分的说明书附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。
[0029]图1为本专利技术实施例1提供的迁移量及不挥发物测定仪的结构示意图；
[0030]其中，1
‑
结构主机；11
‑
外壳；12
‑
试验腔；13
‑
蒸发皿；14
‑
天平；15
‑
称重盘；2
‑
控制主机；3
‑
管路；4
‑
电缆。
具体实施方式
[0031]下面结合附图与实施例对本专利技术作进一步说明。
[0032]应该指出，以下详细说明都是例示性的，旨在对本专利技术提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本专利技术所属
的普通技术人员通常理解的相同含义。
[0033]需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本专利技术的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种迁移量及不挥发物测定仪，其特征在于，包括：位于第一空间的控制主机以及位于第二空间的用于迁移量及不挥发物测定的结构主机，第一空间与第二空间相互隔离，控制主机与结构主机通过电缆和管路连接。2.如权利要求1所述的迁移量及不挥发物测定仪，其特征在于，第一空间和第二空间均为相互隔离的壳体。3.如权利要求1所述的迁移量及不挥发物测定仪，其特征在于，第一空间为壳体，第二空间为壳体以外的空间；或者，第二空间为壳体，第一空间为第二空间以外的空间。4.如权利要求1所述的迁移量及不挥发物测定仪，其特征在于，所述结构主机，包括：外壳、试验腔、蒸发皿、天平和称重盘；试验腔和天平布置在外壳内，蒸发皿和称重盘布置在试验腔内，试验腔能够对蒸发皿进行加热和冷却，天平与称重盘连接以用于蒸发皿称量。5.如权利要求4所述的迁移量及不挥发物测定仪，其特征在于，蒸发皿为多个。6.如权利要求4所述的迁移量及不挥发物测定仪，其特征在于，所述控制主机，至少包括：外壳以及布置在外壳内部的控制器、电磁阀、电源、电源开关和继电器；电源开关与电源连接，电源与各用电器件连接，控制器与电磁阀连接，所述电磁阀用于控制控制主机与结构主机之间管路的通断；控制器与继电器连接，所述继电器用于控制控制主机与结构主机之间电缆的通断。7.如权利要求6所述的迁移量及不挥发物测定仪，其特征在于，所述控制主机，还...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜允中，
申请(专利权)人：济南兰光机电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：