【技术实现步骤摘要】
室内验证探地雷达对复杂地层探测分辨率的装置及方法
[0001]本专利技术属于探地雷达
,具体涉及了室内验证探地雷达对复杂地层探测分辨率的装置及方法。
技术介绍
[0002]近年来,探地雷达因其具有分辨率高、工作效率高、无损检测和快速成像等优点,已经逐渐发展成为一种主要的主动式地面探测技术,应用领域包括地质探测、星球探测、军工、生物和医学探测等领域。其原理是通过发射天线向地下发射脉冲信号,信号在探测目标传播过程中,如遇到不同阻抗的介质交界面,将产生反射和散射,接收天线接收传播后反射和散射回来的信号后,通过分析接收信号的幅值、异常信号的分布情况以及频率等特征来分析判断探测目标的形态和属性。其中探地雷达的探测分辨率决定了其探测精度,是一个十分重要的性能指标,为了验证探地雷达的探测分辨率是否满足要求,需要开展室内验证试验。
[0003]但是,现有技术验证探地雷达探测分辨率的方法主要是通过探地雷达探测在特定位置预埋已知大小、形状的不同类别特征体的物理模型,通过雷达反演结果与实际预埋特征体的位置、大小、类别和形状进行对比,验证雷达的分辨率。模型制作前需精确测量特征体类别、形状、大小以及实际布设位置,这就造成了特征体类别、尺寸形状单一、数量少、布置位置要求高,增加物理模型的制作时间,且不符合探地雷达实际探测所面临的地层复杂度。基于此,本专利技术了一种室内验证探地雷达对复杂地层探测分辨率的装置及方法。
技术实现思路
[0004]为了解决现有技术中的上述问题,即特征体类别、尺寸形状单一、数量少、布置位置要 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.室内验证探地雷达对复杂地层探测分辨率的装置,其特征在于,该装置包括:卧式高能加速器CT机构(1)、探地雷达(2.1)、行走机构(2)、旋转式模型箱(3)、综合控制台(4);所述卧式高能加速器CT机构(1)用于扫描所述旋转式模型箱(3)内固定的特征体(3.8);所述探地雷达(2.1)安装在所述行走机构(2)上,所述探地雷达(2.1)用于扫描所述旋转式模型箱(3)内固定的所述特征体(3.8);所述行走机构(2)用于模拟复杂地层,所述行走机构(2)与所述旋转式模型箱(3)连接;所述旋转式模型箱(3)通过旋转电机(3.7)转动带动所述特征体(3.8)转动,所述旋转式模型箱(3)安装在所述行走机构(2)的下方、所述卧式高能加速器CT机构(1)之间;所述综合控制台(4)安装在地面上,所述综合控制台(4)用于控制所述卧式高能加速器CT机构(1)和所述行走机构(2)运动。2.根据权利要求1所述的室内验证探地雷达对复杂地层探测分辨率的装置,其特征在于:所述卧式高能加速器CT机构(1)包括探测器底座(1.1)、探测器支架(1.2)、面阵探测器(1.3)、面阵探测器上下升降机构(1.4)、面阵探测器水平移动机构(1.5)、射线源底座(1.6)、射线源支架(1.7)、射线源(1.8)、射线源上下升降机构(1.9)、射线源支架水平移动机构(1.10);所述探测器底座(1.1)的下端安装在地面上,所述探测器底座(1.1)的上端与所述面阵探测器水平移动机构(1.5)固定,所述面阵探测器水平移动机构(1.5)与所述探测器支架(1.2)固定,所述探测器支架(1.2)上安装有所述面阵探测器上下升降机构(1.4),所述面阵探测器上下升降机构(1.4)与所述面阵探测器(1.3)固定,所述面阵探测器(1.3)用于对所述特征体(3.8)成像;所述射线源底座(1.6)的下端安装在地面上,所述射线源底座(1.6)的上端与所述射线源支架水平移动机构(1.10)固定,所述射线源支架水平移动机构(1.10)与所述射线源支架(1.7)固定,所述射线源支架(1.7)上安装有所述射线源上下升降机构(1.9),所述射线源上下升降机构(1.9)与所述射线源(1.8)固定,所述射线源(1.8)用于发射射线扫描所述特征体(3.8)。3.根据权利要求2所述的室内验证探地雷达对复杂地层探测分辨率的装置,其特征在于:所述行走机构(2)包括移动小车(2.2)、轨道支架(2.3)、轨道(2.4);所述移动小车(2.2)的下表面的前方固定有所述探地雷达(2.1),所述移动小车(2.2)能够沿所述轨道(2.4)移动,所述轨道(2.4)与所述轨道支架(2.3)固定,所述轨道支架(2.3)与所述旋转式模型箱(3)固定。4.根据权利要求3所述的室内验证探地雷达对复杂地层探测分辨率的装置,其特征在于:所述旋转式模型箱(3)包括模型底座(3.1)、模型箱体(3.2)、物理模型(3.3)、旋转支架(3.4)、轴承(3.5)、旋转传动皮带装置(3.6)、旋转电机(3.7)、特征体(3.8);所述模型底座(3.1)的下端与地面固定,所述模型底座(3...
【专利技术属性】
技术研发人员:毛天桥,李守定,李晓,张路青,陈新硕,郑博,李关访,武艳芳,
申请(专利权)人:中国科学院地质与地球物理研究所,
类型:发明
国别省市:
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