一种铜带残存应力快速检测方法技术

本发明专利技术属于铜带生产技术领域的铜带残存应力快速检测方法。取一段铜带作为检测样带(1)进行试验；沿带材长度方向切割出一道第一切口(2)，形成第一切离样带(3)，沿带材长度方向切割出一道第二切口(4)，形成第二切离样带(5)；如果切完后第一切离样带(3)和第二切离样带(5)均向上侧发生弯曲，说明铜带内部残余应力小于标准应力数值；如果切完后第一切离样带(3)和第二切离样带(5)均发生横向弯曲或不对称弯曲，则说明铜带内部残余应力大于标准应力数值。本发明专利技术的铜带残存应力快速检测方法，能够在铜带生产现场方便快捷完成铜带残余应力检测，便于现场判断带材残存应力情况，解决铜带残余应力检测复杂、费时问题。费时问题。费时问题。

【技术实现步骤摘要】
一种铜带残存应力快速检测方法


[0001]本专利技术属于铜带生产
，更具体地说，是涉及一种铜带残存应力快速检测方法。

技术介绍

[0002]在带材产品领域，铜带的主要产品为不同规格的各式铜带，铜带在制造的过程中，将受到来自如热轧、铣面等各种工艺因素的作用与影响，当这些因素消失之后，若铜带所受到的来自上述因素的作用与影响不能随之完全消失，而仍有一部分残留在铜带内，则这种残留的作用与影响被称为残余应力，这些残余应力的存在会导致铜带在受到外力、温度等其它因素作用时，会使得铜带的某些局部位置出现如翘曲、扭转等一系列变形，极大地影响了铜带的质量，降低了成品率。所以，就需要对铜带内部的残余应力进行检测。现有技术中的铜带进行残余应力检测时需要送到第三方机构，借助于复杂的仪器和设备(如残余应力分析仪)，或是通过使用一些化学药剂来延展其表面裂纹的方式才能进行检测，这样的检测设备及方法使用极为不便。
[0003]现有技术中有名称为“超导带材脱层应力测试装置和测试方法”、公开号为“114166741A”的技术，该技术包括：脱层应力测试部分和临界电流测量部分；待测超导带材安装在脱层应力测试部分上，脱层应力测试部分向待测超导带材的厚度方向施加脱层力；临界电流测量部分包括：传感器，分布设置在待测超导带材的长度方向，采集待测超导带材的电压信息或磁场强度信息；通过脱层应力测试部分向待测超导带材提供时变电流，以及通过临界电流测量部分采集对应时刻下的电压信息或磁场强度信息，得到待测超导带材在脱层力下的临界电流值；根据多个临界电流值所对应的脱层力，得到待测超导带材的临界脱层应力值。然而，该技术没有涉及本申请的技术问题和技术方案。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题是：针对现有技术的不足，提供一种步骤简单，成本低，能够在铜带生产现场方便快捷完成铜带残余应力检测，结果准确，便于现场判断带材残存应力情况，提高生产效率，解决铜带残余应力检测复杂、费时问题的铜带残存应力快速检测方法。
[0005]要解决以上所述的技术问题，本专利技术采取的技术方案为：
[0006]本专利技术为一种铜带残存应力快速检测方法，所述的铜带残存应力快速检测方法的检测步骤为：
[0007]S1.从待检测铜带产品取一段铜带作为检测样带进行试验；
[0008]S2.从检测样带一端沿带材长度方向切割出一道第一切口，形成第一切离样带，从检测样带另一端沿带材长度方向切割出一道第二切口，形成第二切离样带；
[0009]S3.如果切完后形成的第一切离样带和第二切离样带均向上侧发生弯曲，说明铜带内部残余应力小于标准应力数值；如果切完后形成的第一切离样带和第二切离样带均发
生横向弯曲或不对称弯曲，则说明铜带内部残余应力大于标准应力数值；
[0010]S4.铜带内部残余应力小于标准应力数值时，铜带的残余应力大小符合要求，不影响后续加工；铜带内部残余应力大于标准应力数值时，铜带的残余应力大小不符合要求，影响后续加工。
[0011]从检测样带一端沿带材长度方向切割出一道第一切口形成第一切离样带时，第一切离样带的宽度大于2mm。
[0012]从检测样带另一端沿带材长度方向切割出一道第二切口形成第二切离样带时，第二切离样带的宽度大于2mm。
[0013]从检测样带一端沿带材长度方向切割出一道第一切口形成第一切离样带时，第一切离样带的长度大于10cm。
[0014]从检测样带一端沿带材长度方向切割出一道第二切口形成第二切离样带时，第二切离样带的长度大于10cm。
[0015]从检测样带一端沿带材长度方向切割出一道第一切口形成第一切离样带时，切割时采用电火花切割。
[0016]所述的从检测样带另一端沿带材长度方向切割出一道第二切口形成第二切离样带时，切割时采用电火花切割。
[0017]所述的检测样带为长方体结构，检测样带的长度尺寸是检测样带的宽度尺寸的两倍以上。
[0018]从检测样带一端沿带材长度方向切割出一道第一切口形成第一切离样带时，第一切口平行于检测样带第一侧边。
[0019]从检测样带一端沿带材长度方向切割出一道第二切口形成第二切离样带时，第二切口平行于检测样带第二侧边。
[0020]采用本专利技术的技术方案，工作原理及有益效果如下所述：
[0021]本专利技术所述的铜带残存应力快速检测方法，针对的是铜带残存应力快速检测，强调快速检测和现场检测及成本低。改进重点在于：首先是实现快速检测，强调检测速度，不需要借助于复杂的检测设备，不需要将检测样带带到检测设备所在的场合，使得检测方便；其次是不需要使用化学药剂来延展其表面裂纹的方式才能进行检测，检测不需要使用化学药剂，自节省化学药剂的成本；再次是不需要购买复杂的检测设备，降低试验成本投入；其次是检测在生产现场即可随时进行，方便快捷，不需要其他配件，检测过程简单，检测时间短。
附图说明
[0022]下面对本说明书各附图所表达的内容及图中的标记作出简要的说明：
[0023]图1为本专利技术所述的检测样带的俯视结构示意图；
[0024]图2为本专利技术所述的检测样带的侧视结构示意图；
[0025]附图中标记分别为：1、检测样带；2、第一切口；3、第一切离样带；4、第二切口；5、第二切离样带；6、检测样带第一侧边；7、检测样带第二侧边。
具体实施方式
[0026]下面对照附图，通过对实施例的描述，对本专利技术的具体实施方式如所涉及的各构件的形状、构造、各部分之间的相互位置及连接关系、各部分的作用及工作原理等作进一步的详细说明：
[0027]如附图1、附图2所示，本专利技术为一种铜带残存应力快速检测方法，所述的铜带残存应力快速检测方法的检测步骤为：
[0028]S1.从待检测铜带产品取一段铜带作为检测样带1进行试验；
[0029]S2.从检测样带1一端沿带材长度方向切割出一道第一切口2，形成第一切离样带3，从检测样带1另一端沿带材长度方向切割出一道第二切口4，形成第二切离样带5；S3.如果切完后形成的第一切离样带3和第二切离样带5均向上侧发生弯曲，说明铜带内部残余应力小于标准应力数值；如果切完后形成的第一切离样带3和第二切离样带5均发生横向弯曲或不对称弯曲，则说明铜带内部残余应力大于标准应力数值；S4.铜带内部残余应力小于标准应力数值时，铜带的残余应力大小符合要求，不影响后续加工；铜带内部残余应力大于标准应力数值时，铜带的残余应力大小不符合要求，影响后续加工。上述步骤，针对的是铜带残存应力快速检测。改进重点在于：首先是实现快速检测，强调检测速度，不需要借助复杂的检测设备，不需要将检测样带带到检测设备所在的场合，使得检测方便；其次是不需要使用化学药剂来延展其表面裂纹的方式才能进行检测，检测不需要使用化学药剂，自节省化学药剂的成本；再次是不需要购买复杂的检测设备，降低试验成本投入；其次是检测在生产现场即可随时进行，方便快捷，不需要其他配件，检测过程简单，检测时间短。上述步骤，只需要得本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种铜带残存应力快速检测方法，其特征在于：所述的铜带残存应力快速检测方法的检测步骤为：S1.从待检测铜带产品取一段铜带作为检测样带(1)进行试验；S2.从检测样带(1)一端沿带材长度方向切割出一道第一切口(2)，形成第一切离样带(3)，从检测样带(1)另一端沿带材长度方向切割出一道第二切口(4)，形成第二切离样带(5)；S3.如果切完后形成的第一切离样带(3)和第二切离样带(5)均向上侧发生弯曲，说明铜带内部残余应力小于标准应力数值；如果切完后形成的第一切离样带(3)和第二切离样带(5)均发生横向弯曲或不对称弯曲，则说明铜带内部残余应力大于标准应力数值；S4.铜带内部残余应力小于标准应力数值时，铜带的残余应力大小符合要求，不影响后续加工；铜带内部残余应力大于标准应力数值时，铜带的残余应力大小不符合要求，影响后续加工。2.根据权利要求1所述的铜带残存应力快速检测方法，其特征在于：从检测样带(1)一端沿带材长度方向切割出一道第一切口(2)形成第一切离样带(3)时，第一切离样带(3)的宽度大于2mm。3.根据权利要求1所述的铜带残存应力快速检测方法，其特征在于：从检测样带(1)另一端沿带材长度方向切割出一道第二切口(4)形成第二切离样带(5)时，第二切离样带(5)的宽度大于2mm。4.根据权利要求2所述的铜带残存应力快速检测方法，其特征在于：从检测样带(1)一端沿带...

【专利技术属性】
技术研发人员：王生，钮松，黄贤兵，
申请(专利权)人：安徽鑫科铜业有限公司，
类型：发明
国别省市：