一种抑制零漂的采样检测电路制造技术

本申请提供了一种抑制零漂的采样检测电路，在该电路中，第一电压采样信号、第二电压采样信号以及基准电压分别接入采样电路的输入端；采样电路的输出端通过差分比较器接入处理芯片DSP；采样电路的输出端还直接接入处理芯片DSP；基准电压还直接通过差分比较器接入处理芯片DSP；在采样电路中，第一电压采样信号通过第二电阻接入比较放大器的正相输入端；第二电压采样信号分别接入比较放大器的反相输入端以及第六电阻，并通过第六电阻接入比较放大器的输出端。本申请通过采样电路与差分比较器实现前置的检测步骤，提前检查零漂或基准电压产生的误差信息，进而解决了基准电压不准和零漂的产生的误差问题。漂的产生的误差问题。漂的产生的误差问题。

【技术实现步骤摘要】
一种抑制零漂的采样检测电路


[0001]本申请涉及采样检测电路
，具体涉及一种抑制零漂的采样检测电路。

技术介绍

[0002]在并网逆变器的系统中，需要判断逆变器功能的好坏，特别是使用时间较长的并网逆变器，需要对其电压进行采样检测，以避免一系列的不可控因素。
[0003]目前使用的采样电路通常在采样电压后直接与基准电源进行比较，当采样检测电路中的放大电路输入信号为零时，由于受温度变化以及电源电压不稳等因素的影响，使静态工作点发生变化，并被逐级放大和传输，导致电路输出端电压偏离原固定值而上下漂动，因此存在基准电源不准确或者零漂的问题，进而导致采样失败的情况。
[0004]因此，必须对采样电路中的零漂现象进行抑制。

技术实现思路

[0005]本申请提供了一种抑制零漂的采样检测电路，能够对采样电路中的零漂现象进行抑制，提高采样准确性，该技术方案如下。
[0006]一方面，提供了一种抑制零漂的采样检测电路，所述电路包括：采样电路、差分比较器U1以及处理芯片DSP；
[0007]第一电压采样信号、第二电压采样信号以及基准电压分别接入所述采样电路的输入端；所述采样电路的输出端通过所述差分比较器U1接入所述处理芯片DSP；所述采样电路的输出端还直接接入所述处理芯片DSP；
[0008]所述基准电压还直接通过所述差分比较器U1接入所述处理芯片DSP；
[0009]在所述采样电路中，所述第一电压采样信号通过第二电阻R2接入比较放大器U2A的正相输入端；所述第二电压采样信号分别接入所述比较放大器U2A的反相输入端以及第六电阻R6，并通过所述第六电阻R6接入所述比较放大器U2A的输出端。
[0010]在一种可能的实施方式中，所述电路还包括：第二电容C2、第四电阻R4以及第四电容C4；
[0011]所述第一电压采样信号还依次通过所述第二电阻R2以及所述第二电容C2接入模拟地AGND；
[0012]所述第二电压采样信号还依次通过所述第四电阻R4以及所述第四电容C4接入模拟地AGND。
[0013]在一种可能的实施方式中，所述电路还包括：第一电阻R1以及第一电容C1；
[0014]所述基准电压分别通过所述第一电阻R1以及所述第一电容C1接入所述比较放大器U2A的正相输入端。
[0015]在一种可能的实施方式中，所述电路包括：第六电容C6；
[0016]所述比较放大器U2A的反相输入端还通过所述第六电容C6接入所述比较放大器U2A的输出端。
[0017]在一种可能的实施方式中，所述电路还包括：第三电阻R3以及第三电容C3；
[0018]所述比较放大器U2A的输出端依次通过所述第三电阻R3以及所述第三电容C3接入模拟地AGND；
[0019]所述比较放大器U2A的输出端还通过所述第三电阻R3接入所述差分比较器U1的正相输入端。
[0020]在一种可能的实施方式中，所述电路包括：第七电阻R7以及第七电容C7；
[0021]所述比较放大器U2A的输出端依次通过所述第七电阻R7以及所述第七电容C7接入模拟地AGND；
[0022]所述比较放大器U2A的输出端还通过所述第七电阻R7接入所述处理芯片DSP。
[0023]在一种可能的实施方式中，所述电路还包括：第五电阻R5以及第五电容C5；
[0024]所述基准电压分别接入所述差分比较器U1的反相输入端、所述第五电阻R5以及所述第五电容C5，并分别通过所述第五电阻R5以及所述第五电容C5接入所述处理芯片DSP；
[0025]所述差分比较器U1的片选信号端与所述处理芯片DSP连接。
[0026]在一种可能的实施方式中，所述电路还包括：第八电阻R8以及第八电容C8；
[0027]所述基准电压还通过所述第八电容C8分别接入所述差分比较器U1的反相输入端、所述第五电阻R5以及所述第五电容C5，并分别通过所述第五电阻R5以及所述第五电容C5接入所述处理芯片DSP；
[0028]所述基准电压还通过所述第八电阻R8分别接入所述差分比较器U1的反相输入端、所述第五电阻R5以及所述第五电容C5，并分别通过所述第五电阻R5以及所述第五电容C5接入所述处理芯片DSP。
[0029]本申请提供的技术方案可以包括以下有益效果：
[0030]该采样检测电路包括：采样电路、差分比较器U1以及处理芯片DSP；其中，第一电压采样信号、第二电压采样信号以及基准电压分别接入该采样电路的输入端；该采样电路的输出端通过该差分比较器U1接入该处理芯片DSP；该采样电路的输出端还直接接入该处理芯片DSP；该基准电压还直接通过该差分比较器U1接入该处理芯片DSP；在该采样电路中，该第一电压采样信号通过第二电阻R2接入比较放大器U2A的正相输入端；该第二电压采样信号分别接入该比较放大器U2A的反相输入端以及第六电阻R6，并通过该第六电阻R6接入该比较放大器U2A的输出端。。本申请在检测前增加了误差补偿电路，即可以通过采样检测电路中的采样电路与差分比较器U1实现前置的检测步骤，提前检查零漂或基准电压产生的误差信息，进而解决了基准电压不准和零漂的产生的误差问题。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明本申请具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0032]图1是根据一示例性实施例示出的一种抑制零漂的采样检测电路的结构示意图。
[0033]图2是根据一示例性实施例示出的一种抑制零漂的采样检测方法的方法流程图。
[0034]图3是根据一示例性实施例示出的一种抑制零漂的采样检测装置的结构方框图。
[0035]图4示出了本申请一示例性实施例示出的计算机设备的结构框图。
具体实施方式
[0036]下面将结合附图对本申请的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0037]应理解，在本申请实施例的描述中，术语“对应”可表示两者之间具有直接对应或间接对应的关系，也可以表示两者之间具有关联关系，也可以是指示与被指示、配置与被配置等关系。
[0038]图1是根据一示例性实施例示出的一种抑制零漂的采样检测电路的结构示意图。该电路包括：采样电路、差分比较器U1以及处理芯片DSP；
[0039]第一电压采样信号(即图1中的采样信号1)、第二电压采样信号(即图1中的采样信号2)以及基准电压V1分别接入该采样电路的输入端；该采样电路的输出端通过该差分比较器U1接入该处理芯片DSP(即图1中的DSP集成处理芯片)；该采样电路的输出端还本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种抑制零漂的采样检测电路，其特征在于，所述电路包括：采样电路、差分比较器(U1)以及处理芯片DSP；第一电压采样信号、第二电压采样信号以及基准电压分别接入所述采样电路的输入端；所述采样电路的输出端通过所述差分比较器(U1)接入所述处理芯片DSP；所述采样电路的输出端还直接接入所述处理芯片DSP；所述基准电压还直接通过所述差分比较器(U1)接入所述处理芯片DSP；在所述采样电路中，所述第一电压采样信号通过第二电阻(R2)接入比较放大器(U2A)的正相输入端；所述第二电压采样信号分别接入所述比较放大器(U2A)的反相输入端以及第六电阻(R6)，并通过所述第六电阻(R6)接入所述比较放大器(U2A)的输出端。2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述电路还包括：第二电容(C2)、第四电阻(R4)以及第四电容(C4)；所述第一电压采样信号还依次通过所述第二电阻(R2)以及所述第二电容(C2)接入模拟地(AGND)；所述第二电压采样信号还依次通过所述第四电阻(R4)以及所述第四电容(C4)接入模拟地(AGND)。3.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述电路还包括：第一电阻(R1)以及第一电容(C1)；所述基准电压分别通过所述第一电阻(R1)以及所述第一电容(C1)接入所述比较放大器(U2A)的正相输入端。4.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述电路包括：第六电容(C6)；所述比较放大器(U2A)的反相输入端还通过所述第六电容(C6)接入所述比较放大器(U2A)的输出端。5.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述电路还包括：第三电阻(R3)以及第三...

【专利技术属性】
技术研发人员：许学添，
申请(专利权)人：固德威技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：