一种低电阻测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及电阻测试技术领域，具体涉及一种低电阻测试装置，包括壳体、安装板和测量模块，安装板与壳体滑动连接，安装板位于壳体的内部，测量模块与安装板固定连接，测量模块位于安装板的上方，测量模块设置有测量电路，测量电路包括恒流源I

【技术实现步骤摘要】
一种低电阻测试装置


[0001]本技术涉及电阻测试
，尤其涉及一种低电阻测试装置。

技术介绍

[0002]热噪声是指探头与被测对象的导线之间等不同类型金属的连接部分所产生的电位差，如果热噪声比较大，则会产生测量误差，如图1所示，另外热噪声的大小也会随着测量环境的温度而变化，一般来说温度差越高，热噪声越大。
[0003]而现有的低电阻测试装置由于有热噪声的影响，导致被测电阻的电阻值的测量准确性较低。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种低电阻测试装置，以解决被测电阻的电阻值的测量准确性较低的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供了一种低电阻测试装置，包括壳体、安装板和测量模块，所述安装板与所述壳体滑动连接，所述安装板位于所述壳体的内部，所述测量模块与所述安装板固定连接，所述测量模块位于所述安装板的上方；
[0006]所述测量模块设置有测量电路，所述测量电路包括恒流源I
M
、继电器K、被测电阻R
X
和电压表V，电压表V的两端分别被测电阻R
X
的两端连接，恒流源I
M
通过继电器K与被测电阻R
X
并联。
[0007]其中，所述低电阻测试装置还包括伸缩结构，所述伸缩结构包括固定柱、活动柱和压缩弹簧，所述固定柱具有安装腔，所述固定柱与所述壳体固定连接，所述压缩弹簧的两端分别与所述固定柱和所述活动柱固定连接，所述压缩弹簧位于所述安装腔的内部，所述活动柱与所述固定柱滑动连接，所述活动柱的底部位于安装腔的内部，所述活动柱的顶部与所述安装板的底部固定连接。
[0008]其中，所述低电阻测试装置还包括抵挡结构，所述壳体的内侧面上设置有容纳槽，所述抵挡结构包括抵挡架和连接弹簧，所述连接弹簧的两端分别与所述壳体和所述抵挡架固定连接，所述连接弹簧位于所述容纳槽的内部，所述抵挡架与所述壳体滑动连接。
[0009]其中，所述伸缩结构还包括限位板，所述限位板与所述活动柱固定连接，所述限位板位于所述安装板的下方。
[0010]其中，所述低电阻测试装置还包括盖体，所述盖体与所述壳体拆卸连接，所述壳体的外侧面上设置有卡合架，所述盖体的内侧面上设置有与所述卡合架相匹配的卡合槽。
[0011]本技术的一种低电阻测试装置，在以秒为单位的短时间内形成稳定的直流，通过将检测信号设为交流，可在频率范围内进行分离，测量仪器将测量电流作为脉冲波形以排除热噪声，具体而言，从流过测量电流时的检测电压V
EMF
减去停止电流时的检测电压V0，得到不受热噪声影响的电阻值，从而提高了被测电阻的电阻值的测量准确性，解决了被测电阻的电阻值的测量准确性较低的问题。
附图说明
[0012]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0013]图1是热噪声的产生原因的原理图。
[0014]图2是本技术提供的一种低电阻测试装置的测量电路的电路图。
[0015]图3是本技术提供的一种低电阻测试装置的测试时序图。
[0016]图4是本技术提供的一种低电阻测试装置的结构示意图。
[0017]图5是本技术提供的一种低电阻测试装置的剖视图。
[0018]图6是本技术提供的图5中A处的局部放大图。
[0019]1‑
壳体、2
‑
安装板、3
‑
测量模块、4
‑
伸缩结构、5
‑
固定柱、6
‑
活动柱、7
‑
压缩弹簧、8
‑
安装腔、9
‑
抵挡结构、10
‑
容纳槽、11
‑
抵挡架、12
‑
连接弹簧、13
‑
限位板、14
‑
盖体、15
‑
卡合架、16
‑
卡合槽。
具体实施方式
[0020]下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0021]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0022]请参阅图1至图6，本技术提供一种低电阻测试装置，包括壳体1、安装板2和测量模块3，所述安装板2与所述壳体1滑动连接，所述安装板2位于所述壳体1的内部，所述测量模块3与所述安装板2固定连接，所述测量模块3位于所述安装板2的上方；
[0023]所述测量模块3设置有测量电路，所述测量电路包括恒流源I
M
、继电器K、被测电阻R
X
和电压表V，电压表V的两端分别被测电阻的两端连接，恒流源I
M
通过继电器K与被测电阻R
X
并联。
[0024]在本实施方式中，所述安装板2用于安装所述测量模块3，所述壳体1能够对所述测量模块3进行保护，所述安装板2能够在所述壳体1的内部进行滑动，以方便工作人员将所述测量模块3从所述壳体1中取出而方便测量，恒流源I
M
通过继电器K连接被测电阻R
X
，热噪声产生的电压差为V
EMF
，恒流源I
M
输出恒定的电流I
M
，输出时间为T
M
，采样电阻两端的电压差：
[0025]V
M
＝R
x
×
IM+V
EMF
；
[0026]恒流源停止输出电流I0，输出时间为T0，并且T0＝T
M
，采样电阻两端的电压差：
[0027]V0＝R
x
×
I
o
+V
EMF
；
[0028]通过计算得出被测电阻Rx：
[0029][0030]在以秒为单位的短时间内形成稳定的直流，通过将检测信号设为交流，可在频率范围内进行分离，测量仪器将测量电流作为脉冲波形以排除热噪声，具体本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种低电阻测试装置，其特征在于，包括壳体、安装板和测量模块，所述安装板与所述壳体滑动连接，所述安装板位于所述壳体的内部，所述测量模块与所述安装板固定连接，所述测量模块位于所述安装板的上方；所述测量模块设置有测量电路，所述测量电路包括恒流源I
M
、继电器K、被测电阻R
X
和电压表V，电压表V的两端分别被测电阻R
X
的两端连接，恒流源I
M
通过继电器K与被测电阻R
X
并联。2.如权利要求1所述的低电阻测试装置，其特征在于，所述低电阻测试装置还包括伸缩结构，所述伸缩结构包括固定柱、活动柱和压缩弹簧，所述固定柱具有安装腔，所述固定柱与所述壳体固定连接，所述压缩弹簧的两端分别与所述固定柱和所述活动柱固定连接，所述压缩...

【专利技术属性】
技术研发人员：倪友福，
申请(专利权)人：常州市和普电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：