一种故障检测方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请实施例涉及计算机技术领域，具体而言，涉及一种故障检测方法、装置、设备及存储介质，旨在快速确定PCIE设备无法识别时,PCIE链路上的的故障位置以及故障类型。所述方法包括：当PCIE设备无法被中央处理器识别时，通过测试线路，将PCIE插槽上的每个PCIE链路的PCIE发射信号分别引入示波器中；当所述示波器无法显示所述PCIE插槽上的某条PCIE链路的PCIE发射信号的波形图时，将所述PCIE链路的PCIE发射信号引入时域反射计中；根据所述时域反射计中显示的所述PCIE发射信号的阻抗波形图，确定所述PCIE链路的故障位置以及故障类型。述PCIE链路的故障位置以及故障类型。述PCIE链路的故障位置以及故障类型。

【技术实现步骤摘要】
一种故障检测方法、装置、设备及存储介质


[0001]本申请实施例涉及计算机
，具体而言，涉及一种故障检测方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]PCIE(peripheral component interconnect express，高速串行计算机扩展总线标准)是一种支持高带宽，高灵活性的计算机扩展总线标准，广泛应用于各种网络设备中，PCIE卡就是其中的一种主要设备。在PCIE卡的应用过程中，有时会出现PCIE设备无法被识别的情况，现有技术中当PCIE设备无法被识别时，常规的故障检测方法包查看链路设计原理图，看设计是否合理；排查器件是否故障；检测PCIE信号质量；更换PCIE卡查看是否可识别。
[0003]现有的故障检测方法都需要进行链路的具体分析，无法快速判断出故障的具体原因，当链路出现断路时，也无法快速定位故障的位置。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种故障检测方法、装置、设备及存储介质，旨在快速确定PCIE设备无法识别时,PCIE链路上的的故障位置以及故障类型。
[0005]本申请实施例第一方面提供一种故障检测方法，所述方法包括：
[0006]当PCIE设备无法被中央处理器识别时，通过测试线路，将PCIE插槽上的每个PCIE链路的PCIE发射信号分别引入示波器中；
[0007]当所述示波器无法显示所述PCIE插槽上的某条PCIE链路的PCIE发射信号的波形图时，将所述PCIE链路的PCIE发射信号引入时域反射计中；
[0008]根据所述时域反射计中显示的所述PCIE发射信号的阻抗波形图，确定所述PCIE链路的故障位置以及故障类型。
[0009]可选地，所述方法还包括：
[0010]根据所述故障位置以及所述故障类型，生成对应的故障记录信息；
[0011]将所述故障记录信息记录在故障日志中。
[0012]可选地，所述通过测试链路，将PCIE插槽上的每个PCIE链路的PCIE发射信号分别引入示波器中，所述测试线路的创建过程包括：
[0013]通过连接器，将所述中央处理器与PCIE卡板相连接，所述PCIE卡板上安装有所述PCIE插槽；
[0014]将PCIE治具接入所述PCIE插槽中；
[0015]将所述PCIE治具与所述示波器相连。
[0016]可选地，所述当所述示波器无法显示所述PCIE插槽上的某条PCIE链路的PCIE发射信号的波形图时，将所述PCIE链路的PCIE发射信号引入时域反射计中，包括：
[0017]当所述示波器无法显示所述PCIE插槽上的某条PCIE链路的PCIE发射信号的波形
图时，将所述PCIE链路确定为故障链路；
[0018]将所述故障链路的所述PCIE发射信号传输至所述时域反射计中。
[0019]可选地，所述根据所述时域反射计中显示的所述PCIE发射信号的阻抗波形图，确定所述PCIE链路的故障位置以及故障类型，包括：
[0020]获取所述PCIE插槽上的正常PCIE链路的正常阻抗波形图；
[0021]将所述PCIE发射信号的阻抗波形图与所述正常阻抗波形图进行对比，确定所述PCIE发射信号的阻抗波形图中的异常区域；
[0022]根据所述异常区域，确定所述PCIE链路的故障位置以及故障类型。
[0023]可选地，在获取所述PCIE插槽上的正常PCIE链路的正常阻抗波形图之前，所述方法还包括：
[0024]将所述PCIE插槽上的正常PCIE链路的PCIE发射信号传输至所述时域反射计中，得到所述正常阻抗波形图；
[0025]将所述正常阻抗波形图存储至波形图存储空间中。
[0026]可选地，所述根据所述异常区域，确定所述PCIE链路的故障位置以及故障类型，包括：
[0027]获取所述异常区域中的具体波形，得到异常区域波形图；
[0028]根据预先设置的故障判断规则，对所述异常区域波形图进行故障判断，确定所述PCIE链路的故障位置以及故障类型。
[0029]本申请实施例第二方面提供一种故障检测装置，所述装置包括：
[0030]第一信号测试模块，用于当PCIE设备无法被中央处理器识别时，通过测试线路，将PCIE插槽上的每个PCIE链路的PCIE发射信号分别引入示波器中。
[0031]第二信号测试模块，用于当所述示波器无法显示所述PCIE插槽上的某条PCIE链路的PCIE发射信号的波形图时，将所述PCIE链路的PCIE发射信号引入时域反射计中。
[0032]故障检测模块，用于根据所述时域反射计中显示的所述PCIE发射信号的阻抗波形图，确定所述PCIE链路的故障位置以及故障类型。
[0033]可选地，所述装置还包括：
[0034]故障记录信息生成模块，用于根据所述故障位置以及所述故障类型，生成对应的故障记录信息；
[0035]故障信息记录模块，用于将所述故障记录信息记录在故障日志中。
[0036]可选地，所述通过测试链路，将PCIE插槽上的每个PCIE链路的PCIE发射信号分别引入示波器中，所述测试线路的创建过程包括：
[0037]通过连接器，将所述中央处理器与PCIE卡板相连接，所述PCIE卡板上安装有所述PCIE插槽；
[0038]将PCIE治具接入所述PCIE插槽中；
[0039]将所述PCIE治具与所述示波器相连。
[0040]可选地，所述第二信号测试模块包括：
[0041]故障链路确定子模块，用于当所述示波器无法显示所述PCIE插槽上的某条PCIE链路的PCIE发射信号的波形图时，将所述PCIE链路确定为故障链路；
[0042]信号传输子模块，用于将所述故障链路的所述PCIE发射信号传输至所述时域反射
计中。
[0043]可选地，所述故障检测模块包括：
[0044]正常阻抗波形图获取子模块，用于获取所述PCIE插槽上的正常PCIE链路的正常阻抗波形图；
[0045]异常区域确定子模块，用于将所述PCIE发射信号的阻抗波形图与所述正常阻抗波形图进行对比，确定所述PCIE发射信号的阻抗波形图中的异常区域；
[0046]故障检测子模块，用于根据所述异常区域，确定所述PCIE链路的故障位置以及故障类型。
[0047]可选地，所述故障检测模块还包括：
[0048]正常阻抗波形图确定子模块，用于将所述PCIE插槽上的正常PCIE链路的PCIE发射信号传输至所述时域反射计中，得到所述正常阻抗波形图；
[0049]波形图存储子模块，用于将所述正常阻抗波形图存储至波形图存储空间中。
[0050]可选地，所述故障检测子模块包括：
[0051]异常区域波形图获取子模块，用于获取所述异常区域中的具体波形，得到异常区域波形图；
[0052]故障判断子模块，用于根据预先设置的故障判断规则，对所述异常区域波形图进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种故障检测方法，其特征在于，所述方法包括：当PCIE设备无法被中央处理器识别时，通过测试线路，将PCIE插槽上的每个PCIE链路的PCIE发射信号分别引入示波器中；当所述示波器无法显示所述PCIE插槽上的某条PCIE链路的PCIE发射信号的波形图时，将所述PCIE链路的PCIE发射信号引入时域反射计中；根据所述时域反射计中显示的所述PCIE发射信号的阻抗波形图，确定所述PCIE链路的故障位置以及故障类型。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据所述故障位置以及所述故障类型，生成对应的故障记录信息；将所述故障记录信息记录在故障日志中。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过测试链路，将PCIE插槽上的每个PCIE链路的PCIE发射信号分别引入示波器中，所述测试线路的创建过程包括：通过连接器，将所述中央处理器与PCIE卡板相连接，所述PCIE卡板上安装有所述PCIE插槽；将PCIE治具接入所述PCIE插槽中；将所述PCIE治具与所述示波器相连。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当所述示波器无法显示所述PCIE插槽上的某条PCIE链路的PCIE发射信号的波形图时，将所述PCIE链路的PCIE发射信号引入时域反射计中，包括：当所述示波器无法显示所述PCIE插槽上的某条PCIE链路的PCIE发射信号的波形图时，将所述PCIE链路确定为故障链路；将所述故障链路的所述PCIE发射信号传输至所述时域反射计中。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述时域反射计中显示的所述PCIE发射信号的阻抗波形图，确定所述PCIE链路的故障位置以及故障类型，包括：获取所述PCIE插槽上的正常PCIE链路的正常阻抗波形图；将所述PCIE发射信号的...

【专利技术属性】
技术研发人员：邢艳如，张日洪，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：