电磁波检测装置以及信息获取系统制造方法及图纸

电磁波检测装置(10)具有分离部(16)、第一检测部(17)、行进部(18)、第二检测部(20)、以及遮断部(21)。分离部(16)使沿第一方向(d1)行进的电磁波以沿第二方向(d2)和第三方向(d3)行进的方式分离。第一检测部(17)检测沿第二方向(d2)行进的电磁波。行进部(18)具有沿着基准面(ss)设置的多个像素(px)。行进部(18)针对每个像素(px)使向第三方向(d3)行进而入射至基准面(ss)的电磁波的行进方向切换为第四方向(d4)和第五方向(d5)。第二检测部(20)检测沿第四方向(d4)行进的电磁波。遮断部(21)遮断向第五方向(d5)行进的电磁波中的至少一部分。五方向(d5)行进的电磁波中的至少一部分。五方向(d5)行进的电磁波中的至少一部分。

【技术实现步骤摘要】
电磁波检测装置以及信息获取系统
[0001]本申请是申请日为2019年4月2日、申请号为201980025027.7、专利技术名称为“电磁波检测装置以及信息获取系统”的申请的分案申请。
[0002]相关申请的相互参照
[0003]本申请主张2018年4月13日在日本申请的日本特愿2018
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77530的优先权，并将该在先申请的公开全部内容引入本申请用于参照。


[0004]本专利技术涉及一种电磁波检测装置以及信息获取系统。

技术介绍

[0005]近年来，开发了一种根据检测电磁波的多个检测器的检测结果来获取与周围相关的信息的装置。例如，已知一种使用激光雷达来测定利用红外线照相机拍摄到的图像中的物体的位置的装置(参照专利文献1)。
[0006]现有技术文献
[0007]专利文献
[0008]专利文献1：日本特开2011
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220732号公报

技术实现思路

[0009]第一技术方案的电磁波检测装置，
[0010]具有：
[0011]分离部，使沿第一方向行进的电磁波分离，并使该电磁波沿第二方向和第三方向行进；
[0012]第一检测部，检测沿所述第二方向行进的所述电磁波；
[0013]行进部，沿着基准面配置有多个像素，针对每个所述像素使向所述第三方向行进而入射至所述基准面的电磁波的行进方向切换为第四方向和第五方向；
[0014]第二检测部，检测沿所述第四方向行进的电磁波；以及
[0015]遮断部，遮断向所述第五方向行进的电磁波中的至少一部分。
[0016]另外，第二技术方案的信息获取系统，
[0017]具有：
[0018]电磁波检测装置，具有：分离部，使沿第一方向行进的电磁波分离，并使该电磁波沿第二方向和第三方向行进；第一检测部，检测沿所述第二方向行进的所述电磁波；行进部，沿着基准面配置有多个像素，针对每个所述像素使向所述第三方向行进而入射至所述基准面的电磁波的行进方向切换为第四方向和第五方向；第二检测部，检测沿所述第四方向行进的电磁波；以及遮断部，遮断向所述第五方向行进的电磁波中的至少一部分；以及
[0019]控制部，基于所述第一检测部和所述第二检测部的电磁波的检测结果，获取与周围相关的信息。
附图说明
[0020]图1是表示包括表示第一实施方式的电磁波检测装置的信息获取系统的概略结构的结构图。
[0021]图2是表示图1的电磁波检测装置的概略结构的结构图。
[0022]图3是用于说明图2的行进部中的像素在第一状态和第二状态下的电磁波的行进方向的电磁波检测装置的状态图。
[0023]图4是用于说明由图1的放射部、第二检测部、以及控制部14构成的测距传感器的测距原理的电磁波的放射时刻和检测时刻的时序图。
[0024]图5是表示第二实施方式的电磁波检测装置的概略结构的结构图。
[0025]图6是表示第一实施方式的电磁波检测装置的变形例的概略结构的结构图。
具体实施方式
[0026]以下，参照附图对应用了本专利技术的电磁波检测装置的实施方式进行说明。在利用检测电磁波的多个检测器来检测电磁波的结构中，从向装置的电磁波中，在各检测器中以作为检测对象而被分配的波段的电磁波入射至各个检测器的方式形成光学系统。此时，有时被分配的波段以外的电磁波入射至各检测部中的至少任一个检测部，有时会使电磁波的检测精度下降。因此，应用了本专利技术的电磁波检测装置构成为对各检测部中的至少任一个检测部降低被分配的波段以外的电磁波的入射量，从而能够提高被分配至该检测部的波段的电磁波的检测精度。
[0027]如图1所示，包括本专利技术的第一实施方式的电磁波检测装置10的信息获取系统11包括电磁波检测装置10、放射部12、扫描部13、以及控制部14。
[0028]在之后的图中，连结各功能块的虚线表示控制信号或者通信的信息的流动。虚线所示的通信可以是有线通信，也可以是无线通信。另外，从各功能块突出的实线表示波束状的电磁波。
[0029]如图2所示，电磁波检测装置10具有前段光学系统15、分离部16、第一检测部17、行进部18、后段光学系统19、第二检测部20、以及遮断部21。
[0030]前段光学系统15包括例如透镜以及反光镜中的至少一方，并使作为被拍摄体的对象ob的像成像。
[0031]分离部16设置在前段光学系统15与一次成像位置之间，该一次成像位置是通过前段光学系统15对与前段光学系统15隔开规定的距离的对象ob的像进行成像的成像位置。
[0032]分离部16使沿第一方向d1行进的电磁波分离，以使其沿第二方向d2和第三方向d3行进的方式分离。第一方向d1例如可以与前段光学系统15的光轴平行。分离部16可以使沿第一方向d1行进的电磁波的一部分沿第二方向d2行进，使电磁波的另一部分沿第三方向d3行进。沿第二方向d2行进的一部分电磁波可以是沿第一方向d1行进的电磁波中的特定波长的电磁波，沿第三方向d3行进的电磁波可以是其他波长的电磁波。
[0033]例如，具体而言，分离部16可以使可见光频带的电磁波沿第二方向d2行进，使红外频带的电磁波沿第三方向d3行进。相反地，分离部16也可以使红外频带的电磁波沿第二方向d2行进，使可见光频带的电磁波沿第三方向d3行进。另外，分离部16可以使长波长的电磁波沿第二方向d2行进，使短波长的电磁波沿第三方向d3行进。相反地，分离部16也可以使短
波长的电磁波沿第二方向d2行进，使长波长的电磁波沿第三方向d3行进。
[0034]在第一实施方式中，分离部16使沿第一方向d1行进的电磁波的一部分向第二方向d2反射，使电磁波的另一部分向第三方向d3透过。分离部16也可以使沿第一方向d1行进的电磁波的一部分向第二方向d2透过，使电磁波的另一部分向第三方向d3透过。另外，分离部16也可以使沿第一方向d1行进的电磁波的一部分向第二方向d2折射，使电磁波的另一部分向第三方向d3折射。分离部16例如包括蒸镀于棱镜22的可见光反射涂层、半反光镜、分束器、分色镜、冷镜、热镜、超表面、以及偏转元件中的任一种。
[0035]第一检测部17设置在从分离部16向第二方向d2行进的电磁波的路径上。而且，第一检测部17设置在从分离部16在第二方向d2上的通过前段光学系统15对与前段光学系统15隔开规定的距离的对象ob的像进行成像的成像位置或该成像位置附近。第一检测部17检测从分离部16沿第二方向d2行进的电磁波。
[0036]在第一实施方式中，第一检测部17是无源传感器。在第一实施方式中，更具体而言，第一检测部17包括元件阵列。例如，第一检测部17包括图像传感器或成像阵列等的拍摄元件，对在检测面成像的电磁波的像进行拍摄，生成相当于拍摄的对象ob的图像信息。
[0037]此外，在第一实施方式中，更具体而言，第一检测部17对可见光的像进行拍摄。第一检测部17将所生成的图像信息作为信号向控本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电磁波检测装置，其中，具有：放射部，向对象存在的空间照射电磁波；第一检测部，至少检测从所述空间入射的电磁波中的可见光；第二检测部，检测所述放射部照射的电磁波被所述对象反射的反射波；行进部，使入射的电磁波中的包含所述反射波的第一部分向所述第二检测部行进，使入射的电磁波中的包含所述第一部分以外的部分的第二部分不向所述第二检测部行进；以及遮断部，防止所述第二部分向所述第一检测部入射，所述第一检测部和所述遮断部配置在所述第二部分的行进方向上，所述第一检测部为图像传感器，所述第二检测部为测距传感器。2.如权利要求1所述的电磁波检测装置，其中，所述电磁波检测装置还具有分离部，所述分离部基于波长使从所述空间入射的电磁波分离，使可见光向所述第一检测部行进。3.如权利要求1或2...

【专利技术属性】
技术研发人员：竹内绘梨，冈田浩希，
申请(专利权)人：京瓷株式会社，
类型：发明
国别省市：