一种电子装备故障诊断方法、系统、电子设备及介质技术方案

本发明专利技术公开一种电子装备故障诊断方法、系统、电子设备及介质，涉及电子装备检测技术领域。所述方法包括在设定时间段内以设定频率采集被测电路板在工作状态下的红外图像，得到被测红外图像序列；对于所述被测电路板中任意一个元件，根据所述被测红外图像序列中所述元件的温度，绘制被测元件时间

【技术实现步骤摘要】
一种电子装备故障诊断方法、系统、电子设备及介质


[0001]本专利技术涉及电子装备检测
，特别是涉及一种电子装备故障诊断方法、系统、电子设备及介质。

技术介绍

[0002]电子装备技术构成复杂、专业跨度大、装备类型多，所需要的维修设备种类多、差异性大，在维修过程中，需要在不同的维修设备之间进行切换，维修流程复杂，维修操作规范要求高，如果仅仅依赖个人的维修经验对装备进行故障判断和检修，本身对维修人员的专业技能水平要求高，并且容易造成将故障部件和正常部件全部拆解，诊断维修效率低，而且反复对部件进行拆解还会降低零部件使用寿命，所以迫切需要引进智能化的检测手段，能够快速将各类维修知识进行关联，辅助维修人员梳理故障现象，快速定位故障部位，有效降低装备维修技术难度，节约维修成本，提升维修效益。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是提供一种电子装备故障诊断方法、系统、电子设备及介质，可快速定位故障部位，有效降低装备维修技术难度，节约维修成本，提升维修效益。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供了如下方案：
[0005]一种电子装备故障诊断方法，包括：
[0006]在设定时间段内以设定频率采集被测电路板在工作状态下的红外图像，得到被测红外图像序列；
[0007]对于所述被测电路板中任意一个元件，根据所述被测红外图像序列中所述元件的温度，绘制被测元件时间
‑
温度曲线图；
[0008]根据基准红外图像序列中所述元件的温度，绘制基准元件时间/>‑
温度曲线图；所述基准红外图像序列包括在所述设定时间段内以所述设定频率采集的基准电路板在没有发生故障状态下工作的红外图像；
[0009]将所述被测元件时间
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温度曲线图与所述基准元件时间
‑
温度曲线图进行对比确定所述元件是否发生故障。
[0010]可选的，在所述对于所述被测电路板中任意一个元件，根据所述被测红外图像序列中所述元件的温度，绘制被测元件时间
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温度曲线图，之前还包括：
[0011]将所述被测红外图像序列中的红外图像与所述基准红外图像序列中的红外图像进行图像配准。
[0012]可选的，在所述将所述被测红外图像序列中的红外图像与所述基准红外图像序列中的红外图像进行图像配准，之前还包括：
[0013]对所述被测红外图像序列中的各红外图像均依次进行去噪处理、边缘锐化处理以及提高对比度处理。
[0014]可选的，所述将所述被测元件时间
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温度曲线图与所述基准元件时间
‑
温度曲线图
进行对比确定所述元件是否发生故障，具体包括：
[0015]计算所述被测元件时间
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温度曲线图和所述基准元件时间
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温度曲线图的均值、方差、温度上升速率、温度下降速率和温度变化区间；
[0016]根据所述被测元件时间
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温度曲线图的均值、方差、温度上升速率、温度下降速率和温度变化区间以及所述基准元件时间
‑
温度曲线图的均值、方差、温度上升速率、温度下降速率和温度变化区间确定所述元件是否发生故障。
[0017]一种电子装备故障诊断系统，包括：
[0018]被测红外图像序列确定模块，用于在设定时间段内以设定频率采集被测电路板在工作状态下的红外图像，得到被测红外图像序列；
[0019]被测元件时间
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温度曲线图确定模块，用于对于所述被测电路板中任意一个元件，根据所述被测红外图像序列中所述元件的温度，绘制被测元件时间
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温度曲线图；
[0020]基准元件时间
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温度曲线图确定模块，用于根据基准红外图像序列中所述元件的温度，绘制基准元件时间
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温度曲线图；所述基准红外图像序列包括在所述设定时间段内以所述设定频率采集的基准电路板在没有发生故障状态下工作的红外图像；
[0021]故障判断模块，用于将所述被测元件时间
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温度曲线图与所述基准元件时间
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温度曲线图进行对比确定所述元件是否发生故障。
[0022]可选的，所述电子装备故障诊断系统，还包括：
[0023]配准模块，用于将所述被测红外图像序列中的红外图像与所述基准红外图像序列中的红外图像进行图像配准。
[0024]可选的，所述电子装备故障诊断系统，还包括：
[0025]预处理模块，用于对所述被测红外图像序列中的各红外图像均依次进行去噪处理、边缘锐化处理以及提高对比度处理。
[0026]可选的，所述故障判断模块，具体包括：
[0027]计算单元，用于计算所述被测元件时间
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温度曲线图和所述基准元件时间
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温度曲线图的均值、方差、温度上升速率、温度下降速率和温度变化区间；
[0028]故障判断单元，用于根据所述被测元件时间
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温度曲线图的均值、方差、温度上升速率、温度下降速率和温度变化区间以及所述基准元件时间
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温度曲线图的均值、方差、温度上升速率、温度下降速率和温度变化区间确定所述元件是否发生故障。
[0029]一种电子设备，包括：
[0030]存储器和处理器，所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器运行所述计算机程序以使所述电子设备执行上述所述的电子装备故障诊断方法。
[0031]一种计算机可读存储介质，其存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述所述的电子装备故障诊断方法。
[0032]根据本专利技术提供的具体实施例，本专利技术公开了以下技术效果：本专利技术根据红外图像判断电路板上的元件在工作过程中温度是否正常确定元件是否发生故障，不用拆除元件，可以快速定位故障部位，有效降低装备维修技术难度，节约维修成本，提升维修效益。
附图说明
[0033]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所
需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0034]图1为本专利技术实施例提供的电子装备故障诊断方法的流程图；
[0035]图2为对红外图像进行预处理的流程图；
[0036]图3为进行图像配准的流程图。
具体实施方式
[0037]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0038]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子装备故障诊断方法，其特征在于，包括：在设定时间段内以设定频率采集被测电路板在工作状态下的红外图像，得到被测红外图像序列；对于所述被测电路板中任意一个元件，根据所述被测红外图像序列中所述元件的温度，绘制被测元件时间
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温度曲线图；根据基准红外图像序列中所述元件的温度，绘制基准元件时间
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温度曲线图；所述基准红外图像序列包括在所述设定时间段内以所述设定频率采集的基准电路板在没有发生故障状态下工作的红外图像；将所述被测元件时间
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温度曲线图与所述基准元件时间
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温度曲线图进行对比确定所述元件是否发生故障。2.根据权利要求1所述的电子装备故障诊断方法，其特征在于，在所述对于所述被测电路板中任意一个元件，根据所述被测红外图像序列中所述元件的温度，绘制被测元件时间
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温度曲线图，之前还包括：将所述被测红外图像序列中的红外图像与所述基准红外图像序列中的红外图像进行图像配准。3.根据权利要求2所述的电子装备故障诊断方法，其特征在于，在所述将所述被测红外图像序列中的红外图像与所述基准红外图像序列中的红外图像进行图像配准，之前还包括：对所述被测红外图像序列中的各红外图像均依次进行去噪处理、边缘锐化处理以及提高对比度处理。4.根据权利要求1所述的电子装备故障诊断方法，其特征在于，所述将所述被测元件时间
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温度曲线图与所述基准元件时间
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温度曲线图进行对比确定所述元件是否发生故障，具体包括：计算所述被测元件时间
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温度曲线图和所述基准元件时间
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温度曲线图的均值、方差、温度上升速率、温度下降速率和温度变化区间；根据所述被测元件时间
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温度曲线图的均值、方差、温度上升速率、温度下降速率和温度变化区间以及所述基准元件时间
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温度曲线图的均值、方差、温度上升速率、温度下降速率和温度变化区间确定所述元件是否发生故障。5.一种电子装备故障诊断系统，其特征在于，包括：被测红外图像序列确定模块，用于在设定时间段内以设定频率采集被测电路...

【专利技术属性】
技术研发人员：连云峰，连光耀，牛刚，韩宁，张西山，赵晓文，甄红涛，梁晓龙，代冬升，李雅峰，李会杰，
申请(专利权)人：中国人民解放军三二一八一部队，
类型：发明
国别省市：