本发明专利技术涉及电火花加工领域，尤其涉及一种用于电火花加工电极系统的分中方法。这种方法用于在工件进行放电操作之前，增加了对电极系统进行用户可选择性的理论分中，之后把该理论分中的坐标导入机床连同工件和电极系统的实际分中的坐标一起进行放电操作。通过在电火花加工加入前置的电极系统的理论分中步骤，计算出电极系统的理论分中坐标导入机床，即可为后续在机床上的电极系统的实际分中和校正工作提供数据基础，方法灵活，简便，极大提升工件分中效率并且提高了电火花加工的放电准确率。中效率并且提高了电火花加工的放电准确率。中效率并且提高了电火花加工的放电准确率。
【技术实现步骤摘要】
一种用于电火花加工的电极批量分中方法、装置及存储介质
[0001]本专利技术涉及电火花加工领域，尤其涉及一种用于电火花加工电极系统的分中方法、装置及存储介质。
技术介绍
[0002]电火花加工是指在一定的介质中，通过工具电极和工件电极之间的脉冲放电，形成瞬间高温将工件材料局部熔化和气化，从而实现材料蚀除。这种加工方法不产生切削力，不受刀具材料的限制，可以加工超高硬度、脆性和形状复杂的工件，因此被广泛应用于模具、航空工业、医疗器械等多个领域。电火花加工通常通过电火花加工机床来实现。
[0003]现有的电火花加工流程中，操作人员需要把电火花放电工件摆放在操作台面上进行电火花放电操作，但是由于每次放置的工件由于位置的不精确，会导致放电打孔的操作也不够精确，因此对电极进行实际分中和校对是后续电火花加工工作的基础，而当前的工件分中过程都是在电火花加工机床端进行的，由机床对工件进行实际分中以及简单校对后即进行电火花的放电操作，但是，由于电极每次对工件进行放电操作后，都需要更换新的电极对后续的位置继续进行放电操作，在频繁的更换过程中就有可能出现电极位置的偏移，从而导致这种放电操作准确率降低的问题。
技术实现思路
[0004]针对上述问题，本专利技术在工件进行放电操作之前，增加了对电极系统进行用户可选择性的理论分中，之后把该理论分中的坐标导入机床连同工件和电极系统的实际分中的坐标一起进行放电操作。
[0005]一方面，本专利技术提供一种用于电火花加工的电极批量分中方法，包括：
[0006]通过人机交互界面，响应于用户对电极系统的图形的操作，选取所述电极系统表面的M个检测点，M为大于或等于5的正整数，所述电极系统为电火花加工机床中的任一电极系统；
[0007]确定所述M个检测点的坐标；
[0008]根据所述M个检测点的坐标计算所述电极系统的理论分中坐标；
[0009]向电火花加工机床发送所述理论分中坐标，所述理论分中坐标用于所述电火花加工机床，并配合电火花加工电极系统的实际分中坐标进行电火花放电操作。
[0010]优选地，所述电极系统包括N个电极和N个电极基准台，N为大于等于1的正整数，所述电极和所述电极基准台相对应并互相配合进行电火花放电操作。
[0011]具体地，所述选取所述电极系统表面的M个检测点包括：
[0012]在所述电极基准台的正面、背面、左侧面、右侧面及在所述电极的梯面分别选取检测点，得到M个检测点。
[0013]具体地，所述在选取所述电极系统表面的M个检测点包括：
[0014]判断所述电极是否为规则凸面体；
[0015]在所述电极为规则凸面体的情况下，在所述电极基准台的正面、背面、左侧面、右侧面及在所述电极的梯面分别任意选取检测点，得到M个检测点。
[0016]具体地，所述选取所述电极系统表面的M个检测点包括：
[0017]判断所述电极是否为规则凸面体；
[0018]在所述电极不是规则凸面体的情况下，在所述电极基准台的正面、背面、左侧面、右侧面分别任意选取检测点及在所述电极的梯面突出的表面选取检测点，得到M个检测点。
[0019]优选地，所述方法还包括：
[0020]显示所述理论分中坐标；
[0021]响应于用户针对所述理论分中坐标的调整指令，执行所述响应于用户对所述电极系统的图形的操作，选取所述电极系统的表面的M个检测点，确定所述M个检测点的坐标，根据所述M个检测点的坐标计算所述电极系统的理论分中坐标的步骤。
[0022]具体地，所述电极系统的理论分中坐标包括X轴坐标、Y轴坐标和Z轴坐标，所述根据所述M个检测点的坐标计算所述电极系统的理论分中坐标包括：
[0023]将第一检测点和第二检测点的X轴坐标的和的平均值确定为所述电极系统的理论分中坐标的X轴坐标，所述第一检测点为所述M个检测点中位于所述电极基准台正面的一个检测点，所述第二检测点为所述M个检测点中位于电极基准台背面的一个检测点；
[0024]将第三检测点和第四检测点的Y轴坐标的和的平均值确定为所述电极系统的理论分中坐标的Y轴坐标，所述第三检测点为所述M个检测点中位于所述电极基准台左侧面的一个检测点，所述第四检测点为所述M个检测点中位于所述电极基准台右侧面的一个检测点；
[0025]将所述M个检测点中位于所述电极梯面的检测点的Z轴坐标及第一高度的和的一半确定为所述电极系统的理论分中坐标的Z轴坐标，所述第一高度为所述电极距离电火花放电工件的放电位置的安全高度。
[0026]一方面，本专利技术提供一种用于电火花加工工件的分中装置，包括：
[0027]检测点选取模块，通过人机交互界面，响应于用户对电极系统的图形的操作，选取所述电极系统表面的M个检测点，M为大于或等于5的正整数，所述电极系统为电火花加工机床中的任一电极系统；
[0028]坐标记录模块，用于确定所述M个检测点的坐标；
[0029]理论分中坐标计算模块，用于根据所述M个检测点的坐标计算所述电极系统的理论分中坐标；
[0030]理论分中坐标导入模块，向电火花加工机床发送所述理论分中坐标，所述理论分中坐标用于所述电火花加工机床，并配合电火花加工电极系统的实际分中坐标进行电火花放电操作。
[0031]一方面，本专利技术提供另一种用于电火花加工工件的分中装置，包括输入单元、输出单元、处理器、存储器和通信接口；
[0032]所述输入单元用于通过人机交互界面选取电火花加工的电极系统表面的检测点；
[0033]所述存储器存储程序模块，其特征在于，所述程序模块在所述处理器运行，实现如上述的方法计算电火花加工的电极系统的理论分中坐标；
[0034]所述输出单元用于通过所述通信接口向向电火花加工机床发送所述理论分中坐标。
[0035]一方面，本专利技术提供一种可读存储介质，存储程序模块，其特征在于，所述程序模块在处理器中运行可实现如上述的方法。
[0036]通过在电火花加工加入前置的电极系统的理论分中步骤，计算出电极系统的理论分中坐标导入机床，即可为后续在机床上的电极系统的实际分中和校正工作提供数据基础，方法灵活，简便，极大提升工件分中效率并且提高了电火花加工的放电准确率。
附图说明
[0037]图1用于电火花加工的电极批量分中方法流程图；
[0038]图2电火花加工电极系统理论坐标计算流程图；
[0039]图3电火花加工电极系统检测点选取示例图；
[0040]图4可读存储介质框图。
具体实施方式
[0041]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0042]本专利技术的说明书和权利本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于电火花加工的电极批量分中方法，其特征在于，包括：通过人机交互界面，响应于用户对电极系统的图形的操作，选取所述电极系统表面的M个检测点，M为大于或等于5的正整数，所述电极系统为电火花加工机床中的任一电极系统；确定所述M个检测点的坐标；根据所述M个检测点的坐标计算所述电极系统的理论分中坐标；向电火花加工机床发送所述理论分中坐标，所述理论分中坐标用于所述电火花加工机床，并配合电火花加工电极系统的实际分中坐标进行电火花放电操作。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电极系统包括N个电极和N个电极基准台，N为大于等于1的正整数，所述电极和所述电极基准台相对应并互相配合进行电火花放电操作。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述选取所述电极系统表面的M个检测点包括：在所述电极基准台的正面、背面、左侧面、右侧面及在所述电极的梯面分别选取检测点，得到M个检测点。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述选取所述电极系统表面的M个检测点包括：判断所述电极是否为规则凸面体；在所述电极为规则凸面体的情况下，在所述电极基准台的正面、背面、左侧面、右侧面及在所述电极的梯面分别任意选取检测点，得到M个检测点。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述选取所述电极系统表面的M个检测点包括：判断所述电极是否为规则凸面体；在所述电极不是规则凸面体的情况下，在所述电极基准台的正面、背面、左侧面、右侧面分别任意选取检测点及在所述电极的梯面突出的表面选取检测点，得到M个检测点。6.根据权利要求1
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4任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：显示所述理论分中坐标；响应于用户针对所述理论分中坐标的调整指令，执行所述响应于用户对所述电极系统的图形的操作，选取所述电极系统的表面的M个检测点，确定所述M个检测点的坐标，根据所述M个检测点的坐标计算所述电极系统的理论分中坐标的步骤。7.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述电极系统的理论分中坐标包括X轴坐标、Y轴坐标和Z轴坐标，所述根据所述M个检测点的坐标计...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴小虎，
申请(专利权)人：吴小虎，
类型：发明
国别省市：
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