集成电路引线框架缺陷检测仪器制造技术

技术编号:38004017 阅读:12 留言:0更新日期:2023-06-30 10:18
本发明专利技术属于集成电路生产技术领域,公开了集成电路引线框架缺陷检测仪器,包括模拟腔体及对称设于其外侧壁中下部的支撑腿,模拟腔体呈一侧开口的中空腔体设置,且模拟腔体的外壁的顶部和底部对称设有开口,模拟腔体的开口处设有冷热环境模拟发生机构,模拟腔体内设有记忆合金预设环境模拟机构,支撑腿的内侧壁之间设有循环检测下料机构,模拟腔体的正上方设有自适应放置组件,模拟腔体的内壁的下部左侧设有碰撞防护组件。本发明专利技术通过模拟涡流管的冷热气流和记忆合金弹簧的作用下模拟出冷热交替,外力碰撞以及静摩擦三种检测环境,避免了集成电路引线框架虚接,提高了检测的准确性,以及自动完成合格品和不合格品的分开收集。自动完成合格品和不合格品的分开收集。自动完成合格品和不合格品的分开收集。

【技术实现步骤摘要】
集成电路引线框架缺陷检测仪器


[0001]本专利技术属于集成电路生产
,具体是指集成电路引线框架缺陷检测仪器。

技术介绍

[0002]引线框架作为集成电路的芯片载体,是一种借助于键合金丝实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接,形成电气回路的关键结构件,它起到了和外部导线连接的桥梁作用,绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架,是电子信息产业中重要的基础材料。引线框架主要用模具冲压法和化学刻蚀法进行生产,因此需要针对生产的集成电路引线框架的质量进行检测,以保证与集成电路的芯片进行良好的配合。现有的检测设备存在以下问题:1、集成电路在运行时,处于较高的温度环境下,在对集成电路检测时,需要模拟高温环境下检测而提升检测质量,现有检测设备不能模拟此环境,造成集成电路的检测准确性率不高,降低了后续工序的良品率;2、集成电路引线框架可能存在虚接的情况,在无外力干涉时无法检测出缺陷;3、现有的检测设备无法满足集成电路引线框架在冷热交替的环境下的检测,造成检测的准确率不高。
[0003]因此,需要一种集成电路引线框架缺陷检测仪器以解决上述问题。

技术实现思路

[0004]针对上述情况,为克服现有技术的缺陷,本专利技术提供集成电路引线框架缺陷检测仪器,通过模拟涡流管的冷热气流和记忆合金弹簧的作用下模拟出冷热交替,外力碰撞以及静摩擦三种检测环境,避免了集成电路引线框架虚接,提高了检测的准确性,以及自动完成合格品和不合格品的分开收集。
[0005]本专利技术采取的技术方案如下:本专利技术提出了集成电路引线框架缺陷检测仪器,包括模拟腔体及对称设于其外侧壁中下部的支撑腿,所述模拟腔体呈一侧开口的中空腔体设置,且模拟腔体的外壁的顶部和底部对称设有开口,所述模拟腔体的开口处设有冷热环境模拟发生机构,所述模拟腔体内设有记忆合金预设环境模拟机构,所述支撑腿的内侧壁之间设有循环检测下料机构,所述循环检测下料机构设于模拟腔体的正下方,所述模拟腔体的正上方设有自适应放置组件,所述模拟腔体的内壁的下部左侧设有碰撞防护组件。
[0006]优选地,所述冷热环境模拟发生机构包括端盖、模拟涡流管和固定架,所述端盖设于模拟腔体的一侧开口处,所述固定架设于端盖的外侧壁,所述模拟涡流管设于固定架上,所述模拟涡流管的冷气端设有三根模拟冷气管,所述模拟涡流管的热气端设有三根模拟热气管,所述模拟冷气管的另一端贯穿设于端盖的外侧壁,所述模拟热气管的另一端贯穿设于端盖的外侧壁,所述模拟热气管和模拟冷气管相间阵列设置,通过模拟涡流管导出的冷气和热气分别导入到模拟热气腔和模拟冷气腔内,从而模拟处交替的冷热环境。
[0007]优先地,为了在冷热交替的模拟环境,外力碰撞以及摩擦的环境中检测,所述记忆
合金预设环境模拟机构包括模拟旋转轴、固定支管、固定主管、固定盘、模拟旋转电机、固定支撑盘、外旋转环体、内旋转环体、隔热挡板、密封挡板、电磁铁、永磁铁、活动密封磁板、活动伸缩套筒、记忆合金弹簧和伯努利吸盘,所述模拟旋转轴贯穿设于模拟腔体的内侧壁中心处,所述模拟旋转电机设于模拟腔体的外侧壁中心处,所述模拟旋转电机与模拟旋转轴连接,所述固定盘的一端设于模拟旋转轴的一端,所述固定支撑盘设于固定盘的另一端面,所述固定主管阵列设于固定盘的外壁,所述固定支管的一端设于固定主管上靠近固定盘处,所述固定支管的另一端贯穿设于固定支撑盘的底壁,所述外旋转环体设于端盖的内侧壁中心处,所述内旋转环体设于端盖的内侧壁中心处,所述外旋转环体的直径大于内旋转环体的直径,所述隔热挡板阵列设于内旋转环体的外壁与外旋转环体的内壁之间,隔热挡板将内旋转环体与外旋转环体组成的空间分割成模拟冷气腔和模拟热气腔,模拟冷气腔和模拟热气腔依次相间设置,其中最上侧为模拟热气腔,最下侧为模拟冷气腔,所述内旋转环体和外旋转环体转动设于固定支撑盘的上壁,其中电磁铁设于最下侧的模拟冷气腔的内壁,所述电磁铁设于模拟冷气腔的左侧,所述永磁铁设于模拟冷气腔右侧的隔热挡板的侧壁,最下侧的模拟冷气腔内的内旋转环体和外旋转环体的侧壁设有限位滑槽,所述活动密封磁板滑动设于最下侧的模拟冷气腔内,所述活动密封磁板的内侧壁和外侧壁设有限位滑块,所述限位滑块设于限位滑槽内,活动密封磁板在电磁铁和永磁铁的作用下,在最下侧的模拟冷气腔内滑动,可以实现对模拟冷气腔所对应的固定支管的封堵,所述活动密封磁板的高度小于模拟冷气腔的深度,所述密封挡板设于最下侧的模拟冷气腔逆时针相邻的模拟热气腔的内壁中部,所述活动伸缩套筒滑动设于固定主管上,所述伯努利吸盘设于活动伸缩套筒的外端,伯努利吸盘与活动伸缩套筒相连通,所述记忆合金弹簧的一端设于固定支管的外端,所述记忆合金弹簧的另一端设于伯努利吸盘的下壁。
[0008]为了实现在检测为合格时,将合格的集成电路引线框架收纳,所述循环检测下料机构包括支撑横板、下料循环电机、循环旋转轴、不完全齿轮、检测相机、检测放置板、循环导向杆、下料放置盒和往复齿条框,所述支撑横板设于支撑腿的内侧壁之间,所述循环旋转轴贯穿设于支撑横板上壁中部,所述不完全齿轮设于支撑横板上壁,所述不完全齿轮设于循环旋转轴上,所述往复齿条框的内侧壁对称设有齿条,所述往复齿条框设于支撑横板上壁,所述往复齿条框与不完全齿轮啮合,所述循环导向杆呈倒U字型设置,所述循环导向杆对称设于支撑横板的上壁,所述循环导向杆贯穿往复齿条框的两端侧壁,所述下料放置盒设于往复齿条框一端的上壁,所述检测放置板设于往复齿条框另一端的上壁,所述检测相机设于检测放置板上壁,所述下料循环电机设于支撑横板的下壁中部,所述下料循环电机与循环旋转轴连接。
[0009]为了实现集成电路引线框架的自动下料检测,所述自适应放置组件包括放置框、夹紧导向杆、弹簧挡板、夹紧弹簧、夹紧板和拦截凸起,所述放置框呈上下开口的中空腔体设置,所述放置框设于模拟腔体上侧外壁的开口处,所述夹紧导向杆贯穿放置框的侧壁,所述夹紧导向杆设于放置框的两对称侧壁的四个角处,所述弹簧挡板设于夹紧导向杆的外端,所述夹紧弹簧套设于夹紧导向杆上,所述夹紧弹簧的一端设于放置框的侧壁,所述夹紧弹簧的另一端设于弹簧挡板的内侧壁,所述夹紧板设于夹紧导向杆的内端,所述夹紧板设于放置框内,所述拦截凸起设于夹紧板的内侧壁的下部。
[0010]为了配合碰撞环境检测,所述碰撞防护组件包括碰撞滑杆、碰撞联动块、复原弹簧
和碰撞橡胶板,所述模拟腔体的内壁左侧下部设有碰撞滑槽,所述碰撞滑杆呈圆弧形设置,所述碰撞滑杆的两端设于碰撞滑槽的两端面,所述碰撞联动块设于碰撞滑槽内,所述碰撞联动块滑动设于碰撞滑杆上,所述碰撞橡胶板设于碰撞联动块上壁,所述复原弹簧套设于碰撞滑杆上,所述复原弹簧的一端设于碰撞联动块的侧壁,所述复原弹簧的另一端设于碰撞滑槽的一端端面。
[0011]其中,所述模拟热气管与模拟热气腔相连通,所述模拟冷气管与模拟冷气腔相连通。
[0012]为了实现将不合格品剔除,所述模拟腔体的内壁右侧下部设有废品落料口,所述模拟腔体内壁的废品落料口的两侧设有落料挡板,所述模拟腔体下壁的废品落料口处设有废品放置箱。
[0013]为本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.集成电路引线框架缺陷检测仪器,包括模拟腔体(1)及对称设于其外侧壁中下部的支撑腿(2),所述模拟腔体(1)呈一侧开口的中空腔体设置,且模拟腔体(1)的外壁的顶部和底部对称设有开口,其特征在于:所述模拟腔体(1)的开口处设有冷热环境模拟发生机构(3),所述模拟腔体(1)内设有记忆合金预设环境模拟机构(4),所述支撑腿(2)的内侧壁之间设有循环检测下料机构(5),所述循环检测下料机构(5)设于模拟腔体(1)的正下方,所述模拟腔体(1)的正上方设有自适应放置组件(6),所述模拟腔体(1)的内壁的下部左侧设有碰撞防护组件(7)。2.根据权利要求1所述的集成电路引线框架缺陷检测仪器,其特征在于:所述冷热环境模拟发生机构(3)包括端盖(8)、模拟涡流管(9)和固定架(10),所述端盖(8)设于模拟腔体(1)的一侧开口处,所述固定架(10)设于端盖(8)的外侧壁,所述模拟涡流管(9)设于固定架(10)上,所述模拟涡流管(9)的冷气端设有三根模拟冷气管(11),所述模拟涡流管(9)的热气端设有三根模拟热气管(12),所述模拟冷气管(11)的另一端贯穿设于端盖(8)的外侧壁,所述模拟热气管(12)的另一端贯穿设于端盖(8)的外侧壁,所述模拟热气管(12)和模拟冷气管(11)相间阵列设置。3.根据权利要求2所述的集成电路引线框架缺陷检测仪器,其特征在于:所述记忆合金预设环境模拟机构(4)包括模拟旋转轴(13)、固定支管(14)、固定主管(15)、固定盘(16)、模拟旋转电机(17)、固定支撑盘(18)、外旋转环体(19)、内旋转环体(20)、隔热挡板(21)、密封挡板(22)、电磁铁(23)、永磁铁(24)、活动密封磁板(25)、活动伸缩套筒(26)、记忆合金弹簧(27)和伯努利吸盘(28),所述模拟旋转轴(13)贯穿设于模拟腔体(1)的内侧壁中心处,所述模拟旋转电机(17)设于模拟腔体(1)的外侧壁中心处,所述模拟旋转电机(17)与模拟旋转轴(13)连接,所述固定盘(16)的一端设于模拟旋转轴(13)的一端,所述固定支撑盘(18)设于固定盘(16)的另一端面,所述固定主管(15)阵列设于固定盘(16)的外壁,所述固定支管(14)的一端设于固定主管(15)上靠近固定盘(16)处,所述固定支管(14)的另一端贯穿设于固定支撑盘(18)的底壁,所述外旋转环体(19)设于端盖(8)的内侧壁中心处,所述内旋转环体(20)设于端盖(8)的内侧壁中心处,所述外旋转环体(19)的直径大于内旋转环体(20)的直径,所述隔热挡板(21)阵列设于内旋转环体(20)的外壁与外旋转环体(19)的内壁之间,隔热挡板(21)将内旋转环体(20)与外旋转环体(19)组成的空间分割成模拟冷气腔(29)和模拟热气腔(30),模拟冷气腔(29)和模拟热气腔(30)依次相间设置,其中最上侧为模拟热气腔(30),最下侧为模拟冷气腔(29),所述内旋转环体(20)和外旋转环体(19)转动设于固定支撑盘(18)的上壁,其中电磁铁(23)设于最下侧的模拟冷气腔(29)的内壁,所述电磁铁(23)设于模拟冷气腔(29)的左侧,所述永磁铁(24)设于模拟冷气腔(29)右侧的隔热挡板(21)的侧壁,最下侧的模拟冷气腔(29)内的内旋转环体(20)和外旋转环体(19)的侧壁设有限位滑槽(31),所述活动密封磁板(25)滑动设于最下侧的模拟冷气腔(29)内,所述活动密封磁板(25)的内侧壁和外侧壁设有限位滑块(32),所述限位滑块(32)设于限位滑槽(31)内,所述活动密封磁板(25)的高度小于模拟冷气腔(29)的深度,所述密封挡板(22)设于最下侧的模拟冷气腔(29)逆时针相邻的模拟热气腔(30)的内壁中部,所述活动伸缩套筒(26)滑动设于固定主管(15)上,所述伯努利吸盘(28)设于活动伸缩套筒(26)的外端,所述记忆合金弹簧(27)的一端设于固定支...

【专利技术属性】
技术研发人员:罗运标刘瑶张海威刘肖旺王文亮徐梦凌
申请(专利权)人:江苏卓宝智造科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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