一种表项访问的测试方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种表项访问的测试方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：获取目标表项的表项访问模式，所述表项访问模式至少包括直接表项模式和间接表项模式，所述直接表项模式为通过表项地址进行访问，所述间接表项模式为通过寄存器对表项进行访问；设置地址访问模式，并根据所述地址访问模式构建所述表项访问模式的测试流程，所述地址访问模式至少包括：独热访问模式，所述独热访问模式对目标表项的各独热地址、最小地址和最大地址进行测试；根据所述表项访问模式和所述测试流程对目标表项进行测试。本发明专利技术的技术方案覆盖更多的CPU表项的访问场景，且测试速度快，提高对于直接表项和间接表项在EDA仿真中的正确性验证效果。效果。效果。

【技术实现步骤摘要】
一种表项访问的测试方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片EDA的测试
，尤其涉及一种表项访问的测试方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着芯片EDA仿真测试技术的发展，当前对于表项的验证方式，主要集中于对直接表项的验证，且方式比较简单，以简单的全地址空间的CPU读写验证为主。然而，表项除直接表项外，还包括间接表项，但现有技术中缺少对间接表项的验证方式。
[0003]因此，亟需提供一种技术方案解决上述技术问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种表项访问的测试方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：获取目标表项的表项访问模式，所述表项访问模式至少包括直接表项模式和间接表项模式，所述直接表项模式为通过表项地址进行访问，所述间接表项模式为通过寄存器对表项进行访问；设置地址访问模式，并根据所述地址访问模式构建所述表项访问模式的测试流程，所述地址访问模式至少包括：独热访问模式，所述独热访问模式对目标表项的各独热地址、最小地址和最大地址进行测试；根据所述表项访问本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种表项访问的测试方法，其特征在于，包括：获取目标表项的表项访问模式，所述表项访问模式至少包括直接表项模式和间接表项模式，所述直接表项模式为通过表项地址进行访问，所述间接表项模式为通过寄存器对表项进行访问；设置地址访问模式，并根据所述地址访问模式构建所述表项访问模式的测试流程所述地址访问模式至少包括：独热访问模式，所述独热访问模式对目标表项的各独热地址、最小地址和最大地址进行测试，每个所述独热地址中一个相应的比特位为1，其他比特位为0；根据所述表项访问模式和所述测试流程对目标表项进行测试。2.根据权利要求1所述方法，其特征在于，还包括：设置写入数据样本，所述写入数据样本包括下列之一：全0、全5、全a和全f；根据所述地址访问模式构建所述表项访问模式的测试流程，包括：根据所述地址访问模式和所述写入数据样本构建所述测试流程。3.根据权利要求2所述方法，其特征在于，所述写入数据样本还包括随机值。4.根据权利要求1所述方法，其特征在于，还包括：设置地址顺序模式，所述地址顺序模式至少包括下列模式之一：正序模式、逆序模式和乱序模式；根据所述地址访问模式构建所述表项访问模式的测试流程，包括：根据所述地址访问模式和所述地址顺序模式构建所述测试流程，所述测试流程至少覆盖正序模式、逆序模式和乱序模式。5.根据权利要求2所述方法，其特征在于，当所述访问模式为所述间接表项模式时，根据所述地址访问模式构建所述表项访问模式的测试流程，包括：根据所述地址访问模式、写入数据样本和写掩码样本构建所述测试流程，所述写掩码样本至少包括下列之一：全5、全a和全f。6.根据权利要求5所述方法，其特征在于，所述写掩码样本还包括随机...

【专利技术属性】
技术研发人员：史瑞瑞，
申请(专利权)人：北京物芯科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：