针对寄存器注错单粒子效应仿真的等效遍历故障注入方法技术

本发明专利技术提供了一种针对寄存器注错单粒子效应仿真的等效遍历故障注入方法，用于解决大规模集成电路寄存器单元的单粒子效应仿真中仿真时间消耗与仿真故障覆盖率存在矛盾的技术问题。本方法基于多寄存器单元故障注入模型，采用全部寄存器单元的遍历故障注入文件集合仿真的方式，最大程度地发现待测电路中单粒子效应引起故障的情况；再对非使能寄存器单元和使能寄存器单元的寄存器关联组对应的故障注入文件集合中的无效故障注入文件进行删减，空间维度筛查整个仿真周期非工作寄存器单元以及从时间维度筛查指定寄存器非工作时间，大幅缩减仿真的时间与空间成本，满足大规模宇航集成电路设计阶段的单粒子故障仿真和评估需求。求。求。

【技术实现步骤摘要】
针对寄存器注错单粒子效应仿真的等效遍历故障注入方法


[0001]本专利技术涉及寄存器领域，尤其涉及针对寄存器注错单粒子效应仿真的等效遍历故障注入方法。

技术介绍

[0002]宇航数字集成电路是航天电子系统的重要组成，其抗辐射性能直接影响航天电子系统的稳定性。围绕如何保障宇航数字集成电路的抗辐射能力，工程上广泛采用的加固方法是选用经过抗辐射加固的元器件和系统加固的双重手段来保障系统的抗辐射能力，而加固效果仅能通过试验进行验证，尚无法在设计过程仿真评估。同时，由于受到试验系统能力限制，如：单粒子能量有限，无法穿透堆叠结构芯片、单粒子试验采用的粒子数(1e7)无法确保所有单元被单粒子轰击、单粒子试验获得的数据难以用于故障分析与定位等，目前的试验手段很难全面评价航天系统的单粒子效应加固能力。国内外迫切需要一套面向宇航数字微系统的抗辐射加固性能评价方法。
[0003]仿真技术在集成电路设计领域得到长期稳定的广泛应用，国内外许多学者从不同的抽象层级尝试开展集成电路单粒子效应仿真技术研究。然而，当前无论是动态仿真还是静态仿真都面临着针对大规模电路单粒本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种针对寄存器注错单粒子效应仿真的等效遍历故障注入方法，其特征在于，包括以下步骤：1】构建多寄存器单元故障注入模型1.1】根据待测电路门级网表获取待测电路全部寄存器单元，根据逻辑综合工艺库获取待测电路全部寄存器单元对应的标准单元结构；根据待测电路全部寄存器单元以及待测电路全部寄存器单元对应的标准单元结构分析出待测电路全部寄存器单元前级连线；根据仿真测试程序获取全部仿真周期有效沿；1.2】对于待测电路门级网表中任意寄存器单元前级连线，根据该寄存器单元前级连线名称寻找共用该寄存器前级连线的全部寄存器单元，将这些寄存器单元定义为寄存器关联组；1.3】对于待测电路门级网表中任意寄存器关联组，任意仿真周期有效沿，将寄存器关联组中每个寄存器单元的输入端口视为故障注入位置，将该仿真周期有效沿视为故障注入时刻，根据故障注入位置与故障注入时刻构建多寄存器单元故障注入模型,生成该故障注入位置与该故障注入时刻的寄存器故障注入文件；2】将全部寄存器关联组和全部仿真周期有效沿进行组合，并通过多寄存器单元故障注入模型生成全部寄存器单元的遍历故障注入文件集合；3】删减全部寄存器单元的遍历故障注入文件集合中的无效故障注入文件将待测电路全部寄存器单元分为非使能寄存器单元和使能寄存器单元两类；分别对非使能寄存器单元和使能寄存器单元构建相应的删减规则，以对非使能寄存器单元和使能寄存器单元的寄存器关联组对应的故障注入文件集合中的无效故障注入文件进行删减；4】根据删减后的全部寄存器单元的遍历故障注入文件集合，完成全部寄存器单元的等效遍历故障注入。2.根据权利要求1所述的针对寄存器注错单粒子效应仿真的等效遍历故障注入方法，其特征在于：步骤3】中，所述非使能寄存器单元的删减规则为：通过无故障注入仿真获取待...

【专利技术属性】
技术研发人员：宁嘉豪，徐长卿，刘毅，杨银堂，
申请(专利权)人：西安电子科技大学，
类型：发明
国别省市：