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本发明提供了一种针对寄存器注错单粒子效应仿真的等效遍历故障注入方法，用于解决大规模集成电路寄存器单元的单粒子效应仿真中仿真时间消耗与仿真故障覆盖率存在矛盾的技术问题。本方法基于多寄存器单元故障注入模型，采用全部寄存器单元的遍历故障注入文件集...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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